[實用新型]半導體測試儀測試頭的界面板無效
| 申請號： | 200920074722.6 | 申請日： | 2009-11-26 |
| 公開（公告）號： | CN201548560U | 公開（公告）日： | 2010-08-11 |
| 發明（設計）人： | ?？Ｖ?/a>;辛吉升 | 申請（專利權）人： | 上海華虹NEC電子有限公司 |
| 主分類號： | G01R1/02 | 分類號： | G01R1/02 |
| 代理公司： | 上海浦一知識產權代理有限公司 31211 | 代理人： | 張驥 |
| 地址： | 201206 上*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 半導體 測試儀 測試 界面 | ||
【權利要求書】：
1.一種半導體測試儀測試頭的界面板，包括測試頭功能板、測試觸點，測試觸點設置于功能板的表面；其特征在于：所述測試觸點的排列形狀與探針臺上彈簧針的排列形狀一致；測試觸點陣列與探針臺上彈簧針的陣列位置相同。
2.根據權利要求1所述的半導體測試儀測試頭的界面板，其特征在于：所述測試觸點為圓型排列。
3.根據權利要求1或2所述的半導體測試儀測試頭的界面板，其特征在于：所述測試觸點陣列所在位置偏離功能板的中心位置，與探針臺上彈簧針的位置相匹配。
4.根據權利要求3所述的半導體測試儀測試頭的界面板，其特征在于：所述功能板靠近測試觸點陣列的一端設有補強筋。
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