[發明專利]影像測量儀的對焦裝置

有效

• 申請號: 200910310657.7
• 申請日: 2009-11-30
• 公開（公告）號: CN102081218A
• 公開（公告）日: 2011-06-01
• 發明（設計）人: 張旨光;李東海;蔣理;陳賢藝;洪毅容
• 申請（專利權）人: 鴻富錦精密工業（深圳）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司
• 主分類號: G02B7/28
• 分類號: G02B7/28;G01B11/02;G01B11/24
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及一種對焦裝置，尤其涉及一種影像測量儀的對焦裝置。

背景技術

影像量測是目前精密量測領域中最廣泛使用的量測方法，該方法不僅精度高，而且量測速度快。影像量測主要用于零件或者部件的尺寸物差和形位誤差的測量，對保證產品質量起著重要的作用。

一般而言，在測量待測工件的輪廓或表面高度前，通常需要進行影像對焦，使得待測工件的表面到鏡頭的距離等于焦距，能否準確的對焦，對保證測試的精度起著重要的作用。影像自動對焦方法為：在一定范圍內移動電荷耦合裝置(charge?coupled?device，CCD)的鏡頭，并不斷獲取待測工件表面的影像，然后根據獲取的影像計算出CCD鏡頭的焦點位置。然而，在對焦的過程中，通常被測工件表面會出現受光不均勻現象，使對焦的準確性降低，況且，當所述被測工件表面的光滑度非常高的時候，比如光滑的玻璃片，由于光射到待測工件的光滑表面反射回CCD時，所獲取的影像中的輪廓信息非常少，在計算影像的清晰度時準確度不高，從而也影響對焦的準確性。

發明內容

鑒于以上內容，有必要提供一種影像測量儀的對焦裝置，其可以對光滑的被測工件表面或粗糙的被測工件表面進行對焦，使被測工件表面受光均勻，提高了對焦的準確性。

一種影像測量儀的對焦裝置，包括一光學裝置、一圖案光裝置、一同軸光裝置、一分光鏡、一影像攫取裝置及一光源，所述光源用于照射一待測工件，所述光學裝置用于根據圖案光裝置或同軸光裝置所發出的光線對所述待測工件進行光學成像，所述影像攫取裝置用于通過所述光學裝置感應所述待測工件的圖像并將其轉換為電信號以傳輸給一電腦系統進行對焦分析，所述圖案光裝置通過所述分光鏡與上述光學裝置相連；所述同軸光裝置通過所述分光鏡與上述光學裝置相連；所述圖案光裝置與同軸光裝置以該分光鏡為垂點成90度夾角；所述分光鏡用于將所述圖案光裝置或同軸光裝置發出的光線傳送到所述光學裝置。

上述影像測量儀的對焦裝置在待測工件表面的光滑度較高時，可利用所述圖案光裝置將圖案片上的圖案投射到所述待測工件的表面，以準確的對待測工件進行對焦。如果所述待測工件表面的光滑度粗糙時，利用所述同軸光裝置發出的光線投射到所述待測工件的表面，直接對待測工件進行對焦。

附圖說明

圖1是本發明影像測量儀的較佳實施方式的立體圖。

圖2是圖1中對焦裝置的較佳實施方式的立體圖。

圖3是圖1中對焦裝置的剖面圖。

圖4為圖1中圖案片的示意圖。

圖5為圖1中所述圖案光裝置與光學裝置、影像攫取裝置之間的連接關系示意圖。

圖6為圖1中所述同軸光裝置與光學裝置、影像攫取裝置之間的連接關系示意圖。

主要元件符號說明