[發(fā)明專利]一維納米結(jié)構(gòu)的制造方法及其裝置無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200910167281.9 | 申請日: | 2009-09-02 |
| 公開(公告)號: | CN101665914A | 公開(公告)日: | 2010-03-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 伊藤大輔 | 申請(專利權(quán))人: | 索尼株式會社 |
| 主分類號: | C23C14/28 | 分類號: | C23C14/28;C23C14/08;B82B3/00;H01L49/00 |
| 代理公司: | 北京信慧永光知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 | 代理人: | 褚海英;武玉琴 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 納米 結(jié)構(gòu) 制造 方法 及其 裝置 | ||
相關(guān)申請的交叉引用
本申請包含與2008年9月2日向日本專利局提交的日本專利申請JP2008-224637的公開內(nèi)容相關(guān)的主題并要求該申請的優(yōu)先權(quán),將其全部內(nèi)容通過引用并入此處。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一維納米結(jié)構(gòu)的制造方法及其裝置。更具體地,本發(fā)明涉及包括二氧化釩作為基材的納米線的制造方法及其裝置。
背景技術(shù)
盡管化合物二氧化釩在室溫下為單斜晶型晶體,然而其在接近68℃的溫度下會經(jīng)歷金屬-絕緣體相變,并轉(zhuǎn)變?yōu)榻鸺t石型晶體。據(jù)報道,此時二氧化釩的電阻值會變化三個數(shù)量級以上(參見P.Jin與S.Tanemura,Jpn.J.Appl.Phys.331478(1994))。由于電阻隨溫度的變化率大,二氧化釩被用作測輻射熱儀(bolometer)型紅外線溫度傳感器。
此外,由于二氧化釩存在不同于上述晶相的另一晶相結(jié)構(gòu),該晶相結(jié)構(gòu)記為VO2(B)并不表現(xiàn)出金屬-絕緣體相變,具有表現(xiàn)出單斜到金紅石型相變的結(jié)構(gòu)的二氧化釩通常表示為VO2(M)(單斜晶型)或VO2(R)(金紅石型)。在下面描述中,將具有表現(xiàn)出相變的結(jié)構(gòu)的二氧化釩表示為VO2(M)。
此外,據(jù)報道,包括VO2(M)的薄膜在電場下會經(jīng)歷金屬-絕緣體相變,該薄膜作為場效應(yīng)晶體管或開關(guān)元件的可能性已被考慮(參見H-T.Kim等,Applied?Physics?Letters?86,242101(2005))。
以前有人報道了通過濺射等使VO2(M)薄膜結(jié)晶化(參見日本未審查專利申請公報2007-224390號(26~39段)以及2007-515055號(11和32段))。然而,由于這些VO2(M)薄膜形成為具有多晶結(jié)構(gòu),每單位面積的晶粒的數(shù)目、晶體取向的平面及晶粒的大小不同,難以發(fā)生均勻的相變。
為了消除該困難,有人公開了形成VO2(M)單晶結(jié)構(gòu)的方法(參見B.Guiton等,JACS,127,498(2005))。然而,VO2(M)單晶結(jié)構(gòu)非常難以形成,且僅有少數(shù)關(guān)于其形成的報道(參見M.Luo等,Materials?Chemistryand?Physics,104,258(2007))。另一方面,VO2(B)可相對容易地形成且?guī)缀跛袌蟮蓝际巧婕癡O2(B)的形成。
特別是關(guān)于包括VO2(M)單晶的納米線的制造方法,僅發(fā)現(xiàn)兩個報道的例子(參見B.Guiton等,JACS,127,498(2005)以及J.Sohn等,Nano?Lett.,7,1570(2007))。這些制造方法涉及使用VO2(M)晶體粉末通過加熱進(jìn)行蒸發(fā)(氣-固(VS)方法)。
盡管上述使用VO2晶體粉末的VS方法可制造包括單晶VO2(M)的納米線,然而據(jù)報道,納米線的生長溫度處于600℃~1100℃的范圍中(即,根據(jù)B.Guiton等,JACS,127,498(2005)為900℃~1000℃,以及根據(jù)J.Sohn等,Nano?Lett.,7,1570(2007)為600℃~700℃)。因此,需要高的生長溫度并還需要長達(dá)二~五個小時的生長時間。此外,由于用于制造VO2(M)晶體和用于形成納米線的技術(shù)訣竅起著相當(dāng)大的作用,故該方法不僅再現(xiàn)性不足,而且不適合大規(guī)模生產(chǎn),并且這成為實際應(yīng)用的主要障礙之一。
具體地,在使用半導(dǎo)體Si制造半導(dǎo)體器件的過程中,為了使納米線與Si器件組合安裝并形成于玻璃基板上,需要低的溫度和高速的制造過程。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明期望提供一種能夠以足夠的再現(xiàn)性在相對低的溫度下并高速地形成一維納米結(jié)構(gòu)的方法與裝置,所述一維納米結(jié)構(gòu)例如是VO2(M)納米線等。
根據(jù)本發(fā)明的實施例,提供了一維納米結(jié)構(gòu)的制造方法,該方法包括以下步驟:面向基板布置含釩的靶,在上述狀態(tài)下以激光照射靶,以及在壓力條件下將升華物質(zhì)沉積到基板,從而使得由照射產(chǎn)生的包括靶升華物質(zhì)和環(huán)境氣體的等離子體(羽流)基本上不會到達(dá)基板,從而形成諸如VO2(M)納米線等一維納米結(jié)構(gòu)。
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C23C14-00 通過覆層形成材料的真空蒸發(fā)、濺射或離子注入進(jìn)行鍍覆
C23C14-02 .待鍍材料的預(yù)處理
C23C14-04 .局部表面上的鍍覆,例如使用掩蔽物
C23C14-06 .以鍍層材料為特征的
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