[實用新型]溫度傳感器最終測試用溫度校準系統無效

申請號：	200920214866.7	申請日：	2009-12-31
公開（公告）號：	CN201731957U	公開（公告）日：	2011-02-02
發明（設計）人：	鄒峰;陳婷;繆小波;陳濤	申請（專利權）人：	上海華虹NEC電子有限公司
主分類號：	G01K15/00	分類號：	G01K15/00
代理公司：	上海浦一知識產權代理有限公司 31211	代理人：	顧繼光
地址：	201206 上***	國省代碼：	上海;31
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摘要：
搜索關鍵詞：	溫度傳感器最終測試溫度校準系統
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【權利要求書】：

1.一種溫度傳感器最終測試用溫度校準系統，其特征在于，包括測試機、待測芯片以及參考芯片，所述測試機分別連接所述待測芯片和所述參考芯片，所述參考芯片設置在所述待測芯片附近，用來采集所述待測芯片附近的溫度信息，并將該溫度信息發送給所述測試機，所述測試機還接收所述待測芯片采集的溫度信息，并將待測芯片的所采集的溫度信息校準到與所述參考芯片一致。

2.根據權利要求1所述的溫度傳感器最終測試用溫度校準系統，其特征在于，所述參考芯片為一個。

3.根據權利要求1所述的溫度傳感器最終測試用溫度校準系統，其特征在于，所述參考芯片為多個。

4.根據權利要求3所述的溫度傳感器最終測試用溫度校準系統，其特征在于，每個參考芯片上包括有多個測試模式以及溫度測試選通用地址管腳。?

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