[發(fā)明專利]滾動碼產(chǎn)生系統(tǒng)與產(chǎn)生方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200910163412.6 | 申請日: | 2009-08-19 |
| 公開(公告)號: | CN101996854A | 公開(公告)日: | 2011-03-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 陳福泰;張家憲 | 申請(專利權(quán))人: | 京元電子股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/00 | 分類號: | H01L21/00;H01L21/66 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021 | 代理人: | 周國城 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 滾動 產(chǎn)生 系統(tǒng) 方法 | ||
1.一種滾動碼產(chǎn)生系統(tǒng),用于集成電路元件測試的測試機中,以產(chǎn)生一滾動碼,且將該滾動碼寫入測試中的一集成電路元件中,其特征在于,該滾動碼產(chǎn)生系統(tǒng)包括:
一載體隨機存取內(nèi)存;
一數(shù)據(jù)下載模塊,用以讀取一測試模板、一比較模板以及一寫入數(shù)據(jù),并將該測試模板與該比較模板下載至該載體隨機存取內(nèi)存中,其中該測試模板包含一空白區(qū),以供寫入一滾動碼;
一第一運算模塊,將該寫入數(shù)據(jù)進行運算而得到一滾動碼;
一修正模塊,將該滾動碼寫入至該測試模板的空白區(qū),藉以形成一修正模板;
一執(zhí)行模塊,將該修正模板寫入至測試中的集成電路元件,并自該集成電路元件內(nèi)的修正模板輸出至該載體隨機存取內(nèi)存內(nèi),以形成一寫入范本;
一確認模塊,自該集成電路元件的修正模板中取得該滾動碼;
一紀錄檢索模塊,檢索該寫入模板與該比較模板二者比較的差異,以產(chǎn)生的一修正紀錄;
一第二運算模塊,將該修正紀錄進行反運算,以獲得一反運算滾動碼;以及
一驗證模塊,將該確認模塊取得的滾動碼及反運算滾動碼的內(nèi)容進行驗證比對,以確認該滾動碼為正確。
2.依據(jù)權(quán)利要求1所述的滾動碼產(chǎn)生系統(tǒng),其特征在于,所述寫入該集成電路元件上的滾動碼選自于由連續(xù)的編號、序號、批號、刻號、晶片編號和測試的信息所構(gòu)成的群組。
3.依據(jù)權(quán)利要求2所述的滾動碼產(chǎn)生系統(tǒng),其特征在于,該滾動碼產(chǎn)生系統(tǒng)同時對多個集成電路元件寫入相異的滾動碼。
4.依據(jù)權(quán)利要求2所述的滾動碼產(chǎn)生系統(tǒng),其特征在于,該滾動碼產(chǎn)生系統(tǒng)同時對多個集成電路元件寫入相同的滾動碼。
5.一種滾動碼產(chǎn)生方法,用于集成電路元件的測試中,以產(chǎn)生一滾動碼,且將該滾動碼寫入測試中的集成電路元件中,其特征在于,該滾動碼產(chǎn)生方法包括:
提供一載體隨機存取內(nèi)存;
自一數(shù)據(jù)下載模塊中,讀取一測試模板、一比較模板以及一寫入數(shù)據(jù);下載該測試模板與該比較模板至該載體隨機存取內(nèi)存中,其中該測試模板包含一空白區(qū),以供寫入一滾動碼;
下載該寫入數(shù)據(jù)至一第一運算模塊中,進行運算后得到一滾動碼;
自該修正模塊將該滾動碼寫入至該測試模板的空白區(qū),藉以形成一修正模板;
將該修正范本寫入至測試中的集成電路元件上;
自該集成電路元件內(nèi)的修正模板輸出至該載體隨機存取內(nèi)存內(nèi),以形成一寫入范本;
自該集成電路元件的修正模板中取得該滾動碼至該確認模塊中;
自該紀錄檢索模塊中取得一修正紀錄,該修正紀錄比較該寫入模板與該比較模板二者的差異得以產(chǎn)生;
將該修正紀錄進行反運算,以計算出一反運算滾動碼;以及
將自該確認模塊取得的滾動碼及該反運算滾動碼的內(nèi)容進行驗證比對,以確認該滾動碼為正確。
6.依據(jù)權(quán)利要求5所述的滾動碼產(chǎn)生方法,其特征在于,該寫入該集成電路元件上的滾動碼選自于由連續(xù)的編號、序號、批號、刻號、晶片編號和測試的信息所構(gòu)成的群組。
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H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
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