[發明專利]一種EEPROM器件測試電路及其測試方法

無效

• 申請號: 200910199596.1
• 申請日: 2009-11-27
• 公開（公告）號: CN102081973A
• 公開（公告）日: 2011-06-01
• 發明（設計）人: 劉新東
• 申請（專利權）人: 上海貝嶺股份有限公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 上海兆豐知識產權代理事務所(有限合伙) 31241
• 代理人: 章蔚強

技術領域

本發明涉及一種EEPROM器件測試電路及其測試方法。

背景技術

EEPROM存儲器在人們的生產、生活中具有廣泛的應用和前景。隨著存儲器容量的不斷提高、存儲器產品開發速度的不斷提升，快速、高效的產品測試能力逐漸成為整個產品開發過程中至關重要的環節。存儲器產品開發中如何找到一種快速、低成本的測試方法，即能滿足產品開發需要又可以靈活支持各種不同測試需求，以完成更復雜和更高批量的測試是擺在存儲器產品開發者面前必須解決的重要問題。

如圖1所示，傳統的EEPROM存儲器功能測試電路包括一控制器1’和連接在該控制器1’的IO口線上的n個被測器件2’，且控制器1’的每根IO口線上最多可并聯8個被測器件2’，即8個被測器件2’的IO口共用一條數據線與控制器1’連接。然而因為控制器1’驅動能力的限制，不可能同時測試更多的被測器件2’；另外，因為被測器件2’并不一定具有片選地址線，因此，控制器1’將不能時時監控每個被測器件2’的狀態。

發明內容

為了解決上述現有技術存在的問題，本發明旨在提供一種EEPROM器件測試電路及其測試方法，以有效提高測試效率、降低測試成本，實現每個被測器件的時時檢測，同時使測試數據豐富直觀。

本發明之一所述的一種EEPROM器件測試電路，它包括一主控制單元、若干個與所述主控制單元連接的從控制單元和若干個分別與每個從控制單元連接的被測單元，

所述主控制單元通過串行通訊方式一方面向所述從控制單元輸出一啟動信號，另一方面接收并顯示從所述從控制單元輸出的數據信息，并存儲相應的統計信息；

所述從控制單元根據所述主控制單元輸出的啟動信號，一方面向該主控制單元輸出一識別字符，另一方面接收被測單元輸出的狀態信號，并存儲相應的數據信息；

所述被測單元通過并行通訊方式與所述從控制單元連接。

在上述的EEPROM器件測試電路中，所述從控制單元的個數不大于128個，與每個控制單元連接的被測單元的個數不大于16個。

本發明之二所述的一種上述EEPROM器件測試電路的測試方法，包括下列步驟，

步驟一，主控制單元向從控制單元發送啟動命令；

步驟二，從控制單元接收到步驟一中所述的啟動命令后，向主控制單元返回一識別字符并啟動對被測單元的測試，實時檢測被測單元的狀態；

步驟三，若步驟二中所述的任一被測單元出現故障，則與該被測單元連接的從控制單元存儲該被測單元的數據信息，該信息包括故障原因、故障時間和故障器件標識號；若被測單元未出現故障，則返回步驟二；

步驟四，主控制單元根據預設的從控制單元的編號，采用輪詢方式選中指定的從控制單元；

步驟五，當步驟四中所述的從控制單元中存儲有步驟三中所述的數據信息時，主控制單元命令該從控制單元返回數據信息；

步驟六，當主控制單元接收到步驟五中所述的數據信息后，顯示該數據信息并存儲相應的統計信息。

由于采用了上述的技術解決方案，本發明的測試電路和測試方法均通過采用并行實時測試、串行輪詢檢測的工作原理，實現了批量器件的測試，且最大器件測試數量可以達到128*16顆，并做到了實時監控，在高低溫測試、壽命測試等質量測試中可以及時確認故障器件問題發生的狀態、時間、階段，這對于分析產品良率，保證產品質量具有重要意義。

附圖說明

圖1是傳統的EEPROM存儲器功能測試電路的結構框圖；

圖2是本發明的一種EEPROM器件測試電路的結構框圖。

具體實施方式

下面結合附圖，對本發明的實施例進行詳細說明。

如圖2所示，本發明的一種EEPROM器件測試電路，包括一主控制單元1、若干個與主控制單元1連接的從控制單元2和若干個分別與每個從控制單元2連接的被測單元3，其中，

主控制單元1通過串行通訊方式一方面向從控制單元2輸出一啟動信號，另一方面接收并顯示從從控制單元2輸出的數據信息，并存儲相應的統計信息；

從控制單元2根據主控制單元1輸出的啟動信號，一方面向該主控制單元1輸出一識別字符，另一方面接收被測單元3輸出的狀態信號，并存儲相應的數據信息；

被測單元3通過并行通訊方式，即控制線共用、IO口獨立的方式與從控制單元2連接；這樣能在保證從控制單元2時時監測每一個被測單元3的同時，最大化被測單元3的數量；以從控制單元2采用80C52型芯片為例，則每個從控制單元2可以測試16個8引腳的EEPROM器件，即與每個控制單元2連接的被測單元3的個數不大于16個。