[實用新型]晶片測試載架無效
| 申請號： | 200920104868.0 | 申請日： | 2009-01-09 |
| 公開（公告）號： | CN201359612Y | 公開（公告）日： | 2009-12-09 |
| 發明（設計）人： | 胡德良;薛毓虎;周云青;張正棟 | 申請（專利權）人： | 江陰市愛多光伏科技有限公司 |
| 主分類號： | G01R1/02 | 分類號： | G01R1/02;G01R31/26;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京路浩知識產權代理有限公司 | 代理人： | 張春和 |
| 地址： | 214400江蘇省江*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 晶片 測試 | ||
【權利要求書】：
1、一種晶片測試載架，其特征在于：它包含有一基座(203)，該基座(203)中央處開設一空間(208)，且該空間(208)側邊(209)至少設有一定位凹槽(210)；一基架(204)，其套于所述基座(203)中央處開設的空間(208)的側邊(209)，且該基架(204)的側邊(211)至少設有一定位凸槽(212)，銜接于所述的定位凹槽(210)，該基架(204)底部至少一側邊向中央處延伸一基板(213)；以及一上蓋(206)，蓋合于該基座(203)的上端。
2、如權利要求1所述的晶片測試載架，其特征在于，它還包含一底板(202)設于基座(203)的下端，且該底板(202)中央也設一開口。
3、如權利要求2所述的晶片測試載架，其特征在于，它還包含一軟性且導電的接觸面板(201)由該底板(202)的下端蓋合于該開口。
4、如權利要求1所述的晶片測試載架，其特征在于，它還包含一T型鎖鈕(207)由該上蓋(206)的上端貫穿至該上蓋(206)的下端，且于該上蓋(206)的下端連接一主壓板(215)。
5、如權利要求4所述的晶片測試載架，其特征在于，它還包含一輔助壓板(205)，其設于主壓板(215)及基架(204)上端。
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