[發明專利]測試系統

無效

• 申請號: 200910310547.0
• 申請日: 2009-11-27
• 公開（公告）號: CN102081120A
• 公開（公告）日: 2011-06-01
• 發明（設計）人: 洪永程;蘇旺丁;何瑞雄
• 申請（專利權）人: 鴻富錦精密工業（深圳）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司
• 主分類號: G01R29/00
• 分類號: G01R29/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及一種測試系統。

背景技術

現有的測試儀器，如一示波器，通常包括四個輸入端，其可以同時對四個信號進行測試。然而，有時需要測試的信號會超過四個，此時當測試完四個信號后，則需要將測試儀器的四個輸入端與其他未測試的信號引腳連接，特別是測試多臺超過四個信號引腳的待測物時，比較麻煩。

發明內容

鑒于以上內容，有必要提供一種可對多個待測物進行測試的測試系統。

一種測試系統，包括：

一主選擇器，包括n個第一選擇開關、n個第一觸點及n個第二觸點，所述第一選擇開關的第一端用于與一測試儀的輸入端相連，第二端可選擇性地與第一觸點或第二觸點相連；

第一及第二轉接口，每一轉接口包括n個輸入端及n個與所述輸入端對應相連的輸出端，所述第一轉接口的輸出端對應與所述主選擇器的第一觸點相連，所述第二轉接口的輸出端對應與所述主選擇器的第二觸點相連，其中n為自然數；

第一及第二次選擇器，每一次選擇器均包括一第二選擇開關及若干第三觸點，第一次選擇器的第二選擇開關的第一端對應與第一轉接口的一輸入端相連，第一次選擇器的第二選擇開關的第二端可選擇性地與一第三觸點相連，第二次選擇器的第二選擇開關的第一端對應與第二轉接口的一輸入端相連，第二次選擇器的第二選擇開關的第二端可選擇性地與一第三觸點相連，所述第一及第二轉接口的其它輸入端及對應的次選擇器的第三觸點分別與一待測物的若干待測端子相連；及

一處理器，所述處理器與所述主選擇器及第一、第二次選擇器均相連，所述處理器用于發出一第一測試指令控制所述主選擇器的第一選擇開關與第一觸點或第二觸點相連同時選中相應的次選擇器，所述處理器還用于發出一第二測試指令控制所述被選中的次選擇器的第二選擇開關與一第三觸點相連。

本發明測試系統包括多個轉接口及選擇器，通過所述處理器發出一第一測試指令控制所述主選擇器的第一選擇開關與一第一觸點或第二觸點相連，所述處理器發出一第二測試指令控制所述次選擇器的第二選擇開關與一第三觸點相連，依次控制觸點與對應選擇開關相連，從而實現對多個待測物進行測試。

附圖說明

圖1是本發明測試系統的較佳實施方式的示意圖。

圖2是圖1中主選擇器與測試儀的連接示意圖。

圖3是圖1中主選擇器與第一轉接口連接的示意圖。

主要元件符號說明