[發(fā)明專利]用于化學(xué)氣相沉積反應(yīng)器的方法和設(shè)備無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200980126036.1 | 申請(qǐng)日: | 2009-05-29 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102084460A | 公開(公告)日: | 2011-06-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 何甘;雷格·東克;凱思德·索拉布吉;羅杰·哈曼吉;安德瑞斯·海吉杜斯;美利莎·艾契爾;哈利·艾華特;斯圖爾特·索南費(fèi)爾特 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 奧塔裝置公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/205 | 分類號(hào): | H01L21/205 |
| 代理公司: | 北京安信方達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11262 | 代理人: | 武晶晶;鄭霞 |
| 地址: | 美國(guó)加利*** | 國(guó)省代碼: | 美國(guó);US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 化學(xué) 沉積 反應(yīng)器 方法 設(shè)備 | ||
發(fā)明背景
發(fā)明領(lǐng)域
本發(fā)明的實(shí)施方案通常涉及用于氣相沉積的方法及設(shè)備,且更具體地,涉及化學(xué)氣相沉積工藝及室。
相關(guān)技術(shù)的描述
化學(xué)氣相沉積(“CVD”)是薄膜通過蒸氣相化學(xué)藥品的反應(yīng)而在基體(substrate)例如晶片上的沉積。化學(xué)氣相沉積反應(yīng)器用于在基體上沉積具有不同組成的薄膜。CVD在許多活動(dòng)中,例如在半導(dǎo)體、太陽(yáng)能、顯示器及其他電子應(yīng)用的器件制造期間被高度利用。
針對(duì)非常不同的應(yīng)用存在很多類型的CVD反應(yīng)器。舉例來(lái)說(shuō),CVD反應(yīng)器包括大氣壓反應(yīng)器、低壓反應(yīng)器、低溫反應(yīng)器、高溫反應(yīng)器和等離子體增強(qiáng)反應(yīng)器。這些截然不同的設(shè)計(jì)處理在CVD工藝期間所遭遇的種種挑戰(zhàn),例如耗盡效應(yīng)、污染問題和反應(yīng)器維修。
盡管有許多不同的反應(yīng)器設(shè)計(jì),但對(duì)新的和改進(jìn)的CVD反應(yīng)器設(shè)計(jì)仍有持續(xù)的需求。
發(fā)明概述
本發(fā)明的實(shí)施方案通常涉及浮動(dòng)的基體運(yùn)載裝置(levitating?substrate?carrier)或支撐件。在一個(gè)實(shí)施方案中,提供用于支撐及運(yùn)載通過反應(yīng)器的至少一個(gè)基體或晶片的基體運(yùn)載裝置,其包括:基體運(yùn)載裝置主體,其包括上表面和下表面;及至少一個(gè)壓痕袋,其配置在下表面內(nèi)部。在另一實(shí)施方案中,基體運(yùn)載裝置包括:基體運(yùn)載裝置主體,其包括上表面和下表面;及至少兩個(gè)壓痕袋,其配置在下表面內(nèi)部。在另一實(shí)施方案中,基體運(yùn)載裝置包括:基體運(yùn)載裝置主體,其包括上表面和下表面;壓痕區(qū)域,其位于上表面內(nèi)部;及至少兩個(gè)壓痕袋,其配置在下表面內(nèi)部。在另一實(shí)施方案中,基體運(yùn)載裝置包括:基體運(yùn)載裝置主體,其包括上表面和下表面;壓痕區(qū)域,其位于上表面內(nèi)部;及至少兩個(gè)壓痕袋,其配置在下表面內(nèi)部,其中每個(gè)壓痕袋具有矩形幾何形狀及垂直或基本上垂直于下表面延伸的四個(gè)側(cè)壁。在另一實(shí)施方案中,基體運(yùn)載裝置包括:基體運(yùn)載裝置主體,其包括上表面和下表面;及至少兩個(gè)壓痕袋,其配置在下表面內(nèi)部,其中每個(gè)壓痕袋具有矩形幾何形狀及垂直或基本上垂直于下表面延伸的四個(gè)側(cè)壁。
