[發(fā)明專利]磁探傷方法以及磁探傷裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200980117371.5 | 申請(qǐng)日: | 2009-05-14 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102027364A | 公開(公告)日: | 2011-04-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 鈴間俊之;今西憲治 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 住友金屬工業(yè)株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | G01N27/90 | 分類號(hào): | G01N27/90 |
| 代理公司: | 北京林達(dá)劉知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 劉新宇 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 探傷 方法 以及 裝置 | ||
1.一種磁探傷方法,使旋轉(zhuǎn)磁場(chǎng)作用于被檢查構(gòu)件,根據(jù)由該旋轉(zhuǎn)磁場(chǎng)產(chǎn)生的探傷信號(hào)來檢測(cè)缺陷,該磁探傷方法的特征在于,包括以下步驟:
作為用于激勵(lì)上述旋轉(zhuǎn)磁場(chǎng)的勵(lì)磁電流,使用將第一電流與頻率低于該第一電流的第二電流進(jìn)行重疊而得到的交流電流,將上述第一電流作為參照信號(hào)對(duì)上述探傷信號(hào)進(jìn)行同步檢波之后,將上述第二電流作為參照信號(hào)來進(jìn)行同步檢波,由此提取缺陷候選信號(hào);
顯示探傷圖像,該探傷圖像包括與被檢查構(gòu)件的各部位對(duì)應(yīng)的多個(gè)像素,各像素具有與上述各部位的缺陷候選信號(hào)的強(qiáng)度對(duì)應(yīng)的濃度,該探傷圖像中能夠識(shí)別上述各部位的缺陷候選信號(hào)的相位;以及
根據(jù)所顯示的上述探傷圖像來檢測(cè)缺陷。
2.一種磁探傷方法,使旋轉(zhuǎn)磁場(chǎng)作用于被檢查構(gòu)件,根據(jù)由該旋轉(zhuǎn)磁場(chǎng)產(chǎn)生的探傷信號(hào)來檢測(cè)缺陷,該磁探傷方法的特征在于,包括以下步驟:
作為用于激勵(lì)上述旋轉(zhuǎn)磁場(chǎng)的勵(lì)磁電流,使用將第一電流與頻率低于該第一電流的第二電流進(jìn)行重疊而得到的交流電流,將上述第一電流作為參照信號(hào)對(duì)上述探傷信號(hào)進(jìn)行同步檢波之后,將上述第二電流作為參照信號(hào)來進(jìn)行同步檢波,由此提取缺陷候選信號(hào);
以規(guī)定的閾值使上述缺陷候選信號(hào)二值化,由此檢測(cè)被檢查構(gòu)件中的缺陷候選部位;
與檢測(cè)出的上述缺陷候選部位的缺陷候選信號(hào)的相位相應(yīng)地形成多個(gè)探傷圖像,該多個(gè)探傷圖像分別包括與被檢查構(gòu)件的各部位對(duì)應(yīng)的多個(gè)像素,與上述缺陷候選部位對(duì)應(yīng)的像素具有能夠相對(duì)其它像素進(jìn)行識(shí)別的濃度;
分別獨(dú)立地對(duì)上述多個(gè)探傷圖像中的每一個(gè)探傷圖像實(shí)施圖像處理,由此針對(duì)與存在于各探傷圖像中的缺陷候選部位的缺陷候選信號(hào)的相位相應(yīng)的方向評(píng)價(jià)該缺陷候選部位的連續(xù)性;以及
