[發(fā)明專利]點膠機回授控制方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200910210983.0 | 申請日： | 2009-11-13 |
| 公開（公告）號： | CN102064270A | 公開（公告）日： | 2011-05-18 |
| 發(fā)明（設計）人： | 黃宏岳 | 申請（專利權(quán)）人： | 黃宏岳 |
| 主分類號： | H01L33/52 | 分類號： | H01L33/52;H01L21/56;H01L21/66 |
| 代理公司： | 北京申翔知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11214 | 代理人： | 周春發(fā);艾晶 |
| 地址： | 中國臺灣桃園縣*** | 國省代碼： | 中國臺灣;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 點膠機回授 控制 方法 | ||
1.一種點膠機回授控制方法，其特征在于，是依序包括有下列步驟：
a.由一點膠單元以每次一預定數(shù)量的方式對料片上的所有發(fā)光二極管元件進行點膠；
b.由一測試比對單元對完成點膠動作的發(fā)光二極管元件供電，使各發(fā)光二極管元件達到出光效果，再就各發(fā)光二極管元件的出光特性進行比對，并將相關比對測試資訊回授至點膠單元，可使該點膠單元依據(jù)該相關比對測試資訊來即時修正出膠量。
2.如權(quán)利要求1所述的點膠機回授控制方法，其特征在于，該測試比對單元具有一資料庫，而該步驟b是就各發(fā)光二極管元件的出光光型與資料庫所存取的參數(shù)進行比對。
3.如權(quán)利要求1所述的點膠機回授控制方法，其特征在于，依光型影像面積變化推算膠量，進而推算出點膠量曲線。
4.如權(quán)利要求1所述的點膠機回授控制方法，其特征在于，該測試比對單元具有一資料庫，而該步驟b是就各發(fā)光二極管元件的出光色澤與資料庫所存取的參數(shù)進行比對。
5.如權(quán)利要求1所述的點膠機回授控制方法，其特征在于，進一步結(jié)合有一光學全檢步驟，是由一光學全檢單元可對發(fā)光二極管元件進行分級。
6.如權(quán)利要求1所述的點膠機回授控制方法，其特征在于，該步驟b之后進一步結(jié)合有一步驟c，該步驟c由一干燥單元對完成點膠動作并完成測試比對的料片進行烘干。
7.如權(quán)利要求6所述的點膠機回授控制方法，其特征在于，該步驟c之后進一步結(jié)合有一步驟d，該步驟d是由一下料單元對發(fā)光二極管元件進行下料流程，該下料單元亦可接收該測試比對單元的相關比對測試資訊，僅將判定為良品的發(fā)光二極管元件進入后續(xù)的包裝單元進行包裝流程。
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