[發(fā)明專利]磁探傷方法以及磁探傷裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200980117371.5 | 申請(qǐng)日: | 2009-05-14 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102027364A | 公開(公告)日: | 2011-04-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 鈴間俊之;今西憲治 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 住友金屬工業(yè)株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | G01N27/90 | 分類號(hào): | G01N27/90 |
| 代理公司: | 北京林達(dá)劉知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 劉新宇 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 探傷 方法 以及 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種使用能夠旋轉(zhuǎn)磁場對(duì)存在于被檢查構(gòu)件中的在各個(gè)方向上延伸的缺陷高精確度地進(jìn)行探傷的磁探傷方法以及磁探傷裝置。
背景技術(shù)
以往,作為對(duì)存在于鋼板、鋼管等被檢查構(gòu)件中的缺陷進(jìn)行非破壞性檢測的方法,已知渦流探傷法、漏磁探傷法等磁探傷方法。渦流探傷法是利用以下情況的探傷方法:使交流磁場作用于被檢查構(gòu)件而感應(yīng)出的渦電流由于被檢查構(gòu)件的缺陷而不穩(wěn)定。另外,漏磁探傷法是利用以下情況的探傷方法:在使磁場作用于包括磁性體的被檢查構(gòu)件來進(jìn)行磁化的情況下,當(dāng)存在屏蔽由被檢查構(gòu)件產(chǎn)生的磁通的缺陷時(shí),在該缺陷所存在的部位上磁通泄漏到表面空間。
在上述磁探傷方法中,一般來說,在發(fā)揮作用的磁場的方向與缺陷的延伸方向形成特定的角度的情況下,檢測出的缺陷信號(hào)(利用規(guī)定的檢測傳感器檢測出的探傷信號(hào)中的、從缺陷所存在的部位得到的信號(hào))的振幅最大。例如,漏磁探傷法中的缺陷信號(hào)的振幅在發(fā)揮作用的磁場的方向(被檢查構(gòu)件中的磁通的方向)與缺陷的延伸方向正交的情況下最大,隨著磁場的方向偏離與缺陷的延伸方向正交的方向而降低。
因此,提出了以下磁探傷方法:使磁場的方向時(shí)刻變化的旋轉(zhuǎn)磁場作用于被檢查構(gòu)件,根據(jù)由該旋轉(zhuǎn)磁場產(chǎn)生的探傷信號(hào),檢測在各個(gè)方向上延伸的缺陷(例如參照日本特開2002-131285號(hào)公報(bào)),以使缺陷的延伸方向?yàn)槟膫€(gè)方向都能夠進(jìn)行檢測(得到可檢測的振幅的缺陷信號(hào))。
例如使用圖1示出的勵(lì)磁線圈來生成上述旋轉(zhuǎn)磁場。即,圖1示出的勵(lì)磁線圈10具備兩個(gè)勵(lì)磁線圈(X方向勵(lì)磁線圈1和Y方向勵(lì)磁線圈2),這兩個(gè)勵(lì)磁線圈被配置成導(dǎo)線的卷繞方向相互正交(因而,所生成的磁場相互正交)并且中心位置相互一致。然后,將向各勵(lì)磁線圈1、2通的交流的勵(lì)磁電流的相位移相90°(例如,向X方向勵(lì)磁線圈1通余弦波的勵(lì)磁電流,向Y方向勵(lì)磁線圈2通正弦波的勵(lì)磁電流),由此由各勵(lì)磁線圈1、2生成的磁場的合成磁場以各勵(lì)磁線圈1、2的中心位置為中心而進(jìn)行360°旋轉(zhuǎn)(圖1示出的角度在0~360°之間進(jìn)行變化)。由此,能夠檢測在各個(gè)方向(圖1示出的角度θ為0~360°)上延伸的缺陷。
另外,一般來說,在要檢測的信號(hào)(在磁探傷方法的情況下為缺陷信號(hào))相對(duì)于由包括噪聲在內(nèi)的各種頻率成分構(gòu)成的信號(hào)具有特定頻率成分的情況下,大多使用同步檢波以提取具有該頻率成分的信號(hào)。
在不利用旋轉(zhuǎn)磁場的以往的磁探傷方法中,缺陷信號(hào)與交流的勵(lì)磁電流同步。因此,將勵(lì)磁電流作為參照信號(hào)來對(duì)探傷信號(hào)進(jìn)行同步檢波,提取與勵(lì)磁電流同步的信號(hào),由此能夠以較高的S/N比從探傷信號(hào)中提取缺陷信號(hào)。并且,由于提高了缺陷信號(hào)與不與勵(lì)磁電流同步而隨機(jī)產(chǎn)生的噪聲之間的比率(S/N比),因此通常利用低通濾波器來對(duì)通過同步檢波提取出的交流信號(hào)進(jìn)行平滑化處理。優(yōu)選通過調(diào)整低通濾波器的時(shí)間常數(shù),以相當(dāng)于參照信號(hào)(勵(lì)磁電流)的2~3個(gè)周期的區(qū)域?yàn)閱挝粎^(qū)域而在每個(gè)單位區(qū)域內(nèi)對(duì)通過同步檢波提取出的交流信號(hào)進(jìn)行平滑化處理。
另外,在渦流探傷法中,通常使用相位分析法來作為使用對(duì)探傷信號(hào)進(jìn)行同步檢波而得到的信號(hào)來提高缺陷檢測能力的方法。該相位分析法是以下方法:將利用參照信號(hào)對(duì)探傷信號(hào)進(jìn)行同步檢波而得到的信號(hào)設(shè)定為X信號(hào),將使參照信號(hào)的相位延遲90°來對(duì)探傷信號(hào)進(jìn)行同步檢波而得到的信號(hào)設(shè)定為Y信號(hào)。然后,以X信號(hào)為X軸成分,以Y信號(hào)為Y軸成分,在XY坐標(biāo)系的二維平面上對(duì)信號(hào)進(jìn)行矢量顯示(將矢量前端的軌跡稱為利薩如波形),由此測量探傷信號(hào)相對(duì)于參照信號(hào)存在多大的相位延遲。例如,在將參照信號(hào)和相同相位的探傷信號(hào)進(jìn)行同步檢波的情況下,不存在相位延遲,因此得到圖2的(a)示出的沿著X軸的利薩如波形。更具體地說,在缺陷信號(hào)的情況下,檢測傳感器經(jīng)過缺陷的正上面時(shí)相位反轉(zhuǎn)180°,因此得到沿著0°方向(X軸的正方向)和180°方向(X軸的負(fù)方向)的利薩如波形。同樣地,對(duì)于相位相對(duì)于參照信號(hào)延遲45°的探傷信號(hào),得到圖2的(b)示出的沿著45°方向和225°方向的利薩如波形,對(duì)于相位相對(duì)于參照信號(hào)延遲90°的探傷信號(hào),得到圖2的(c)示出的沿著90°方向和270°方向的利薩如波形。
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