[發(fā)明專利]深溝槽絕緣柵極雙極晶體管無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200910261915.7 | 申請(qǐng)日: | 2009-12-21 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101789431A | 公開(公告)日: | 2010-07-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 維杰伊·帕塔薩拉蒂;蘇吉特·巴納吉 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 電力集成公司 |
| 主分類號(hào): | H01L27/082 | 分類號(hào): | H01L27/082;H01L29/739 |
| 代理公司: | 北京東方億思知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11258 | 代理人: | 宋鶴;南霆 |
| 地址: | 美國(guó)加利*** | 國(guó)省代碼: | 美國(guó);US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 深溝 絕緣 柵極 雙極晶體管 | ||
1.一種功率晶體管器件,包括:
第一導(dǎo)電類型的襯底;
與所述第一導(dǎo)電類型相反的第二導(dǎo)電類型的緩沖層,所述緩沖層設(shè)置在所述襯底的頂部上,在所述襯底和所述緩沖層之間形成第一PN結(jié);
多個(gè)半導(dǎo)體材料的柱,每個(gè)柱包括:
所述第二導(dǎo)電類型的第一區(qū)域;
所述第一導(dǎo)電類型的本體區(qū)域,所述本體區(qū)域鄰接所述第一區(qū)域;
所述第二導(dǎo)電類型的漂移區(qū)域,其在垂直方向上從所述本體區(qū)域延伸到所述緩沖層,在所述本體區(qū)域和所述漂移區(qū)域之間形成第二PN結(jié);
在側(cè)向上被電介質(zhì)區(qū)域分隔開的相鄰對(duì)的柱,所述電介質(zhì)區(qū)域在垂直方向至少從所述第二PN結(jié)附近向下至少延伸到所述緩沖層中,所述電介質(zhì)層與所述相鄰對(duì)的柱的每個(gè)漂移區(qū)域形成側(cè)壁界面;
設(shè)置在與所述本體區(qū)域相鄰并與其絕緣的所述電介質(zhì)區(qū)域上方的溝槽柵極;
其中,當(dāng)所述功率晶體管在導(dǎo)通狀態(tài)時(shí),所述第一和第二PN結(jié)作為雙極晶體管工作,所述襯底包括發(fā)射極,所述第一區(qū)域包括集電極,并且所述溝槽柵極用作為場(chǎng)效應(yīng)晶體管(FET)的控制所述發(fā)射極和集電極之間正向傳導(dǎo)的控制輸入,當(dāng)所述功率晶體管在關(guān)斷狀態(tài)時(shí),第一PN結(jié)被反向偏壓。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的功率晶體管器件,其中,所述漂移區(qū)域在垂直方向上具有大體上恒定的摻雜濃度。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的功率晶體管器件,其中,所述第一區(qū)域包括源極區(qū)域,并且所述漂移區(qū)域包括所述FET的延伸漏極區(qū)域。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的功率晶體管器件,其中,大體上恒定的摻雜濃度約為1×1015cm-3。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的功率晶體管器件,其中,所述緩沖層具有足夠高的摻雜濃度,以防止當(dāng)所述功率晶體管器件在關(guān)斷狀態(tài)時(shí)到所述襯底的穿通。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的功率晶體管器件,其中,每個(gè)所述柱具有第一側(cè)向?qū)挾龋⑶宜鲭娊橘|(zhì)區(qū)域具有第二側(cè)向?qū)挾龋龅谝粋?cè)向?qū)挾扰c所述第二側(cè)向?qū)挾鹊谋嚷实姆秶?.2至6.0。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的功率晶體管器件,其中,每個(gè)所述柱具有第一側(cè)向?qū)挾龋⑶宜鲭娊橘|(zhì)區(qū)域具有第二側(cè)向?qū)挾龋龅谝缓偷诙?cè)向?qū)挾却篌w上相等。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的功率晶體管器件,其中,所述第一側(cè)向?qū)挾燃s為2μm。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的功率晶體管器件,其中,所述電介質(zhì)區(qū)域在垂直方向上向下延伸到所述襯底中。
10.一種功率晶體管器件,包括:
第一導(dǎo)電類型的襯底;
與所述第一導(dǎo)電類型相反的第二導(dǎo)電類型的緩沖層,所述緩沖層鄰接所述襯底的頂面以在其間形成PN結(jié);
所述第二導(dǎo)電類型的第一區(qū)域;
所述第二導(dǎo)電類型的漂移區(qū)域,其鄰接所述緩沖層的頂面;
所述第一導(dǎo)電類型的本體區(qū)域,所述本體區(qū)域?qū)⑺龅谝粎^(qū)域和所述漂移區(qū)域分隔開,所述本體區(qū)域鄰接所述漂移區(qū)域的頂面和所述第一區(qū)域的底面;
第一和第二電介質(zhì)區(qū)域,其分別鄰接所述漂移區(qū)域的相對(duì)的側(cè)向側(cè)壁部分,所述電介質(zhì)區(qū)域在垂直方向至少從所述本體區(qū)域下方向下至少延伸到所述緩沖層中;
設(shè)置在與所述本體區(qū)域相鄰并與其絕緣的所述電介質(zhì)區(qū)域上方的溝槽柵極,所述溝槽柵極用作場(chǎng)效應(yīng)晶體管(FET)的控制輸入,當(dāng)所述功率晶體管在導(dǎo)通狀態(tài)時(shí)控制所述第一區(qū)域和所述襯底之間正向傳導(dǎo)。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的功率晶體管器件,其中,所述第一區(qū)域和所述漂移區(qū)域分別包括源極區(qū)域和所述FET的延伸漏極區(qū)域。
12.根據(jù)權(quán)利要求10所述的功率晶體管器件,其中,所述第一區(qū)域包括集電極,并且所述襯底包括雙極晶體管的發(fā)射極,所述雙極晶體管在導(dǎo)通狀態(tài)下工作時(shí)在垂直方向上傳導(dǎo)電流。
13.根據(jù)權(quán)利要求10所述的功率晶體管器件,其中,所述漂移區(qū)域在垂直方向上具有大體上恒定的摻雜濃度。
14.根據(jù)權(quán)利要求10所述的功率晶體管器件,其中,所述緩沖層具有足夠高的摻雜濃度,以防止當(dāng)所述功率晶體管器件在關(guān)斷狀態(tài)下工作時(shí)到所述襯底的穿通。
15.根據(jù)權(quán)利要求10所述的功率晶體管器件,其中,所述第一和第二電介質(zhì)區(qū)域僅包括氧化物。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的多個(gè)半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的;包括至少有一個(gè)躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對(duì)紅外輻射、光、較短波長(zhǎng)的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點(diǎn)的熱電元件的;包括有熱磁組件的





