[發明專利]一種EEPROM器件測試電路及其測試方法

無效

• 申請號: 200910199596.1
• 申請日: 2009-11-27
• 公開（公告）號: CN102081973A
• 公開（公告）日: 2011-06-01
• 發明（設計）人: 劉新東
• 申請（專利權）人: 上海貝嶺股份有限公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 上海兆豐知識產權代理事務所(有限合伙) 31241
• 代理人: 章蔚強

1.一種EEPROM器件測試電路，其特征在于，所述測試電路包括一主控制單元、若干個與所述主控制單元連接的從控制單元和若干個分別與每個從控制單元連接的被測單元，

所述主控制單元通過串行通訊方式一方面向所述從控制單元輸出一啟動信號，另一方面接收并顯示從所述從控制單元輸出的數據信息，并存儲相應的統計信息；

所述從控制單元根據所述主控制單元輸出的啟動信號，一方面向該主控制單元輸出一識別字符，另一方面接收被測單元輸出的狀態信號，并存儲相應的數據信息；

所述被測單元通過并行通訊方式與所述從控制單元連接。

2.根據權利要求1所述的EEPROM器件測試電路，其特征在于，所述從控制單元的個數不大于128個，與每個控制單元連接的被測單元的個數不大于16個。

3.一種基于權利要求1的EEPROM器件測試電路的測試方法，其特征在于，所述的測試方法包括下列步驟，

步驟一，主控制單元向從控制單元發送啟動命令；

步驟二，從控制單元接收到步驟一中所述的啟動命令后，向主控制單元返回一識別字符并啟動對被測單元的測試，實時檢測被測單元的狀態；

步驟三，若步驟二中所述的任一被測單元出現故障，則與該被測單元連接的從控制單元存儲該被測單元的數據信息，該信息包括故障原因、故障時間和故障器件標識號；若被測單元未出現故障，則返回步驟二；

步驟四，主控制單元根據預設的從控制單元的編號，采用輪詢方式選中指定的從控制單元；

步驟五，當步驟四中所述的從控制單元中存儲有步驟三中所述的數據信息時，主控制單元命令該從控制單元返回數據信息；

步驟六，當主控制單元接收到步驟五中所述的數據信息后，顯示該數據信息并存儲相應的統計信息。