[實(shí)用新型]一種封裝芯片開(kāi)蓋裝置無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200920213712.6 | 申請(qǐng)日: | 2009-11-17 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN201522997U | 公開(kāi)(公告)日: | 2010-07-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 曾元宏 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 宜碩科技(上海)有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/00 | 分類號(hào): | H01L21/00 |
| 代理公司: | 上海唯源專利代理有限公司 31229 | 代理人: | 曾耀先 |
| 地址: | 201103 上海市*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 封裝 芯片 裝置 | ||
1.一種封裝芯片開(kāi)蓋裝置,其特征在于,包括:
一開(kāi)蓋機(jī)臺(tái),其又進(jìn)一步包括一固定架、多個(gè)墊片以及一酸蝕腔,墊片以芯片為中心相互圍繞,并在中間形成用于注入以及排放藥劑的該酸蝕腔,該固定架設(shè)置在該墊片的上端,芯片倒置固定在該固定架中;
一平底鉆頭,其設(shè)置在該開(kāi)蓋機(jī)臺(tái)上,且該平底鉆頭的底面尺寸與芯片的尺寸相對(duì)應(yīng)。
2.如權(quán)利要求1所述的封裝芯片開(kāi)蓋裝置,其特征在于,該平底鉆頭底面呈平面。
3.如權(quán)利要求1所述的封裝芯片開(kāi)蓋裝置,其特征在于,該酸蝕腔包括一入液口、多個(gè)排液口以及多個(gè)阻擋塊,該入液口設(shè)置在該酸蝕腔的中間,該排液口設(shè)置在該酸蝕腔的四周,該入液口與該排液口之間通過(guò)該阻擋塊互相隔離。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





