[發明專利]滾動碼產生系統與產生方法有效
| 申請號: | 200910163412.6 | 申請日: | 2009-08-19 |
| 公開(公告)號: | CN101996854A | 公開(公告)日: | 2011-03-30 |
| 發明(設計)人: | 陳福泰;張家憲 | 申請(專利權)人: | 京元電子股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/00 | 分類號: | H01L21/00;H01L21/66 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人: | 周國城 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 滾動 產生 系統 方法 | ||
技術領域
本發明涉及用于集成電路元件測試的滾動碼產生系統與產生方法,特別是有關于一種可以直接在測試機(tester)中的載體隨機存取內存(vector?ram)上直接進行操作的滾動碼產生系統與產生方法。
背景技術
現有行技術中,在整片晶片中的集成電路元件上的編號都為同一編碼,因此在后段工藝中,若有任一單一集成電路元件有異常時,只能查詢到它是屬于哪一片晶片,但不知道此異常的集成電路元件現有作過何種測試,測試結果或信息為何,亦不清楚是從哪一家測試廠商進行測試、制作或包裝等問題。
此外,前述的在集成電路元件上編碼的操作方式也有許多缺點,一般來說要將所有需要寫入集成電路元件上的模板(pattern),一次都準備好,并下載至測試機的載體隨機存取內存中,因為載體隨機存取內存主要是放置測試集成電路元件數據之處,之后在進行測試時,需依據不同種類的測試方式來選擇不同的模板并執行寫入的動作。雖然此作法可以達到寫入編碼的目的,但因為早期欲寫入的編碼數據少,且需要寫入的編碼數據是很固定的,因此不需要占用大量、昂貴的載體隨機存取內存的資源。但若是欲寫入的編碼數據多,則測試機的載體隨機存取內存無法提供足夠的空間供寫入。又若是遇到復雜需要計算的模板,例如:要寫入的編碼數據是測試完成后的信息,則此測試完成后的信息為不固定數據且需要再經過計算,則此種情況,將因無法事先可以備妥固定的模板,而無法進行寫入編碼的操作。
發明內容
為了解決上述現有技術不盡理想之處,本發明提供一種滾動碼產生系統,包含一載體隨機存取內存、數據下載模塊、第一運算模塊、修正模塊、執行模塊、確認模塊、紀錄檢索模塊、第二運算模塊及驗證模塊。通過上述滾動碼產生系統,可產生一滾動碼,且進一步可將上述的滾動碼寫入測試中的集成電路元件中。
一種滾動碼產生系統,用于集成電路元件測試的測試機中,以產生一滾動碼,且將該滾動碼寫入測試中的一集成電路元件中,其中,該滾動碼產生系統包括:
一載體隨機存取內存;
一數據下載模塊,用以讀取一測試模板、一比較模板以及一寫入數據,
并將該測試模板與該比較模板下載至該載體隨機存取內存中,其中該
測試模板包含一空白區,以供寫入一滾動碼;
一第一運算模塊,將該寫入數據進行運算而得到一滾動碼;
一修正模塊,將該滾動碼寫入至該測試模板的空白區,藉以形成一修正模板;
一執行模塊,將該修正模板寫入至測試中的集成電路元件,并自該集成電路元件內的修正模板輸出至該載體隨機存取內存內,以形成一寫入范本;
一確認模塊,自該集成電路元件的修正模板中取得該滾動碼;
一紀錄檢索模塊,檢索該寫入模板與該比較模板二者比較的差異,以產生的一修正紀錄;
一第二運算模塊,將該修正紀錄進行反運算,以獲得一反運算滾動碼;以及
一驗證模塊,將該確認模塊取得的滾動碼及反運算滾動碼的內容進行驗證比對,以確認該滾動碼為正確。
因此,本發明的主要目的在于提供一種滾動碼產生系統,可同時對多個集成電路元件寫入不相同的滾動碼,因此各集成電路元件具有單一性及加密性。
本發明的次要目的在于提供一種滾動碼產生系統,可同時對多個集成電路元件寫入不相同的滾動碼,因此具有較大的操作彈性。
本發明的另一目的在于提供一種滾動碼產生系統,可寫入各種復雜的滾動碼程序,因此具有較大的操作彈性。
本發明的另一目的在于提供一種滾動碼產生系統,通過直接將滾動碼寫入載體隨機存取內存中,所以寫入的速度快,且不會損失測試機的效能。
本發明的再一目的在于提供一種滾動碼產生系統,操作時不需要把所有的范本皆下載至載體隨機存取內存中,因此可以減少載體隨機存取內存的使用量。
本發明的再一目的在于提供一種滾動碼產生系統,其中具有一驗證模塊,可防止寫入錯誤的滾動碼。
此外,本發明進一步提供一種滾動碼產生方法,包含以下步驟:
提供一載體隨機存取內存;
自數據下載模塊中,讀取測試模板、比較模板以及寫入數據;
下載上述的測試模板與比較模板至載體隨機存取內存中,其中測試模板包含一空白區,以供寫入滾動碼;
下載上述的寫入數據至第一運算模塊中,進行運算后得到滾動碼;
自修正模塊將上述的滾動碼寫入至測試模板的空白區,以形成一修正模板;
將修正模板寫入至測試中的集成電路元件上;
自集成電路元件內的修正模板輸出至載體隨機存取內存內,以形成一寫入范本;
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





