[發明專利]點膠機回授控制方法有效

申請號：	200910210983.0	申請日：	2009-11-13
公開（公告）號：	CN102064270A	公開（公告）日：	2011-05-18
發明（設計）人：	黃宏岳	申請（專利權）人：	黃宏岳
主分類號：	H01L33/52	分類號：	H01L33/52;H01L21/56;H01L21/66
代理公司：	北京申翔知識產權代理有限公司 11214	代理人：	周春發;艾晶
地址：	中國臺灣桃園縣***	國省代碼：	中國臺灣;71
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摘要：
搜索關鍵詞：	點膠機回授控制方法
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【說明書】：

技術領域

本發明是有關一種發光二極管點膠控制系統，尤指一種可供即時發現不良品，并立即對相關資訊回授至點膠單元，以供即時修正不良率的點膠機回授控制系統，以及與其相關的回授控制方法。

背景技術

隨著電子制造業技術的不斷進步，制造過程中各環節的相關設備的速度及精密度需求逐漸提高，用來封裝電子元件的點膠設備亦隨之產生對應需求。例如，SMD型發光二極管因為可以在制造過程當中，將金屬料片、鋁基板或載板沖壓成型具有復數個供做為SMD型發光二極管導線架的“部件”，因此尤適合利用自動設備對料片上呈矩陣排列的部件進行點膠、晶粒封裝等加工制程。

在既有的技術領域當中，習用發光二極管元件自動點膠設備是經由控制點膠頭位移的方式，透過點膠頭的單一針筒或復數個排列針筒對每一個單位料片上的所有發光二極管元件進行點膠動作。至于，點膠頭的移動方式及各針筒的點膠時機及點膠量則受控制單元所設定的模式運作。

因此在進行實際的點膠作業時，點膠機是依照預設的動作模式對料片上所有的發光二極管元件點膠；每一次點膠動作，是讓同一點膠頭的所有針筒依照相同的點膠時間或壓力控制其點膠量，但當點膠作業進行一段時間之后，針筒難免會因會受熱或其它因素而變形，因此影響正常的出膠量；故，必須在完成點膠作業之后，逐一對每一個完成點膠封裝的發光二極管元件進行檢測，習用的檢測方法是利用光譜儀讀取部件所產生的光源并進行比對，例如發光二極管元件出光偏藍即判定點膠量太低、發光二極管元件出光偏黃即判定點膠量太高的方式判別不良品。

然而，一般發光二極管元件的點膠流程依序，如圖11所示包括有：點膠、干燥、下料(切割形成單顆發光二極管元件)、單顆測試、光學全檢(依測試情形子以分級)，及最后的包裝等加工步驟，因此當檢出有不良品時，事實上距離先前的點膠動作已經過冗長的干燥步驟，跟本無法即時回授相關的修正動作、無法即時修正不良率，并造成膠料及半成品零件的浪費。

發明內容

有鑒于此，本發明即在提供一種可供即時發現不良品，并立即對相關資訊回授至點膠單元，以供即時修正不良率的點膠機回授控制系統，以及與其相關的回授控制方法，為其主要目的。

為達上述目的，本發明的點膠機回授控制系統是在點膠單元之后緊著設有一測試比對單元，該測試比對單元是具有一供電組件及一出光特性比對組件，主要由供電組件逐一或選擇性對各完成點膠動作的發光二極管元件供電，使各發光二極管元件達到出光效果，并由出光特性比對組件就各發光二極管元件的出光特性與資料庫的參數進行比對，并將相關比對測試資訊回授至點膠單元，供即時修正出膠量，以達到即時修正不良率的功效。

本發明次一目的是在該測試比對單元之后依序設有一干燥單元分別對所有完成點膠的發光二極管元件進行烘干流程，以及設有一下料單元對發光二極管元件進行下料流程，該下料單元是可同時接收該測試比對單元的相關比對測試資訊，以直接將判定為不良品的發光二極管元件保留或剔除，僅將判定為良品的發光二極管元件進入后續的包裝單元進行包裝流程，大幅提升發光二極管元件的產能。

附圖說明

圖1是為本發明點膠機回授控制系統的基本組成架構方塊示意圖；

圖2是為本發明中測試比對單元的外觀結構圖；

圖3是為本發明第一實施例的供電組件對發光二極管元件供電的動作示意圖；

圖4是為本發明第二實施例的供電組件對發光二極管元件供電的動作示意圖；

圖5是為判定為良品的發光二極管元件光型影像示意圖；

圖6是為判定為膠量不足的發光二極管元件光型影像示意圖；

圖7是為判定為膠量超出預定范圍的發光二極管元件光型影像示意圖；

圖8是為依照光型影像面積變化推算膠量進而推算出的點膠量曲線圖；

圖9是為本發明點膠機回授控制方法的流程示意圖；

圖10是為本發明測試比對單元進行比對測試的流程示意圖；

圖11是為習有點膠機回授控制方法的流程示意圖。