[發明專利]測試系統無效
| 申請號： | 200910310547.0 | 申請日： | 2009-11-27 |
| 公開（公告）號： | CN102081120A | 公開（公告）日： | 2011-06-01 |
| 發明（設計）人： | 洪永程;蘇旺丁;何瑞雄 | 申請（專利權）人： | 鴻富錦精密工業（深圳）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R29/00 | 分類號： | G01R29/00 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 518109 廣東省深圳市*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 測試 系統 | ||
1.一種測試系統，包括：
一主選擇器，包括n個第一選擇開關、n個第一觸點及n個第二觸點，所述第一選擇開關的第一端用于與一測試儀的輸入端相連，第二端可選擇性地與第一觸點或第二觸點相連；
第一及第二轉接口，每一轉接口包括n個輸入端及n個與所述輸入端對應相連的輸出端，所述第一轉接口的輸出端對應與所述主選擇器的第一觸點相連，所述第二轉接口的輸出端對應與所述主選擇器的第二觸點相連，其中n為自然數；
第一及第二次選擇器，每一次選擇器均包括一第二選擇開關及若干第三觸點，第一次選擇器的第二選擇開關的第一端對應與第一轉接口的一輸入端相連，第一次選擇器的第二選擇開關的第二端可選擇性地與一第三觸點相連，第二次選擇器的第二選擇開關的第一端對應與第二轉接口的一輸入端相連，第二次選擇器的第二選擇開關的第二端可選擇性地與一第三觸點相連，所述第一及第二轉接口的其它輸入端及對應的次選擇器的第三觸點分別與一待測物的若干待測端子相連；及
一處理器，所述處理器與所述主選擇器及第一、第二次選擇器均相連，所述處理器用于發出一第一測試指令控制所述主選擇器的第一選擇開關與第一觸點或第二觸點相連同時選中相應的次選擇器，所述處理器還用于發出一第二測試指令控制所述被選中的次選擇器的第二選擇開關與一第三觸點相連。
2.如權利要求1所述的測試系統，其特征在于：所述第二測試指令包括一二進制代碼，若與所述次選擇器電連接的待測端子沒有完成測試，所述處理器則控制二進制代碼加“1”并將二進制代碼傳給所述次選擇器。
3.如權利要求1所述的測試系統，其特征在于：所述第一測試指令包括一二進制代碼，當與所述主選擇器電連接的一待測物完成測試，尚有其他待測物未測試時，所述處理器則控制二進制代碼加“1”并將二進制代碼傳給所述主選擇器控制主選擇器的第一選擇開關的第二端連接一與未測試待測物相連接的觸點。
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