[發明專利]用于微電路測試系統的開爾文接點模塊無效
| 申請號: | 200910253114.6 | 申請日: | 2005-03-22 |
| 公開(公告)號: | CN101902876A | 公開(公告)日: | 2010-12-01 |
| 發明(設計)人: | J·W·奧沙利文;J·E·尼爾森 | 申請(專利權)人: | 約翰國際有限公司 |
| 主分類號: | H05K1/02 | 分類號: | H05K1/02;H05K1/11;G01R1/04;H01R12/02 |
| 代理公司: | 上海專利商標事務所有限公司 31100 | 代理人: | 顧峻峰 |
| 地址: | 美國明*** | 國省代碼: | 美國;US |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 電路 測試 系統 開爾文 接點 模塊 | ||
1.一種絕緣電路板,用于與多個開爾文接點組件一起使用,所述電路板在其表面上具有:
a)多個第一接觸焊點,其沿著第一線設置;以及
b)多個第二接觸焊點,其沿著第二線設置,多個第二接觸焊點的每個沿著第二線與多個第一接觸焊點的每個呈偏移關系,其中多個第一接觸焊點和多個第二接觸焊點之間的該偏移關系以及多個第一接觸焊點和多個第二接觸焊點之間的間隙使單個第一接觸焊點與接點組件的第一接觸腳對齊,以及使鄰近的第二接觸焊點與接點組件的第二接觸腳對齊。
2.一種測試系統,包括設置在權利要求4的絕緣電路板上的絕緣殼體,所述殼體具有多個并排的槽,每個槽接收一個接點組件,每個所述槽與第一接觸焊點和第二接觸焊點對齊,槽與第一和第二接觸焊點的所述對齊允許所述槽內的接點組件的第一接觸腳接觸第一接觸焊點,并且允許所述槽內的接點組件的第二接觸腳接觸第二接觸焊點。
3.如權利要求2所述的測試系統,其特征在于,所述絕緣殼體內的并排的槽具有具有在每對鄰近槽之間對齊的橫向開口,所述對齊的橫向開口與所述接點組件的第一和第二導電疊片的開口對齊,其中每個接點組件的第一和第二導電滑塊接點中的每個均具有位于所述第一和第二導電疊片的開口內的內端部,所述第一和第二導電疊片的槽接收所述第一和第二導電滑塊接點,并且包括彈性塊,其穿過每個橫向開口以及第一和第二導電疊片的開口,所述彈性塊接觸每個接點組件的第一和第二滑塊接點中的每個的內端部并且對其施加彈力。
4.如權利要求3所述的測試系統,其特征在于,每個接點組件的導電疊片包括從底壁突出的鼻部,并且其中絕緣殼體包括面向絕緣電路板和導電疊片鼻部的邊緣,彈性塊插入在邊緣和鼻部之間,所述彈性塊迫使第一接觸腳壓到第一接觸焊點上,第二接觸腳壓到第二接觸焊點上。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于約翰國際有限公司,未經約翰國際有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200910253114.6/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





