[發明專利]地址檢測電路和地址檢測方法

無效

• 申請號: 200910173459.0
• 申請日: 2009-09-18
• 公開（公告）號: CN101676998A
• 公開（公告）日: 2010-03-24
• 發明（設計）人: 中川貴史
• 申請（專利權）人: 恩益禧電子股份有限公司
• 主分類號: G11B7/00
• 分類號: G11B7/00;G11B19/02
• 代理公司: 中原信達知識產權代理有限責任公司
• 代理人: 孫志湧;穆德駿

1.一種地址檢測電路，包括：

校正信號生成器，所述校正信號生成器基于從光盤的擺動讀出的ADIP(預刻槽地址)信號生成多個時序校正信號，所述時序校正信號彼此具有不同的周期；

校正信號選擇器，所述校正信號選擇器選擇由所述校正信號生成器生成的所述時序校正信號中的一個并且輸出被選擇的信號；以及

時序校正器，所述時序校正器在根據從所述校正信號選擇器傳輸的所述時序校正信號的時序輸出基于從所述光盤的數據軌道讀出的數據信號檢測到的數據地址。

2.根據權利要求1所述的地址檢測電路，進一步包括：

第一數據地址保持電路，所述第一數據地址保持電路保持所述數據地址并且在根據從所述數據信號生成的數據同步信號的時序將所述數據地址輸出至所述時序校正器。

3.根據權利要求2所述的地址檢測電路，其中所述時序校正器包括：

第二數據地址保持電路，所述第二數據地址保持電路保持并且輸出所述數據地址；和

控制器，所述控制器在根據從所述校正信號選擇器傳輸的所述時序校正信號的時序將保持在所述第一地址保持電路中的所述數據地址傳輸至所述第二數據地址保持電路。

4.根據權利要求2所述的地址檢測電路，進一步包括：

數據地址檢測器，所述數據地址檢測器從所述數據信號檢測所述數據地址；和

數據同步信號生成器，所述數據同步信號生成器從所述數據信號生成所述數據同步信號。

5.根據權利要求1所述的地址檢測電路，其中所述校正信號生成器包括：

多個判斷單元，所述多個判斷單元判斷從所述ADIP信號檢測到的ADIP同步信號的每個周期是否是特定的周期；和

多個校正信號生成單元，所述多個校正信號生成單元根據所述判斷單元的判斷結果生成所述時序校正信號。

6.根據權利要求5所述的地址檢測電路，進一步包括：

ADIP地址保持電路，所述ADIP地址保持電路保持從所述ADIP信號檢測到的ADIP地址，其中

所述校正信號生成器還生成時序信號，所述時序信號確定所述ADIP地址保持電路接收所述ADIP地址的時序。

7.根據權利要求6所述的地址檢測電路，其中所述校正信號生成器包括：

第一判斷單元，所述第一判斷單元判斷從所述ADIP信號生成的第一ADIP同步信號的周期是否是預定的周期；

第二判斷單元，所述第二判斷單元判斷從所述ADIP信號生成的第二ADIP同步信號的周期是否是預定的周期；

第三判斷單元，所述第三判斷單元判斷被提供給所述ADIP地址保持電路的所述ADIP地址的連續性；

第一校正信號生成單元，所述第一校正信號生成單元基于所述第一判斷單元的判斷結果生成第一時序校正信號；

時序信號生成單元，所述時序信號生成單元基于所述第二判斷單元的判斷結果生成所述時序信號；以及

第二校正信號生成單元，所述第二校正信號生成單元基于所述第三判斷單元的判斷結果接收并且保持所述ADIP地址并且基于保持的ADIP地址生成第二時序校正信號。

8.根據權利要求6所述的地址檢測電路，進一步包括：

ADIP地址檢測器，所述ADIP地址檢測器從所述ADIP信號檢測所述ADIP地址；和

第二同步信號生成器，所述第二同步信號生成器從所述ADIP信號生成所述同步信號。

9.一種檢測指示光盤上的位置的地址的地址檢測方法，所述方法包括：

基于從所述光盤的擺動讀出的ADIP(預刻槽地址)信號生成多個時序校正信號，所述時序校正信號彼此具有不同的周期；

選擇所述多個時序校正信號中的一個；以及

在根據所選擇的時序控制信號的時序輸出基于從所述光盤的數據軌道讀出的數據信號檢測到的數據地址。

10.根據權利要求9所述的地址檢測方法，進一步包括在根據從所述數據信號生成的數據同步信號的時序保持并且輸出所述數據地址。

11.根據權利要求10所述的地址檢測方法，進一步包括在根據選擇的所述時序校正信號的時序將保持在第一地址保持單元中的所述數據地址傳輸到第二數據地址保持單元。