[發明專利]用于電子產品的晶體振蕩器的頻偏檢測方法和裝置

有效

• 申請號: 200910223622.X
• 申請日: 2009-11-13
• 公開（公告）號: CN102062817A
• 公開（公告）日: 2011-05-18
• 發明（設計）人: 孫玉才;戴慶軍
• 申請（專利權）人: 中興通訊股份有限公司
• 主分類號: G01R23/10
• 分類號: G01R23/10
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 余剛;吳孟秋

1.一種用于電子產品的晶體振蕩器的頻偏檢測方法，其特征在于，包括：

對晶體振蕩器在一定時間內的振蕩周期進行計數；

根據計數結果計算所述晶體振蕩器的測試頻偏和門限頻偏；

根據所述測試頻偏和門限頻偏評估所述晶體振蕩器的質量。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述晶體振蕩器為電子產品中的多個晶體振蕩器中的每個晶體振蕩器。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，根據計數結果計算所述晶體振蕩器的測試頻偏和門限頻偏包括：

獲取每個所述晶體振蕩器對應的計數值；

計算每個所述晶體振蕩器的測試頻偏和門限頻偏，包括：

選擇所述多個晶體振蕩器中的另一個晶體振蕩器j作為晶體振蕩器i的參考晶體振蕩器；

根據所述參考晶體振蕩器對應的計數值以及所述晶體振蕩器i對應的計數值計算晶體振蕩器i的測試頻偏和門限頻偏；

其中，i≠j，變量i＝1，2，...，N，N為晶體振蕩器的總數量。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述晶體振蕩器i的測試頻偏為：

其中為晶體振蕩器i的測試頻偏，f_i為晶體振蕩器i的標稱頻率，C_i為晶體振蕩器i對應的計數器的計數值，f_j為參考晶體振蕩器的標稱頻率，C_j為參考晶體振蕩器對應的計數器的計數值，i≠j，變量i＝1，2，..，N，N為晶體振蕩器的總數量。

5.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述晶體振蕩器i的門限頻偏為：

其中為晶體振蕩器i的門限頻偏，f_i為晶體振蕩器i的標稱頻率，±Δf_i為晶體振蕩器i的標稱頻偏，f_j為參考晶體振蕩器的標稱頻率，±Δf_j為參考晶體振蕩器的標稱頻偏，i≠j，變量i＝1，2，...，N，N為晶體振蕩器的總數量；

或者其中為晶體振蕩器i的門限頻偏，f_i為晶體振蕩器i的標稱頻率，±Δf_i為晶體振蕩器i的標稱頻偏，f_j為參考晶體振蕩器的標稱頻率，±Δf_j為參考晶體振蕩器的標稱頻偏，i≠j，變量i＝1，2，...，N，N為晶體振蕩器的總數量。

6.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，根據計數結果計算所述晶體振蕩器的測試頻偏和門限頻偏還包括：

根據實驗數據計算晶體振蕩器的門限頻偏為：

Δf^門限＝-Δf_max*95％～+Δf_min*105％，其中Δf^門限為晶體振蕩器的門限頻偏，-Δf_max為合格的電子產品中晶體振蕩器的最大負頻偏，+Δf_min為合格的電子產品中晶體振蕩器的最大正頻偏；

以計算得到的門限頻偏Δf^門限作為每個所述晶體振蕩器的門限頻偏。

7.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，

當所述多個晶體振蕩器為三個或三個以上的晶體振蕩器時，選擇穩定度最高的晶體振蕩器作為參考晶體振蕩器計算其他晶體振蕩器的測試頻偏和門限頻偏；選擇穩定度僅次于所述穩定度最高的晶體振蕩器的晶體振蕩器作為參考晶體振蕩器計算所述穩定度最高的晶體振蕩器的測試頻偏和門限頻偏；

當電子產品中僅包括一個晶體振蕩器時，增加一個檢測用的晶體振蕩器。

8.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，根據所述測試頻偏和門限頻偏評估所述晶體振蕩器的質量包括：

比較每個所述晶體振蕩器的測試頻偏和門限頻偏；

若每個所述晶體振蕩器的測試頻偏均在門限頻偏的范圍內，則所述電子產品中的多個晶體振蕩器的頻偏指標符合要求；

否則，所述電子產品中的多個晶體振蕩器中至少有一個晶體振蕩器的頻偏指標不符合要求。