在另一實(shí)施方案中,提供用于支撐及運(yùn)載通過反應(yīng)器的至少一個(gè)基體的基體運(yùn)載裝置,其包括:基體運(yùn)載裝置主體,其包括上表面和下表面;及至少一個(gè)壓痕袋,其配置在下表面內(nèi)部。基體運(yùn)載裝置主體可具有矩形幾何形狀、正方形幾何形狀或另一類型的幾何形狀。在一個(gè)實(shí)例中,基體運(yùn)載裝置主體具有兩個(gè)短側(cè)邊及兩個(gè)長(zhǎng)側(cè)邊,其中這兩個(gè)短側(cè)邊之一為基體運(yùn)載裝置主體的前部,且另一個(gè)短側(cè)邊為基體運(yùn)載裝置主體的后部。基體運(yùn)載裝置主體可包括石墨或由石墨制成。
在一些實(shí)例中,上表面包括配置在其中的至少一個(gè)壓痕區(qū)域。上表面內(nèi)部的壓痕區(qū)域配置為在其上支撐基體。在其他實(shí)例中,上表面可具有至少兩個(gè)、三個(gè)、四個(gè)、八個(gè)、十二個(gè)或更多個(gè)壓痕區(qū)域。在另一實(shí)例中,上表面不具有壓痕區(qū)域。
在另一實(shí)施方案中,下表面可具有配置為接受氣體緩沖的至少兩個(gè)壓痕袋。在一些實(shí)例中,下表面具有一個(gè)、三個(gè)或更多個(gè)壓痕袋。壓痕袋可具有矩形幾何形狀、正方形幾何形狀或另一類型的幾何形狀。每個(gè)壓痕袋通常具有兩個(gè)短側(cè)邊及兩個(gè)長(zhǎng)側(cè)邊。在一個(gè)實(shí)例中,短側(cè)邊及長(zhǎng)側(cè)邊是筆直的。短側(cè)邊及長(zhǎng)側(cè)邊相對(duì)下表面是垂直的。在另一實(shí)例中,這兩個(gè)短側(cè)邊中的至少一個(gè)以第一角度逐漸變細(xì),這兩個(gè)長(zhǎng)側(cè)邊中的至少一個(gè)以第二角度逐漸變細(xì),且第一角度可大于或小于第二角度。在另一實(shí)例中,這兩個(gè)短側(cè)邊中的至少一個(gè)是筆直的,且這兩個(gè)長(zhǎng)側(cè)邊中的至少一個(gè)是逐漸變細(xì)的。在另一實(shí)例中,這兩個(gè)短側(cè)邊中的至少一個(gè)是逐漸變細(xì)的,且這兩個(gè)長(zhǎng)側(cè)邊中的至少一個(gè)是筆直的。在一個(gè)實(shí)施方案中,壓痕袋具有矩形幾何形狀,且壓痕袋配置為接受氣體緩沖。壓痕袋可具有逐漸變細(xì)的側(cè)壁,側(cè)壁遠(yuǎn)離上表面逐漸變細(xì)。
在另一實(shí)施方案中,提供用于在氣相沉積工藝期間使配置在基體運(yùn)載裝置的上表面上的基體浮動(dòng)的方法,其包括:將基體運(yùn)載裝置的下表面暴露于氣流;在基體運(yùn)載裝置下方形成氣體緩沖;在處理室內(nèi)部使基體運(yùn)載裝置浮動(dòng);及在處理室內(nèi)部沿著路徑移動(dòng)基體運(yùn)載裝置。在許多實(shí)例中,沿著該路徑的基體運(yùn)載裝置的移動(dòng)和/或基體運(yùn)載裝置的速度可通過調(diào)節(jié)氣流的流速來(lái)控制。氣體緩沖可在配置于下表面內(nèi)的至少一個(gè)壓痕袋內(nèi)部形成。在一些實(shí)例中,下表面具有至少兩個(gè)壓痕袋。壓痕袋配置為接受氣體緩沖。基體運(yùn)載裝置的上表面包括用于支撐基體的至少一個(gè)壓痕區(qū)域。壓痕袋可具有逐漸變細(xì)的側(cè)壁,側(cè)壁遠(yuǎn)離基體運(yùn)載裝置的上表面逐漸變細(xì)。
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- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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