[發明專利]厚度偵測機構

無效

• 申請號: 200910159137.0
• 申請日: 2009-07-14
• 公開（公告）號: CN101957180A
• 公開（公告）日: 2011-01-26
• 發明（設計）人: 潘永太
• 申請（專利權）人: 致伸科技股份有限公司
• 主分類號: G01B11/06
• 分類號: G01B11/06;B32B37/06;B02C18/00
• 代理公司: 北京潤平知識產權代理有限公司 11283
• 代理人: 周建秋

1.一種厚度偵測機構，用以偵測進入一電子設備的一待測物的厚度，其特征在于，包括：

偵測臂，用以于該待測物進入該電子設備時受待測物的抵頂而移動；其中該偵測臂未被該待測物抵頂時，該偵測臂位于一第一位置，而該偵測臂被該待測物抵頂時，該偵測臂位于一第二位置；以及

光學位移感測模塊，位于該偵測臂的一側，用以偵測該偵測臂由該第一位置移動至該第二位置的位移量而獲得該待測物的厚度。

2.如權利要求1所述的厚度偵測機構，其特征在于，該偵測臂具有一表面，位于該偵測臂的該側。

3.如權利要求2所述的厚度偵測機構，其特征在于，該光學位移感測模塊包括：

電路板；

光源，設置于該電路板上，用以產生一光束；

光學鏡片組，用以導引該光束投射于該偵測臂的該表面上；

傳感器，設置于該電路板上，用以接收被該表面反射的該光束并依據該被反射的光束而產生多個圖像信號；其中當該偵測臂位于該第一位置時該傳感器獲得一第一圖像信號，而當該偵測臂位于該第二位置時該傳感器獲得一第二圖像信號；以及

控制單元，設置于該電路板上，用以依據該第一圖像信號與該第二圖像信號計算該第一位置與該第二位置間的位移量。

4.如權利要求3所述的厚度偵測機構，其特征在于，該光學位移感測模塊還包括一固定罩，該固定罩設置于該電路板上，用以將該光源以及該傳感器固定于該電路板上。

5.如權利要求3所述的厚度偵測機構，其特征在于，該光學鏡片組包括：

第一光學透鏡，設置于該光源的前方，用以使來自該光源的該光束聚焦，并使被聚焦的該光束投射于該偵測臂的該表面上；以及

第二光學透鏡，用以接收自該偵測臂被表面反射的該光束并使該光束聚焦。

6.如權利要求5所述的厚度偵測機構，其特征在于，該光學鏡片組還包括一反射鏡模塊，用以改變該光束的方向而使該光束投射于該偵測臂的該表面上。

7.如權利要求6所述的厚度偵測機構，其特征在于，該反射鏡模塊包括第一反射鏡以及第二反射鏡，當該光源發射該光束時，該光束通過該第一光學透鏡，且被該第一反射鏡以及該第二反射鏡反射后投射于該偵測臂的該表面上，該光束被該表面反射并通過該第二光學透鏡投射于該傳感器上且被該傳感器接收。

8.如權利要求7所述的厚度偵測機構，其特征在于，該第一光學透鏡以及該第二光學透鏡為凸透鏡。

9.如權利要求7所述的厚度偵測機構，其特征在于，該光學鏡片組的該第一光學透鏡、該第二光學透鏡、該第一反射鏡以及該第二反射鏡為一體成型。

10.如權利要求3所述的厚度偵測機構，其特征在于，該光源為發光二極管或雷射二極管。

11.如權利要求3所述的厚度偵測機構，其特征在于，該控制單元為數字信號處理器。

12.如權利要求1所述的厚度偵測機構，其特征在于，還包括一殼體，用以包覆該偵測臂和該光學位移感測模塊。

13.如權利要求12所述的厚度偵測機構，其特征在于，還包括一彈簧，該彈簧的一端連接于該殼體，該彈簧的另一端連接于該偵測臂，用以于該待測物通過該厚度偵測機構后且該偵測臂不再被該待測物抵頂時，提供一彈性力而使該偵測臂由該第二位置回復至該第一位置。

14.如權利要求12所述的厚度偵測機構，其特征在于，該殼體還包括一支撐部，用以抵頂該偵測臂的另一側而防止該偵測臂于移動過程發生抖動。

15.如權利要求12所述的厚度偵測機構，其特征在于，該殼體還包括一滑槽，且該滑槽具有一滑槽底部。

16.如權利要求15所述的厚度偵測機構，其特征在于，該偵測臂還包括一伸出部，該伸出部位于該偵測臂的另一側，用以伸入該滑槽中，當該偵測臂位于該第一位置時，該伸出部被該滑槽底部支撐；而當該待測物通過該厚度偵測機構且抵頂該偵測臂時，該偵測臂移動而使該伸出部于該滑槽中移動。

17.如權利要求16所述的厚度偵測機構，其特征在于，該待測物通過該厚度偵測機構后該偵測臂不再被抵頂時，該偵測臂回復至該第一位置，且該伸出部回到該滑槽底部且被該滑槽底部支撐。