[發明專利]運算裝置、部件組裝裝置、程序以及運算方法

無效

• 申請號: 200910263615.2
• 申請日: 2009-12-23
• 公開（公告）號: CN101902901A
• 公開（公告）日: 2010-12-01
• 發明（設計）人: 朝倉涼次;石田智利;星野正浩;森谷友二
• 申請（專利權）人: 株式會社日立高新技術儀器
• 主分類號: H05K13/04
• 分類號: H05K13/04;H05K13/08
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243
• 代理人: 許靜

技術領域

本發明涉及一種確定安裝部件時的異常的原因的技術。

背景技術

在將電子部件安裝到電路基板上的部件組裝裝置中，使用安裝頭的吸嘴吸著在部件供給裝置的給料器上保持的部件，將其運送到電路基板的固定位置然后進行安裝。

在這樣的部件組裝裝置中，由于在給料器上保持的部件的保持位置的偏移或吸嘴的阻塞等，有時產生吸嘴無法從給料器吸著部件的異常。

當產生這樣的異常時，在確定異常的原因并解除所確定的異常的原因之前，必須停止部件組裝裝置的運轉，部件組裝裝置的生產能力降低。因此，需要盡快確定這樣的異常的原因并采取對策。

關于這一點，在專利文獻1中記載了根據各個吸嘴的不良發生率和各個吸嘴的安裝位置的不良發生率，來推定異常的原因在于吸嘴和吸嘴的安裝位置中的哪一方的技術，以及根據各個給料器的不良發生率和各個給料器的安裝位置的不良發生率，來推定異常的原因在于給料器和給料器的安裝位置中的哪一方的技術。

在專利文獻1記載的技術中，可以推定異常的原因在于吸嘴和吸嘴的安裝位置中的哪一方，或者可以推定異常的原因在于給料器和給料器的安裝位置中的哪一方，但無法推定異常的原因在于吸嘴和給料器中的哪一方。

因此，在專利文獻1記載的技術中，存在雖然異常原因實際在于給料器，但針對吸嘴分析異常原因的情況，在這樣的情況下，分析異常原因需要花費很多時間。而且，在分析異常原因的期間停止了部件組裝裝置，此時，部件組裝裝置的生產能力降低。

專利文獻1：日本專利第3421372號公報

發明內容

因此，本發明的目的在于提供一種可以確定異常的原因在于吸嘴和給料器中的哪一方的技術。

為了解決以上的課題，本發明將異常發生率高的第一部件和第二部件中的異常發生率的偏差小的一方確定為異常的原因。

例如，本發明的特征為：具備存儲部以及控制部，所述存儲部存儲裝置動作信息和異常履歷信息，所述裝置動作信息針對第一部件和第二部件的每個組合確定在將部件安裝到基板上時使用的所述第一部件以及所述第二部件的動作次數，所述異常履歷信息針對所述第一部件以及所述第二部件的每個組合確定在將部件安裝到基板上時，在所述第一部件以及所述第二部件中發生異常的異常次數，所述控制部進行以下的處理：把通過所述異常履歷信息確定的在第一部件以及第二部件中發生異常的異常次數除以通過所述裝置動作信息確定的該第一部件以及該第二部件的動作次數，由此針對所述第一部件以及所述第二部件的每個組合計算第一異常發生率；把通過所述異常履歷信息確定的在第一部件中發生異常的異常次數的總和除以通過所述裝置動作信息確定的該第一部件的動作次數的總和，由此針對每個所述第一部件計算第二異常發生率；把通過所述異常履歷信息確定的在第二部件中發生異常的異常次數的總和除以通過所述裝置動作信息確定的該第二部件的動作次數的總和，由此針對每個所述第二部件計算第三異常發生率；確定所述第二異常發生率高的第一部件，從所述第一異常發生率中提取所確定的第一部件的異常發生率，計算提取出的值的差分值；確定所述第三異常發生率高的第二部件，從所述第一異常發生率中提取所確定的第二部件的異常發生率，計算提取出的值的差分值；比較所確定的第一部件的差分值和所確定的第二部件的差分值，判斷出包含差分值較小的一方的類別成為異常原因的可能性高。

如上所述，根據本發明，可以確定異常的原因在于吸嘴和給料器中的哪一方。

附圖說明

圖1是部件組裝裝置的概要圖。

圖2是給料器基座、頭部以及梁的概要圖。

圖3是頭部的仰視圖。

圖4是安裝信息表的概要圖。

圖5是運算裝置的概要圖。

圖6是裝置動作信息表的概要圖。

圖7是異常履歷信息表的概要圖。

圖8是異常發生率匯總信息表的概要圖。

圖9是吸嘴異常發生率信息表的概要圖。

圖10是給料器異常發生率信息表的概要圖。

圖11是推定結果信息表的概要圖。

圖12是計算機的概要圖。

圖13是表示對裝置動作信息以及異常履歷信息進行更新的處理的流程圖。

圖14是表示確定異常原因的處理的流程圖。

圖15是第一輸出畫面的概要圖。

圖16是第二輸出畫面的概要圖。

圖17是第三輸出畫面的概要圖。

符號說明