[實用新型]單晶硅端面垂直測試裝置有效
| 申請號： | 200920254987.4 | 申請日： | 2009-12-14 |
| 公開（公告）號： | CN201607205U | 公開（公告）日： | 2010-10-13 |
| 發明（設計）人： | 吳濤;呂思迦;李雙凱 | 申請（專利權）人： | 晶龍實業集團有限公司;寧晉晶峰電子材料有限公司 |
| 主分類號： | G01B5/245 | 分類號： | G01B5/245 |
| 代理公司： | 石家莊國為知識產權事務所 13120 | 代理人： | 李榮文 |
| 地址： | 055550 *** | 國省代碼： | 河北;13 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 單晶硅 端面 垂直 測試 裝置 | ||
【權利要求書】：
1.一種單晶硅端面垂直測試裝置，其特征在于：測試端面(1)和底座(3)通過連桿(2)連接，測試端面(1)的垂線平行于底座(3)所在平面。
2.根據權利要求1所述的單晶硅端面垂直測試裝置，其特征在于所述測試端面(1)為圓盤狀。
3.根據權利要求1或2所述的單晶硅端面垂直測試裝置，其特征在于所述測試端面(1)上至少設有一個通孔(4)。
4.根據權利要求1所述的單晶硅端面垂直測試裝置，其特征在于所述該裝置由不銹鋼焊接而成。
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