根據(jù)上述缺陷候選部位的連續(xù)性來檢測(cè)缺陷。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或者2所述的磁探傷方法,其特征在于,
上述第一電流和上述第二電流的頻率滿足以下式(1),
第一電流的頻率/第二電流的頻率≥8…(1)。
4.一種磁探傷裝置,其特征在于,具備:
磁化單元,其使旋轉(zhuǎn)磁場(chǎng)作用于被檢查構(gòu)件;
檢測(cè)單元,其對(duì)由上述旋轉(zhuǎn)磁場(chǎng)產(chǎn)生的探傷信號(hào)進(jìn)行檢測(cè);以及
信號(hào)處理單元,其對(duì)上述探傷信號(hào)實(shí)施信號(hào)處理,
其中,上述磁化單元具備勵(lì)磁線圈,該勵(lì)磁線圈流通交流電流作為勵(lì)磁電流,上述交流電流是將第一電流與頻率低于該第一電流的第二電流進(jìn)行重疊而得到的,
上述信號(hào)處理單元具備:
第一同步檢波單元,其將上述第一電流作為參照信號(hào)對(duì)由上述檢測(cè)單元檢測(cè)出的探傷信號(hào)進(jìn)行同步檢波;
第二同步檢波單元,其將上述第二電流作為參照信號(hào)對(duì)該第一同步檢波單元的輸出信號(hào)進(jìn)行同步檢波來提取缺陷候選信號(hào);以及
探傷圖像顯示單元,其顯示探傷圖像,該探傷圖像包括與被檢查構(gòu)件的各部位對(duì)應(yīng)的多個(gè)像素,各像素具有與上述各部位的缺陷候選信號(hào)的強(qiáng)度對(duì)應(yīng)的濃度,該探傷圖像中能夠識(shí)別上述各部位的缺陷候選信號(hào)的相位。
5.一種磁探傷裝置,其特征在于,具備:
磁化單元,其使旋轉(zhuǎn)磁場(chǎng)作用于被檢查構(gòu)件;
檢測(cè)單元,其對(duì)由上述旋轉(zhuǎn)磁場(chǎng)產(chǎn)生的探傷信號(hào)進(jìn)行檢測(cè);以及
信號(hào)處理單元,其對(duì)上述探傷信號(hào)實(shí)施信號(hào)處理,
其中,上述磁化單元具備勵(lì)磁線圈,該勵(lì)磁線圈流通交流電流作為勵(lì)磁電流,上述交流電流是將第一電流與頻率低于該第一電流的第二電流進(jìn)行重疊而得到的,
上述信號(hào)處理單元具備:
第一同步檢波單元,其將上述第一電流作為參照信號(hào)對(duì)由上述檢測(cè)單元檢測(cè)出的探傷信號(hào)進(jìn)行同步檢波;
第二同步檢波單元,其將上述第二電流作為參照信號(hào)對(duì)該第一同步檢波單元的輸出信號(hào)進(jìn)行同步檢波來提取缺陷候選信號(hào);
缺陷候選部位檢測(cè)單元,其根據(jù)規(guī)定的閾值將上述缺陷候選信號(hào)二值化,由此檢測(cè)被檢查構(gòu)件中的缺陷候選部位;
探傷圖像形成單元,其與檢測(cè)出的上述缺陷候選部位的缺陷候選信號(hào)的相位相應(yīng)地形成多個(gè)探傷圖像,該多個(gè)探傷圖像分別包括與被檢查構(gòu)件的各部位對(duì)應(yīng)的多個(gè)像素,與上述缺陷候選部位對(duì)應(yīng)的像素具有能夠相對(duì)其它像素進(jìn)行識(shí)別的濃度;
連續(xù)性評(píng)價(jià)單元,其分別獨(dú)立地對(duì)上述多個(gè)探傷圖像中的每一個(gè)探傷圖像實(shí)施圖像處理,由此針對(duì)與存在于各探傷圖像中的缺陷候選部位的缺陷候選信號(hào)的相位相應(yīng)的方向評(píng)價(jià)該缺陷候選部位的連續(xù)性;以及
缺陷檢測(cè)單元,其根據(jù)上述缺陷候選部位的連續(xù)性來檢測(cè)缺陷。
6.根據(jù)權(quán)利要求4或者5所述的磁探傷裝置,其特征在于,
上述第一電流和上述第二電流的頻率滿足以下式(1),第一電流的頻率/第二電流的頻率≥8…(1)。
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