[實用新型]芯片測試夾具

有效

• 申請號: 200920232730.9
• 申請日: 2009-09-09
• 公開（公告）號: CN201548571U
• 公開（公告）日: 2010-08-11
• 發明（設計）人: 葉本銀
• 申請（專利權）人: 蘇州瀚瑞微電子有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種芯片測試夾具，用于固定待測解封裝芯片，該芯片測試夾具包括一底座，其上設有容納槽，用于放置解封裝芯片，其特征在于：該夾具還包括一電路板和一上蓋，其中，所述電路板上設有磁鐵裝置；而所述上蓋主體上一端設有一測試孔，另一端設有與電路板上的磁鐵裝置相對應的吸鐵裝置，當該上蓋主體扣合被測試的解封裝芯片時，通過該測試孔可固定該解封裝芯片，且使其內部結構得以暴露。

2.如權利要求1所述的芯片測試夾具，其特征在于：所述測試孔分為上、下兩部分，其中，下部分設有一大于上部分通孔的凸臺。

3.如權利要求2所述的芯片測試夾具，其特征在于：所述測試孔下部分的固定凸臺正對著底座中的容納槽。

4.如權利要求1所述的芯片測試夾具，其特征在于：所述上蓋設有一觀孔槽，所述測試孔設于該觀孔槽上。

5.如權利要求1所述的芯片測試夾具，其特征在于：所述磁鐵裝置是由在電路板上的一通孔內裝設一磁鐵石構成。

6.如權利要求1所述的芯片測試夾具，其特征在于：所述吸鐵裝置是由上蓋一端的通孔內裝設一磁鐵石構成。

7.如權利要求1所述的芯片測試夾具，其特征在于：所述上蓋主體向電路板扣合時，其上的磁鐵裝置和吸鐵裝置通過互相吸引而使其扣合。

8.如權利要求1或6所述的芯片測試夾具，其特征在于：所述上蓋的吸鐵裝置位于該上蓋的把手部附近。

9.如權利要求1所述的芯片測試夾具，其特征在于：所述底座設于一PCB板上，該PCB板固定在所述電路板內。

10.如權利要求9所述的芯片測試夾具，其特征在于：所述PCB板上設有接焊在其上的若干排針。