[實(shí)用新型]電子及電路板微測(cè)檢測(cè)裝置

無效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200920132500.5
• 申請(qǐng)日: 2009-06-08
• 公開（公告）號(hào): CN201421489Y
• 公開（公告）日: 2010-03-10
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王云階
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 王云階
• 主分類號(hào): G01R31/28
• 分類號(hào): G01R31/28
• 代理公司: 深圳市中知專利商標(biāo)代理有限公司
• 代理人: 宋湘紅

1.一種電子及電路板微測(cè)檢測(cè)裝置，包括設(shè)有若干插孔的絕緣探測(cè)板及若干置于插孔中的探針組件和導(dǎo)線，還包括轉(zhuǎn)接插座，導(dǎo)線的末端部分與轉(zhuǎn)接插座上的接線柱連接，其特征在于：所述探測(cè)板由設(shè)有若干通孔的上針盤、彈簧盤、下針盤和底座上下依次疊加固定而成，它們的通孔上下對(duì)應(yīng)后構(gòu)成插孔，所述上針盤、下針盤分別包括兩或多層板，在每個(gè)針盤還設(shè)有用于卡住探針的絕緣彈力布，它被壓于上下兩層板之間，每個(gè)探針組件包括第一探針、彈簧和第二探針，它們分別位于上針盤、彈簧盤、下針盤的通孔內(nèi)并依次上下對(duì)應(yīng)接觸，所述導(dǎo)線為帶絕緣層的導(dǎo)線，其前端部分固定于底座的通孔中并且與第二探針的尾端對(duì)應(yīng)接觸，在同一個(gè)探針組件中，第一探針采用直針、粗身針或大頭針，第二探針采用直針、粗身針或大頭針，不同插孔的探針組件相同或不同。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子及電路板微測(cè)檢測(cè)裝置，其特征在于：所述導(dǎo)線的前端部分用粘膠固定在底座的通孔中，并且導(dǎo)線的頂端不低于底座的通孔頂面。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電子及電路板微測(cè)檢測(cè)裝置，其特征在于：所述導(dǎo)線的前端露出于底座的通孔之外，并且其外徑大于底座通孔的直徑。

4.根據(jù)權(quán)利要求1或2或3所述的電子及電路板檢測(cè)裝置，其特征在于：在所述上針盤的頂面還設(shè)有一層垂直導(dǎo)電膜。