[發明專利]電子裝置測試系統

無效

• 申請號: 200910312544.0
• 申請日: 2009-12-29
• 公開（公告）號: CN102110037A
• 公開（公告）日: 2011-06-29
• 發明（設計）人: 劉清華
• 申請（專利權）人: 鴻富錦精密工業（深圳）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司
• 主分類號: G06F11/26
• 分類號: G06F11/26
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及一種電子裝置測試系統，尤指一種通過嵌入式控制器測試的電子裝置測試系統。

背景技術

為了給最終用戶提供質量可靠的計算機，計算機出廠前都要經過嚴格的檢測。目前的筆記本型電腦由于受到空間的限制，很多部件是通過EC(Embedded?Controller，嵌入式控制器)控制的，如計算機啟動，鍵盤控制器，發光二極管(Light?Emitting?Diode，LED)燈狀態，電池充放電，溫度傳感器等。因此，在對這些功能檢測時可以借助于EC命令的方法進行檢測。目前筆記本電腦的測試中已經應用了這一測試技術方法。但是，由于EC控制方法比較底層，每一款機型的EC命令不同，地址空間不同，因此每一款機型都要開發一套測試程序，這樣會導致開發周期長，成本增加。

發明內容

鑒于以上內容，有必要提供一種通過嵌入式控制器測試的電子裝置測試系統。

一種電子裝置測試系統，用于測試一電子裝置，所述電子裝置包括一嵌入式控制器，所述系統包括一數據模塊及一應用模塊，所述數據模塊接收一與所述嵌入式控制器相對應的型號信息，并將所述型號信息傳送到所述應用模塊，所述應用模塊包括一解析子模塊解析所述型號信息并獲得與所述型號信息對應的查詢命令信息，所述應用模塊將所述查詢命令信息發送給所述嵌入式控制器并讀寫所述嵌入式控制器中的信息，所述嵌入式控制器向所述應用模塊返回一測試結果，所述應用模塊將所述測試結果與一標準結果進行比對生成一測試報告，用以完成對所述電子裝置的測試。

相對現有技術，本發明電子裝置測試系統中，所述數據模塊接收一與所述嵌入式控制器相對應的型號信息，并將所述型號信息傳送到所述應用模塊，所述應用模塊包括一解析子模塊解析所述型號信息并獲得與所述型號信息對應的查詢命令信息，所述應用模塊將所述查詢命令信息發送給所述嵌入式控制器并讀寫所述嵌入式控制器中的信息，用以完成對不同的電子裝置的測試。

附圖說明

圖1為本發明電子裝置測試系統的較佳實施方式的模塊圖。

圖2為本發明電子裝置測試系統的較佳實施方式的系統架構圖。

圖3為本發明電子裝置測試系統的較佳實施方式的原理流程圖。

具體實施方式

請參閱圖1，為本發明電子裝置測試系統的較佳實施方式的模塊圖。所述電子裝置測試系統用于測試一電子裝置內的電源狀態，計算機喚醒，中央處理器(Central?ProcessingUnit，CPU)工作狀態，溫度，風扇轉速測量與設置，電池充放電，電池溫度，系統管理總線(System?Management?Bus，SMBus)參數查詢/設置，各發光二極管(Light?EmittingDiode，LED)狀態查詢/改變狀態，Audio靜音，一些狀態寄存器的控制設置，無線(Wireless)設備(如WiFi，藍牙Bluetooth等)設置，即插即用設備激活，燒錄基本輸入輸出系統等。所述電子裝置包括一嵌入式控制器(Embedded?Controller，EC)，以上這些狀態可以通過嵌入式控制器命令查詢到，甚至改變所述電子裝置的這些狀態。

所述電子裝置測試系統包括一數據模塊、一應用模塊、一封裝模塊及一驅動模塊。所述數據模塊接收一與所述嵌入式控制器相對應的型號信息，并將所述型號信息傳送到所述應用模塊，所述應用模塊包括一解析子模塊解析所述型號信息并獲得與所述型號信息對應的查詢命令信息，所述應用模塊將所述查詢命令信息發送給所述嵌入式控制器并讀寫所述嵌入式控制器中的信息，所述嵌入式控制器向所述應用模塊返回一測試結果，所述應用模塊將所述測試結果與一標準結果進行比對生成一測試報告，用以完成對所述電子裝置的測試。所述封裝模塊封裝所述不同的嵌入式控制器的嵌入式控制器命令。

請參閱圖2，為本發明電子裝置測試系統的較佳實施方式的系統架構圖。按照功能劃分，將系統架構分成應用層、操作系統層、驅動層及硬件層。所述嵌入式控制器處于硬件層上，其是一個16位單片機。它內部本身也有一定容量的閃存來存儲代碼。在電子裝置開啟的過程中，所述嵌入式控制器控制著絕大多數重要信號的時序。在筆記本電腦中，所述嵌入式控制器是一直開著的，無論是在開機或者是關機狀態，除非把電池和適配器完全卸除。在關機狀態下，所述嵌入式控制器一直保持運行，并在等待用戶的開機信息。而在開機后，所述嵌入式控制器更作為鍵盤控制器，充電指示燈以及風扇等設備的控制，它甚至控制著系統的待機、休眠等狀態。