[發明專利]影像測量儀的對焦裝置

有效

• 申請號: 200910310657.7
• 申請日: 2009-11-30
• 公開（公告）號: CN102081218A
• 公開（公告）日: 2011-06-01
• 發明（設計）人: 張旨光;李東海;蔣理;陳賢藝;洪毅容
• 申請（專利權）人: 鴻富錦精密工業（深圳）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司
• 主分類號: G02B7/28
• 分類號: G02B7/28;G01B11/02;G01B11/24
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種影像測量儀的對焦裝置，包括一光學裝置、一圖案光裝置、一同軸光裝置、一分光鏡、一影像攫取裝置及一光源，所述光源用于照射一待測工件，所述光學裝置用于根據圖案光裝置或同軸光裝置所發出的光線對所述待測工件進行光學成像，所述影像攫取裝置用于通過所述光學裝置感應所述待測工件的圖像并將其轉換為電信號以傳輸給一電腦系統進行對焦分析，其特征在于：

所述圖案光裝置通過所述分光鏡與上述光學裝置相連；

所述同軸光裝置通過所述分光鏡與上述光學裝置相連；

所述圖案光裝置與同軸光裝置以該分光鏡為垂點成90度夾角；及

所述分光鏡用于將所述圖案光裝置或同軸光裝置發出的光線傳送到所述光學裝置。

2.如權利要求1所述的影像測量儀的對焦裝置，其特征在于：所述光學裝置包括第一透鏡與第二透鏡，及位于該第一透鏡與第二透鏡之間且與該第二透鏡不平行的半透半反射鏡。

3.如權利要求1或2其中任一項所述的影像測量儀的對焦裝置，其特征在于：所述同軸光裝置包括依次安裝在該同軸光裝置內部的一同軸光源、一第三透鏡及一第四透鏡。

4.如權利要求3所述的影像測量儀的對焦裝置，其特征在于：當所述待測工件表面粗糙時，所述同軸光源發射的光線依次通過所述第三透鏡、第四透鏡、分光鏡、半透半反射鏡及第二透鏡投射至所述待測工件的表面，直接對待測工件進行對焦。

5.如權利要求1或2所述的影像測量儀的對焦裝置，其特征在于：所述圖案光裝置包括依次安裝在該圖案光裝置內部的一圖案光源、一倍率放大器及一具有圖案的圖案片。

6.如權利要求5所述的影像測量儀的對焦裝置，其特征在于：所述倍率放大器為一透鏡。

7.如權利要求5所述的影像測量儀的對焦裝置，其特征在于：所述圖案片上的圖案為多個透明與不透明的方形，所述多個透明與不透明的方形交替排布。

8.如權利要求7所述的影像測量儀的對焦裝置，其特征在于：當所述待測工件表面光滑時，所述圖案光源所發射的光線依次通過所述圖案片分光鏡、半透半反射鏡及第二透鏡投射至所述待測工件的表面，在所述待測工件的表面形成所述圖案片上的圖案，以對所述待測工件的表面進行對焦。

9.如權利要求1所述的影像測量儀的對焦裝置，其特征在于：所述光源為LED光源。

10.如權利要求1所述的影像測量儀的對焦裝置，其特征在于：所述分光鏡包括一殼體及一裝設于該殼體的菱鏡。