[發(fā)明專利]無核層封裝基板的制法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200910212022.3 | 申請日: | 2009-11-06 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102054710B | 公開(公告)日: | 2011-05-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 江仁宏;鄭兆孟 | 申請(專利權(quán))人: | 欣興電子股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/48 | 分類號(hào): | H01L21/48;H01L23/498 |
| 代理公司: | 隆天國際知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 72003 | 代理人: | 馮志云 |
| 地址: | 中國臺(tái)*** | 國省代碼: | 中國臺(tái)灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 無核 封裝 制法 | ||
1.一種無核層封裝基板的制法,包括以下步驟:
提供一承載板,該承載板包括一核心層、一設(shè)于該核心層表面的第一介 電層、一配置于該第一介電層表面的離型膜、以及一設(shè)于該離型膜表面及該 第一介電層表面的金屬層,其中該離型膜的面積小于該第一介電層,以使該 第一介電層具有不為該離型膜覆蓋的框狀區(qū),且該金屬層與該框狀區(qū)疊接;
于該承載板的該金屬層上形成一第一線路層,其中該第一線路層具有多 個(gè)第一電性接觸墊;
于該第一線路層及該金屬層上形成一增層結(jié)構(gòu),其中,該增層結(jié)構(gòu)包括 至少一第二介電層、至少一疊置于該第二介電層表面的第二線路層、及設(shè)于 該第二介電層中的多個(gè)導(dǎo)電盲孔,所述多個(gè)導(dǎo)電盲孔電性連接該第一線路層 與該第二線路層,且最外層的該第二線路層具有多個(gè)第二電性接觸墊,其中, 該第二介電層的熱膨脹系數(shù)落于10~30ppm/℃的范圍內(nèi);
對(duì)應(yīng)該離型膜周緣以內(nèi)切割該增層結(jié)構(gòu)、該金屬層、該離型膜、以及該 第一介電層,以自該增層結(jié)構(gòu)上移除該承載板,使所述多個(gè)第一電性接觸墊 嵌入并外露于該第二介電層表面。
2.如權(quán)利要求1所述的無核層封裝基板的制法,還包括于所述多個(gè)第一 電性接觸墊及所述多個(gè)第二電性接觸墊上形成一表面處理層。
3.如權(quán)利要求2所述的無核層封裝基板的制法,其中,該表面處理層選 自錫、銀、鎳、金、鉻/鈦、鎳/金、鎳/鈀、鎳/鈀/金、有機(jī)保焊膜、化鎳浸金、 化鎳化鈀浸金、化鈀浸金、焊錫及無鉛焊錫其中之一。
4.如權(quán)利要求1所述的無核層封裝基板的制法,其中,該第二介電層的 楊格系數(shù)超過8GPa。
5.如權(quán)利要求1所述的無核層封裝基板的制法,其中,該核心層為一銅 箔基板。
6.如權(quán)利要求1所述的無核層封裝基板的制法,其中,所述多個(gè)第一電 性接觸墊為凸塊焊墊,且所述多個(gè)第二電性接觸墊為植球焊墊。
7.如權(quán)利要求1所述的無核層封裝基板的制法,其中,所述多個(gè)第一電 性接觸墊為植球焊墊,且所述多個(gè)第二電性接觸墊為凸塊焊墊。
8.一種無核層封裝基板的制法,包括以下步驟:
提供一承載板,該承載板包括一核心層、一設(shè)于該核心層表面的第一介 電層、一配置于該第一介電層表面的離型膜、以及一設(shè)于該離型膜表面及該 第一介電層表面的金屬層,其中該離型膜的面積小于該第一介電層,以使該 第一介電層具有不為該離型膜覆蓋的框狀區(qū),且該金屬層與該框狀區(qū)疊接;
于該承載板的該金屬層上形成一第一線路層,其中該第一線路層具有多 個(gè)第一電性接觸墊;
于該第一線路層及該金屬層上形成一增層結(jié)構(gòu),其中,該增層結(jié)構(gòu)包括 至少一第二介電層、至少一疊置于該第二介電層表面的第二線路層、及設(shè)于 該第二介電層中的多個(gè)導(dǎo)電盲孔,所述多個(gè)導(dǎo)電盲孔電性連接該第一線路層 與該第二線路層,且最外層的該第二線路層具有多個(gè)第二電性接觸墊,其中, 該第二介電層的熱膨脹系數(shù)落于10~30ppm/℃的范圍內(nèi);
于該增層結(jié)構(gòu)表面形成一絕緣保護(hù)層,其中,該絕緣保護(hù)層具有多個(gè)開 孔顯露最外層該第二線路層的所述多個(gè)第二電性接觸墊;以及
對(duì)應(yīng)該離型膜周緣以內(nèi)切割該絕緣保護(hù)層、該增層結(jié)構(gòu)、該金屬層、該 離型膜、以及該第一介電層,以自該增層結(jié)構(gòu)上移除該承載板,使所述多個(gè) 第一電性接觸墊嵌入并外露于該第二介電層表面。
9.如權(quán)利要求8所述的無核層封裝基板的制法,還包括于該第一電性接 觸墊及所述多個(gè)開孔顯露的所述多個(gè)第二電性接觸墊上形成一表面處理層。
10.如權(quán)利要求8所述的無核層封裝基板的制法,于切割之前還包括于所 述多個(gè)開孔顯露的所述多個(gè)第二電性接觸墊表面,形成多個(gè)電鍍金屬凸塊。
11.如權(quán)利要求10所述的無核層封裝基板的制法,還包括于該第一電性 接觸墊及所述多個(gè)電鍍金屬凸塊上形成一表面處理層。
12.如權(quán)利要求8所述的無核層封裝基板的制法,其中,該第二介電層的 楊格系數(shù)超過8GPa。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
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H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





