[發明專利]用于電子產品的晶體振蕩器的頻偏檢測方法和裝置

有效

• 申請號: 200910223622.X
• 申請日: 2009-11-13
• 公開（公告）號: CN102062817A
• 公開（公告）日: 2011-05-18
• 發明（設計）人: 孫玉才;戴慶軍
• 申請（專利權）人: 中興通訊股份有限公司
• 主分類號: G01R23/10
• 分類號: G01R23/10
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 余剛;吳孟秋

技術領域

本發明涉及通信領域，具體而言，涉及一種用于電子產品的晶體振蕩器的頻偏檢測方法和裝置。

背景技術

電子產品的功能越來越強大，復雜度越來越高，用戶對產品質量的要求也越來越高，這就對電子產品的生產廠家提供了更高的要求。要保證產品質量，電子產品上每個器件的可靠性是一個重要因素，根據業界統計，晶振(晶體振蕩器)故障在電子產品中的故障占了很大的比重。因此，如果能夠有效地解決晶振故障，對提高電子產品的質量有很大的幫助。而減少晶振故障，產品的出廠檢驗是很重要的環節，如果我們能夠對出廠的電子產品上的晶振的頻偏進行有效測試，就可以在一定程度上避免晶振故障，從而提高產品的質量。

現有技術至少存在以下問題：現有的測試頻偏的專用儀器(如頻率記)有著昂貴的價格，而且需要復雜的測試環境和專門的測試人員，如果對每臺出廠的電子設備都進行晶振檢測，需要龐大的資金設備和人力投入，在實際的生產中是不現實的。目前大部分廠家都采取抽樣檢測，抽樣檢測不可避免地會存在故障泄露，這個也是目前電子產品生產廠家比較頭痛的問題之一。

發明內容

針對現有技術中存在的上述問題而提出本發明，為此，本發明的主要目的在于提供一種用于電子產品的晶體振蕩器的頻偏檢測方法和裝置，以解決耗資過大以及抽樣檢測存在故障泄露的問題。

為了實現上述目的，根據本發明的一個方面，提供了一種用于電子產品的晶體振蕩器的頻偏檢測方法。

根據本發明的用于電子產品的晶體振蕩器的頻偏檢測方法包括：對晶體振蕩器在一定時間內的振蕩周期進行計數；根據計數結果計算晶體振蕩器的測試頻偏和門限頻偏；根據測試頻偏和門限頻偏評估晶體振蕩器的質量。

其中，晶體振蕩器為電子產品中的多個晶體振蕩器中的每個晶體振蕩器。

優選地，根據計數結果計算晶體振蕩器的測試頻偏和門限頻偏包括：獲取每個晶體振蕩器對應的計數值；計算每個晶體振蕩器的測試頻偏和門限頻偏，包括：選擇多個晶體振蕩器中的另一個晶體振蕩器j作為晶體振蕩器i的參考晶體振蕩器；根據參考晶體振蕩器對應的計數值以及晶體振蕩器i對應的計數值計算晶體振蕩器i的測試頻偏和門限頻偏；其中，i≠j，變量i＝1，2，...，N，N為晶體振蕩器的總數量。

優選地，晶體振蕩器i的測試頻偏為：

其中為晶體振蕩器i的測試頻偏，f_i為晶體振蕩器i的標稱頻率，C_i為晶體振蕩器i對應的計數器的計數值，f_j為參考晶體振蕩器的標稱頻率，C_j為參考晶體振蕩器對應的計數器的計數值，i≠j，變量i＝1，2，...，N，N為晶體振蕩器的總數量。

優選地，晶體振蕩器i的門限頻偏為：

其中為晶體振蕩器i的門限頻偏，f_i為晶體振蕩器i的標稱頻率，±Δf_i為晶體振蕩器i的標稱頻偏，f_j為參考晶體振蕩器的標稱頻率，±Δf_j為參考晶體振蕩器的標稱頻偏，i≠j，變量i＝1，2，..，N，N為晶體振蕩器的總數量；

或者其中為晶體振蕩器i的門限頻偏，f_i為晶體振蕩器i的標稱頻率，±Δf_i為晶體振蕩器i的標稱頻偏，f_j為參考晶體振蕩器的標稱頻率，±Δf_j為參考晶體振蕩器的標稱頻偏，i≠j，變量i＝1，2，...，N，N為晶體振蕩器的總數量。

優選地，根據計數結果計算晶體振蕩器的測試頻偏和門限頻偏還包括：根據實驗數據計算晶體振蕩器的門限頻偏為：

Δf^門限＝-Δf_max*95％～+Δf_min*105％，其中Δf^門限為晶體振蕩器的門限頻偏，-Δf_max為合格的電子產品中晶體振蕩器的最大負頻偏，+Δf_min為合格的電子產品中晶體振蕩器的最大正頻偏；

以計算得到的門限頻偏Δf^門限作為每個晶體振蕩器的門限頻偏。

優選地，當多個晶體振蕩器為三個或三個以上的晶體振蕩器時，選擇穩定度最高的晶體振蕩器作為參考晶體振蕩器計算其他晶體振蕩器的測試頻偏和門限頻偏；選擇穩定度僅次于穩定度最高的晶體振蕩器的晶體振蕩器作為參考晶體振蕩器計算穩定度最高的晶體振蕩器的測試頻偏和門限頻偏；

當電子產品中僅包括一個晶體振蕩器時，增加一個檢測用的晶體振蕩器。