[發明專利]金屬材料中微粒的粒度分布測定方法

有效

• 申請號: 200980114543.3
• 申請日: 2009-04-23
• 公開（公告）號: CN102016543A
• 公開（公告）日: 2011-04-13
• 發明（設計）人: 水上和實;村上健一;新井聰;森重宣鄉;久保祐治;本間穗高;難波英一
• 申請（專利權）人: 新日本制鐵株式會社
• 主分類號: G01N15/02
• 分類號: G01N15/02
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 陳建全

1.一種金屬材料中微粒的粒度分布測定方法，其特征在于，具備以下工序：

采用微粒提取手段在溶液中分離提取測定對象的金屬材料中的微粒的工序；

使該分離提取的微粒分散在溶劑中而制作分散液，采用場流分離裝置將該分散液按每個規定尺寸分離成多個微粒分散溶液的工序；以及

對該按每個規定尺寸分離的各微粒分散溶液照射激光，從其反射強度對角度的依存性測量微粒尺寸的絕對值，同時從反射強度的強弱測量個數密度的工序。

2.根據權利要求1所述的金屬材料中微粒的粒度分布測定方法，其特征在于：所述微粒的尺寸為20μm以下。

3.根據權利要求1所述的金屬材料中微粒的粒度分布測定方法，其特征在于：所述溶劑為有機溶劑。

4.根據權利要求1所述的金屬材料中微粒的粒度分布測定方法，其特征在于：采用含有表面活性劑的溶劑作為所述溶劑。

5.根據權利要求1所述的金屬材料中微粒的粒度分布測定方法，其特征在于：利用非水溶劑系電解法進行所述微粒的分離提取。

6.根據權利要求5所述的金屬材料中微粒的粒度分布測定方法，其特征在于：所述非水溶劑系電解法是非水溶劑系恒電位電解法。

7.根據權利要求5所述的金屬材料中微粒的粒度分布測定方法，其特征在于：采用含有表面活性劑的非水溶劑系電解液進行利用所述非水溶劑系電解法的微粒的分離提取。

8.根據權利要求1所述的金屬材料中微粒的粒度分布測定方法，其特征在于：在所述測量個數密度的工序之后，還具有進行所述微粒的組成分析的工序。

9.根據權利要求1所述的金屬材料中微粒的粒度分布測定方法，其特征在于：在所述測量個數密度的工序之后，還具有進行所述微粒的晶體結構解析的工序。