[發(fā)明專利]帶電粒子束用靜電透鏡無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200980110865.0 | 申請(qǐng)日: | 2009-03-23 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101981650A | 公開(公告)日: | 2011-02-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 小野口彰;大堀謙一;松本浩一;粟田正吾;大橋聰史 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 株式會(huì)社堀場(chǎng)制作所 |
| 主分類號(hào): | H01J37/12 | 分類號(hào): | H01J37/12 |
| 代理公司: | 北京信慧永光知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11290 | 代理人: | 李雪春;武玉琴 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 帶電 粒子束 靜電透鏡 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種適用于SEM(掃描電子顯微鏡)或離子槍等的帶電粒子聚束用的靜電透鏡。
背景技術(shù)
以往,公知的用于SEM或離子槍等的電子透鏡是磁透鏡和專利文獻(xiàn)1、2(專利文獻(xiàn)1:日本專利公開公報(bào)特開平10-241616號(hào)、專利文獻(xiàn)2:日本專利公開公報(bào)特開2000-340152號(hào))所示的靜電透鏡。前者的磁透鏡雖然能減小像差,但由于受到磁極形狀的限制,所以難以小型化或輕便化。另一方面,后者的靜電透鏡雖然在小型化或輕便化方面具有優(yōu)勢(shì),但減速型難以減小像差,而加速型由于必須向電極施加高電壓,所以不容易進(jìn)行耐壓設(shè)計(jì)。
例如,在以往的三電極減速型單電位靜電透鏡的情況下,如果對(duì)焦距F進(jìn)行透鏡設(shè)計(jì),使球面像差系數(shù)CS、色像差系數(shù)CC等為最小,則可以得到CS=7.1×F。并且,如果電子的加速電壓VA=5kV、焦距F=5mm、圖9中的各貫通孔的半徑R=4.54mm、電極之間的間隔s=中間電極厚度t=2.27mm,則在透鏡電極電壓為-8250V條件下,可以得到CS=35.54mm。
如果將該值(CS=35.54mm)與孔徑為10mm、磁極之間間隙為5mm的同一焦距的強(qiáng)勵(lì)磁磁場(chǎng)型透鏡的CS=4.3mm進(jìn)行比較,則減速型靜電透鏡的球面像差系數(shù)為磁場(chǎng)型透鏡的球面像差系數(shù)的大約8.3倍。
減速型靜電透鏡的球面像差系數(shù)變大是由于:當(dāng)與中心軸保持距離r0并行入射的電子依次通過入射側(cè)電極V1、中間電極V2和出射側(cè)電極V3時(shí),受到這些電極的作用(電場(chǎng)力),如圖9所示,在入射側(cè)電極v1和中間電極v2之間,電子e向離開中心軸m的方向前進(jìn),在離開中心軸m的距離r為最大之后,一邊描繪朝向中心軸m或者是接近中心軸m的山形軌跡,一邊進(jìn)行聚束。從以下算式(1)所確定的球面像差系數(shù)Cs的計(jì)算公式中,也可以看出如果r變大則球面像差系數(shù)Cs也變大。
算式(1)
其中,F(xiàn)表示焦距、z表示中心軸上的距離、Vz表示中心軸上的電位、Vz′表示Vz對(duì)z的微分值、′符號(hào)表示對(duì)z的微分值、r表示從帶電粒子束到中心軸的距離并且是z的函數(shù)、r′表示r對(duì)z的微分值。
但是,如上所述,以往的減速型靜電透鏡的球面像差系數(shù)是磁場(chǎng)型透鏡的球面像差系數(shù)的大約8.3倍,不能得到與磁場(chǎng)型透鏡相比的透鏡性能。
另一方面,如果采用使提供給所述中間電極的電壓為正電壓的加速型靜電透鏡,則雖然其軌道沿透鏡的整個(gè)范圍與中心軸的距離一邊逐漸變小一邊聚束,可以使透鏡的球面像差系數(shù)減小,但是為了得到這種特性,例如,在使50kV的電子聚焦的情況下,需要向中間電極施加大約10倍的電壓(500kV)等,存在超出實(shí)用范圍的問題。
發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上問題,本發(fā)明的發(fā)明者著眼于帶電粒子的軌道并對(duì)其進(jìn)行控制,從而非常有效地降低了透鏡的球面像差系數(shù)或施加電壓,目的在于提供一種帶電粒子束用靜電透鏡,通過最大限度地利用靜電透鏡具有緊湊性或輕便性的優(yōu)點(diǎn),并通過解決像差性能或施加電壓的問題,使得所述帶電粒子束用靜電透鏡即使作為對(duì)物透鏡等也能夠?qū)嵱没M(jìn)而實(shí)現(xiàn)具有把所述帶電粒子束用靜電透鏡作為對(duì)物透鏡的小型、輕便的SEM等裝置。
即,本發(fā)明的帶電粒子束用靜電透鏡具有并排設(shè)置在中心軸上的多個(gè)電極,其特征在于,利用所述電極中的設(shè)置在帶電粒子入射側(cè)的多個(gè)電極,形成有第一電場(chǎng)區(qū)域和第二電場(chǎng)區(qū)域,所述第一電場(chǎng)區(qū)域使帶電粒子的軌道半徑縮小,以便不會(huì)在中途超出作為入射時(shí)軌道半徑的初始軌道半徑,所述第二電場(chǎng)區(qū)域向通過了所述第一電場(chǎng)區(qū)域的帶電粒子提供朝向與所述中心軸平行方向前進(jìn)的力,并且利用所述電極中的設(shè)置在出射側(cè)的多個(gè)電極形成有第三電場(chǎng)區(qū)域,所述第三電場(chǎng)區(qū)域使帶電粒子的軌道半徑不會(huì)在中途超出所述初始軌道半徑,且使帶電粒子的軌道彎曲,并以比所述帶電粒子從所述第二電場(chǎng)區(qū)域出射時(shí)的相對(duì)于中心軸的軌道角度大的角度,使所述帶電粒子的軌道與中心軸相交。
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