[發明專利]電子裝置測試系統

無效

• 申請號: 200910312544.0
• 申請日: 2009-12-29
• 公開（公告）號: CN102110037A
• 公開（公告）日: 2011-06-29
• 發明（設計）人: 劉清華
• 申請（專利權）人: 鴻富錦精密工業（深圳）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司
• 主分類號: G06F11/26
• 分類號: G06F11/26
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種電子裝置測試系統，用于測試一電子裝置，所述電子裝置包括一嵌入式控制器，其特征在于：所述系統包括一數據模塊及一應用模塊，所述數據模塊接收一與所述嵌入式控制器相對應的型號信息，并將所述型號信息傳送到所述應用模塊，所述應用模塊包括一解析子模塊解析所述型號信息并獲得與所述型號信息對應的查詢命令信息，所述應用模塊將所述查詢命令信息發送給所述嵌入式控制器并讀寫所述嵌入式控制器中的信息，所述嵌入式控制器向所述應用模塊返回一測試結果，所述應用模塊將所述測試結果與一標準結果進行比對生成一測試報告，用以完成對所述電子裝置的測試。

2.如權利要求1所述的電子裝置測試系統，其特征在于：所述電子裝置測試系統還包括一驅動模塊，所述應用模塊向所述驅動模塊發送所述查詢命令信息，所述驅動模塊將所述查詢命令信息轉化成所述嵌入式控制器能夠識別的查詢命令并發送給所述嵌入式控制器。

3.如權利要求2所述的電子裝置測試系統，其特征在于：所述驅動模塊根據所述查詢命令讀寫所述嵌入式控制器的一輸入輸出端與一內存信息其中之一。

4.如權利要求1所述的電子裝置測試系統，其特征在于：所述嵌入式控制器命令包括一用以寫入所述嵌入式控制器中的信息的嵌入式控制器擴展命令。

5.如權利要求1所述的電子裝置測試系統，其特征在于：所述電子裝置測試系統還包括一用以識別所述嵌入式控制器的型號信息的識別模塊，所述識別模塊將所述型號信息發送給所述數據模塊以發送相應的嵌入式控制器命令。

6.如權利要求1所述的電子裝置測試系統，其特征在于：所述查詢命令信息為一電源查詢命令信息，所述應用模塊將所述電源查詢命令信息發送給所述嵌入式控制器并讀寫所述嵌入式控制器中的電源信息。

7.如權利要求1所述的電子裝置測試系統，其特征在于：所述查詢命令信息為一中央處理器查詢命令信息，所述應用模塊將所述中央處理器查詢命令信息發送給所述嵌入式控制器并讀寫所述嵌入式控制器中的中央處理器信息。

8.如權利要求1所述的電子裝置測試系統，其特征在于：所述查詢命令信息為一風扇轉速查詢命令信息，所述應用模塊將所述風扇轉速查詢命令信息發送給所述嵌入式控制器并讀寫所述嵌入式控制器中的風扇轉速信息。

9.如權利要求1所述的電子裝置測試系統，其特征在于：所述查詢命令信息為一電池溫度查詢命令信息，所述應用模塊將所述電池溫度查詢命令信息發送給所述嵌入式控制器并讀寫所述嵌入式控制器中的電池溫度信息。

10.如權利要求1所述的電子裝置測試系統，其特征在于：所述查詢命令信息為一寄存器查詢命令信息，所述應用模塊將所述寄存器查詢命令信息發送給所述嵌入式控制器并讀寫所述嵌入式控制器中的寄存器信息。