[發(fā)明專利]氧化的共形覆蓋層無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200910173342.2 | 申請日: | 2009-07-23 |
| 公開(公告)號: | CN101685639A | 公開(公告)日: | 2010-03-31 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | S·D·哈克尼斯四世;Z·S·吳 | 申請(專利權(quán))人: | 希捷科技有限公司 |
| 主分類號: | G11B5/62 | 分類號: | G11B5/62;G11B5/72;G11B5/84 |
| 代理公司: | 上海專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 | 代理人: | 項 丹 |
| 地址: | 美國加利*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 氧化 覆蓋層 | ||
背景技術(shù)
相比于縱向介質(zhì),垂直記錄介質(zhì)正被開發(fā)用于高密度記錄。薄膜垂直磁記 錄介質(zhì)包括襯底和具有垂直磁各向異性的磁性層,其中的磁性層包括基本上沿 著垂直于磁性層平面的方向取向的易磁化軸。通常,該薄膜垂直磁記錄介質(zhì)包 括硬NiP鍍覆的Al合金襯底,或者可選地為玻璃或者玻璃-陶瓷襯底,和接連 的濺鍍層。該濺鍍層可以包含一層或多層底基層,一層或多層磁性層,和保護 性覆層。該保護性覆層通常是碳保護覆層,其保護磁性層避免被腐蝕和氧化, 并且也減少了在圓盤和讀/寫磁頭之間的摩擦力。此外,滑潤劑薄層可以被涂覆 至保護性覆層的表面,通過減少保護性覆層的摩擦和磨損以改善磁頭-圓盤界面 的摩擦學(xué)性能。
顆粒狀垂直記錄介質(zhì)正被開發(fā),因為相比于受限于磁性晶粒之間存在的強 交換耦合的傳統(tǒng)垂直磁記錄介質(zhì),其能夠進一步擴大單位面積的記錄密度。與 其中的磁性層通常是在惰性氣體存在下、最常見的是氬氣(Ar)存在下被濺射的傳 統(tǒng)垂直介質(zhì)相反,顆粒狀垂直磁性層的沉積使用反應(yīng)性濺射技術(shù),其中氧被導(dǎo) 入,例如,以Ar和O2的氣體混合物形式。不期望受限于理論,相信O2的導(dǎo)入 提供了氧源,其遷移進入晶界,在晶界中形成氧化物,從而提供了顆粒狀的垂 直結(jié)構(gòu),其具有減少的晶粒間的交換耦合。
用于制備顆粒狀垂直記錄介質(zhì)的工藝和原料產(chǎn)生了傾向于嚴重腐蝕的微結(jié) 構(gòu)。為了減少整個保護覆層的厚度并保持其腐蝕性能,有時候需要將覆蓋層與 碳保護覆層聯(lián)合使用。傳統(tǒng)的方法包括施加金屬覆蓋層,并有意而控制地氧化 覆蓋層表面。這種方法的主要缺點是存在經(jīng)常地(如果不是一直地)不完全的表面 覆蓋,使得表面易于出現(xiàn)點蝕。
該問題的解決辦法是更厚的覆蓋層或碳保護覆層以改善表面的覆蓋。然而, 更厚的膜層對記錄性能是有害的。從而,存在著對能均勻地覆蓋整個表面的耐 腐蝕覆蓋層的需求,以阻止環(huán)境物質(zhì)在局部的積聚和腐蝕。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明涉及具有覆蓋層的磁記錄介質(zhì),其中的覆蓋層含有具備高表面遷移 率和低表面能的材料。
本發(fā)明的一個實施方案是以如下順序包含有襯底、顆粒磁性層、覆蓋層、 和直接置于覆蓋層上的含碳或含硅的保護覆層的磁記錄介質(zhì),其中的覆蓋層包 含具備高表面遷移率和低表面能的材料。在一個實施方案中,該材料具有低于 2600K的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度和低于2.6J/m2的表面能。依照一種變型,該覆蓋層包 含鈍化性氧化物。
在另一個實施方案中,該覆蓋層含有選自下組的材料:體心立方金屬、面 心立方金屬、和其氧化物或合金。例如,該覆蓋層可以含有選自下組的材料: Ti、Cr、Ta、Ag、Cu、其氧化物,和它們的合金。在一個具體實施方案中,該 材料是TiCr或TiO2。
另一個實施方案是制備磁記錄介質(zhì)的方法,包括依序獲取襯底,沉積顆粒 磁性層,沉積覆蓋層,和直接在磁性覆蓋層上沉積含碳或含硅的保護覆層,其 中的覆蓋層含有具備高表面遷移率和低表面能的材料。
在該實施方案的一個變型中,覆蓋層是濺射沉積至顆粒磁性層上,并且其 表面被氧化。在另一個變型中,覆蓋層是通過濺射沉積氧化物至顆粒磁性層上 而形成。
另一個實施方案是用于磁記錄介質(zhì)的覆蓋層,其含有具備高表面遷移率和 低表面能的材料。
通過下面詳細的說明,本發(fā)明的其他的優(yōu)點對于本領(lǐng)域技術(shù)人員而言將是 顯而易見的,其中,通過圖解說明預(yù)期實現(xiàn)本發(fā)明的最佳模式,僅展示并描述 了本發(fā)明的優(yōu)選實施方式。正如可被獲知的,本發(fā)明將能夠是其他的和不同的 實施方式,并且其細節(jié)能夠在各個顯而易見的方面進行改動,所有的都不脫離 本發(fā)明。因此,下面的附圖和說明實質(zhì)上應(yīng)被當(dāng)作是舉例而不是限制。
附圖說明
當(dāng)結(jié)合附圖時,本發(fā)明將參考“具體實施方式”而被更好地理解,其中:
圖1示意性地展示了磁盤記錄介質(zhì),比較了縱向和垂直磁記錄。
圖2展示了顆粒狀垂直磁記錄介質(zhì)。
圖3展示了依照本發(fā)明的一個方面的覆蓋層,和置于顆粒狀垂直磁性層上 的保護性覆層。
具體實施方式
本發(fā)明涉及具有覆蓋層的顆粒狀垂直磁記錄介質(zhì),該覆蓋層是由具備高表 面遷移率和低表面能的材料構(gòu)成。具備“高表面遷移率”的材料是具有低于2600K 的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度的材料。具備“低表面能”的材料是具有低于2.6J/m2的表面能 的材料。
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