[發明專利]具有削弱箔層的免疫診斷檢測元件有效
| 申請號: | 200980119020.8 | 申請日: | 2009-03-13 |
| 公開(公告)號: | CN102047125B | 公開(公告)日: | 2017-06-16 |
| 發明(設計)人: | D·J·小莫蘭 | 申請(專利權)人: | 奧索臨床診斷有限公司 |
| 主分類號: | G01N35/10 | 分類號: | G01N35/10 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司72001 | 代理人: | 原紹輝 |
| 地址: | 美國*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 具有 削弱 免疫診斷 檢測 元件 | ||
1.一種免疫診斷檢測設備,包括:
樣本供應器;
培養器;
至少一個檢測元件,包括:
支撐構件;
由所述支撐構件支撐的至少一個檢測柱,所述至少一個檢測柱中的每個含預定量的惰性檢測材料且具有開口;和
包封物,其覆蓋所述至少一個檢測柱的開口;
多個一次性計量尖端構件;和
用于在所述包封物被穿透之前提供預應力于所述包封物上的凹形沖頭,使得所述包封物能夠被所述一次性計量尖端構件的其中之一穿透,
其中,所述凹形沖頭在所述至少一個檢測柱的包含物的正上方接觸所述包封物,并且使由所述至少一個檢測柱的周邊支撐的至少一個包封物部分朝向所述至少一個檢測柱的內部向內變形,但不穿透所述包封物,所述包封物的向內變形的部分形成由所述檢測柱的上部的開口的周邊支撐的削弱碗形部分。
2.如權利要求1所述的設備,其中,用于對所述包封物穿透的所述一次性計量尖端構件附接到喙部,并包括在所述穿透操作之前從所述樣本供應器吸取的一定量的患者樣本。
3.如權利要求1所述的設備,其中,所述包封物是箔包封物。
4.一種使用檢測卡在自動免疫診斷設備中檢測患者樣本的方法,所述方法包括以下步驟:
提供至少一個檢測卡,所述至少一個檢測卡包括:平坦支撐基座;被附接到或一體形成到所述支撐基座的至少一個檢測柱;和覆蓋所述至少一個檢測卡的頂面側和所述至少一個檢測柱的上部分的可刺穿的包封物,所述可刺穿的包封物僅覆蓋所述至少一個檢測柱的內容物;
移動凹形沖頭使其在所述至少一個檢測柱的包含物的正上方接觸可刺穿的包封物,并且使由所述至少一個檢測柱的周邊支撐的至少一個包封物部分朝向所述至少一個檢測柱的內部向內變形,但不穿透所述包封物,其中所述可刺穿的包封物的向內變形的部分形成由所述檢測柱的上部的開口的周邊支撐的削弱碗形部分;
使用一次性的計量尖端構件對所述削弱部分穿透,其中所述一次性的計量尖端構件附接到所述免疫診斷設備的計量機構,所述一次性的計量尖端構件包含一定量的樣本流體;
使所述一次性的計量尖端構件進入所述檢測柱;以及
將所述一次性的計量尖端構件中包含的同樣的流體的至少一部分分配至所述檢測柱中,其中所述碗形部分當被刺穿時形成屏障以防止所述檢測卡的相鄰檢測柱之間的被分配樣本的交叉污染。
5.如權利要求4所述的方法,其中,所述移動凹形沖頭的步驟在所述自動免疫診斷設備中執行,所述自動免疫診斷設備具有所述凹形沖頭和多個一次性的計量尖端構件。
6.如權利要求4所述的方法,其中,所述移動凹形沖頭的步驟在制造檢測卡時執行。
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