[發(fā)明專利]絕緣被覆導(dǎo)體檢查方法及裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200980101622.0
• 申請日: 2009-04-27
• 公開（公告）號: CN101910853A
• 公開（公告）日: 2010-12-08
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 木村英明
• 申請（專利權(quán)）人: 愛信艾達(dá)株式會社
• 主分類號: G01R31/12
• 分類號: G01R31/12;G01R31/06;G01R31/34
• 代理公司: 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227
• 代理人: 李偉;閻文君

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及在不破壞的狀態(tài)下檢查電機(jī)用途等的被形成線圈的狀態(tài)下的絕緣被覆導(dǎo)體的電絕緣特性的方法。

背景技術(shù)

例如，在電機(jī)等具有線圈的產(chǎn)品中，對于構(gòu)成線圈的各絕緣被覆導(dǎo)體，希望檢查是否因絕緣被覆膜的破損等使電絕緣性能降低。以往，作為此種檢查，主流是如下的所謂破壞檢查，即，從多個產(chǎn)品中，以規(guī)定的比例抽取進(jìn)行試驗(yàn)的產(chǎn)品而檢查，其后將之廢棄。針對于此，一直以來，提出了各種非破壞檢查方法。

例如，專利文獻(xiàn)1中記載了低壓旋轉(zhuǎn)機(jī)械絕緣缺陷的非破壞檢查方法，該方法是如下的方法，即，使真空容器內(nèi)減壓，并且向容器內(nèi)導(dǎo)入揮發(fā)性氣體，對線圈與導(dǎo)電性檢測用電極之間通電，施加直流電流，使在線圈的損傷的部分與導(dǎo)電性檢測用電極之間產(chǎn)生的電弧著色并利用目視來檢查該電弧。

另外，專利文獻(xiàn)2中記載的非破壞絕緣試驗(yàn)裝置是如下的裝置，即，在真空容器內(nèi)的減壓下向線圈與定子鐵心之間施加電壓，檢測電暈放電電荷量并計數(shù)放電頻度，進(jìn)行良好與否的判定。具體的良好與否判定方法是，將施加電壓范圍設(shè)為500V～800V，將約1000×10³pC(皮庫)以上的電荷的放電的頻度為20pps以上的情況判定為是次品。

專利文獻(xiàn)1：日本特公平5-49065號公報

專利文獻(xiàn)2：日本特開平7-128392號公報

但是，上述專利文獻(xiàn)1的方法雖然是非破壞檢查方法，然而在作為揮發(fā)性氣體使用所列舉的水銀或萘的情況下，由于在試驗(yàn)后將它們除去的作業(yè)在事實(shí)上是做不到的，因此存在不得不將用于試驗(yàn)的產(chǎn)品廢棄的事實(shí)。

另外，由于是目視檢查，因此還存在遺漏重要的缺陷的可能性。

另外，上述專利文獻(xiàn)2的方法中明確記載，對遠(yuǎn)離定子鐵心的位置的線圈的檢查是做不到的。由此，在專利文獻(xiàn)2的情況下，例如在線圈末端部，對從定子鐵心離開一定程度距離的端部的檢查是做不到的，只能檢查從鐵心處上升的上升部附近的部分。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明是鑒于該以往的問題點(diǎn)而完成的，其目的在于提供如下的絕緣被覆導(dǎo)體檢查方法及裝置，即，與以往相比檢查精度高，并且例如在進(jìn)行定子的檢查的情況下，可以即使在距離定子鐵心最遠(yuǎn)的部位也能進(jìn)行檢查。

第一發(fā)明提供一種絕緣被覆導(dǎo)體檢查方法，用于檢查由絕緣被覆導(dǎo)體纏繞而形成的線圈中的該絕緣被覆導(dǎo)體的電絕緣特性，其特征在于，

將上述線圈配置于試驗(yàn)容器內(nèi)，

使該試驗(yàn)容器內(nèi)減壓，

在與上述線圈之間空出間隙地使電極對峙，

向該電極與上述線圈之間施加交流電壓，

測定因交流電壓的施加在上述線圈與上述電極之間產(chǎn)生放電的產(chǎn)生頻度，

在放電的產(chǎn)生頻度大于基準(zhǔn)產(chǎn)生頻度的情況下判定為是電絕緣性優(yōu)異的合格品，在小于的情況下判定為是電絕緣性存在不良的次品。

在本發(fā)明的絕緣被覆導(dǎo)體檢查方法中，如上所述，使用與線圈空出間隙地對峙的電極，在減壓的狀態(tài)下向該線圈與電極之間施加交流電壓。此外，最應(yīng)關(guān)注的方面在于，積極地采用了如下的以往沒有的特殊判定方法，即，以此種電壓施加方法作為前提，在放電的產(chǎn)生頻度大于基準(zhǔn)產(chǎn)生頻度的情況下，判定為是電絕緣性優(yōu)異的合格品，在小于的情況下判定為是電絕緣性不良的次品。

即，在上述的以往技術(shù)等中，將引起了以絕緣被覆導(dǎo)體中的絕緣被覆膜的損傷部分為基點(diǎn)產(chǎn)生放電的情況、或者規(guī)定的電荷量的放電的頻度高的情況判斷為不良。與之不同，本發(fā)明的檢查方法以上述特定的電壓施加方法為前提，將放電的產(chǎn)生頻度低的情況判斷為是電絕緣性存在不良。

雖然對本發(fā)明在后述的實(shí)施例中也會詳細(xì)說明，然而可以認(rèn)為，根據(jù)如下所示的理由得到優(yōu)越性。

即發(fā)現(xiàn)，如果對線圈與電極之間施加規(guī)定的交流電壓，則從絕緣被覆膜健全并具有通常的電絕緣性的部分(健全部)，也會產(chǎn)生很多比較小的電荷量的放電。然而，如果在絕緣被覆膜中存在損傷等，存在電絕緣性極差的部位(不良部)，就會從該處產(chǎn)生比較大的電荷量的放電。在存在此種不良部的情況下，來自健全部的比較小的電荷量的放電頻度反而大幅度減少。

這里，對于電絕緣性的判定，雖然也可以將比較大的電荷量的放電產(chǎn)生頻度高的情況看作不良，然而與之相比，如下的做法判定精度更高，即，將規(guī)定的電荷量或者測定出的全部范圍的電荷量的放電的產(chǎn)生頻度低的情況判定為是電絕緣性存在不良。本發(fā)明采用了該后者的方法。