[發明專利]信息處理裝置、存取裝置、記錄介質、信息處理方法及信息處理程序

無效

• 申請號: 200910147032.3
• 申請日: 2005-10-14
• 公開（公告）號: CN101697279A
• 公開（公告）日: 2010-04-21
• 發明（設計）人: 宮下晴旬;南野順一;中島鍵
• 申請（專利權）人: 松下電器產業株式會社
• 主分類號: G11B7/004
• 分類號: G11B7/004;G11B19/02;G11B7/00;G11B7/007;G11B7/005;G11B7/24;G11B7/26
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 汪惠民

1.一種信息處理裝置，對記錄于記錄介質的規定信息進行處理，具備：

特性判別機構，其對所述記錄介質的反射特性進行判別；和

處理機構，其根據判別后的所述反射特性來處理所述規定信息，

所述反射特性，是指由所述記錄介質的記錄完畢區域反射的光的反射率即第一反射率大于由所述記錄介質的未記錄區域反射的光的反射率即第二反射率的第一特性、和所述第一反射率小于所述第二反射率的第二特性中的一方。

2.根據權利要求1所述的信息處理裝置，其特征在于，

所述特性判別機構，根據特性信息即記錄于所述記錄介質的、表示所述第一特性和所述第二特性中至少一方的信息，判別所述反射特性。

3.根據權利要求2所述的信息處理裝置，其特征在于，

所述記錄介質，具有多個記錄層，對與所述多個記錄層的各個的所述反射特性對應的所述特性信息進行記錄。

4.根據權利要求1所述的信息處理裝置，其特征在于，

所述特性判別機構，根據由所述記錄介質反射的光的反射大小，判別所述反射特性。

5.根據權利要求1所述的信息處理裝置，其特征在于，

所述處理機構包括調制度運算機構，該調制度運算機構按照所判別出的所述反射特性來計算所述規定信息的調制度。

6.一種光盤裝置，具備：

讀取機構，其對記錄于記錄介質的規定信息進行讀??；和

權利要求1所述的信息處理裝置，其對所讀取的所述規定信息進行處理。

7.一種記錄介質，是信息被光學地再生的記錄介質，

具有用于記錄表示所述記錄介質的特性的特性信息的特性信息保持區域，

所述特性信息，是表示所述記錄介質是具有第一特性的記錄介質、或者所述記錄介質是具有第二特性的記錄介質的信息，所述第一特性為由所述記錄介質的記錄完畢區域反射的光的反射率即第一反射率大于由所述記錄介質的未記錄區域反射的光的反射率即第二反射率，所述第二特性為所述第一反射率小于所述第二反射率。

8.根據權利要求7所述的記錄介質，其特征在于，

具有多個記錄層，

所述特性信息保持區域記錄與所述多個記錄層的每一個對應的所述特性信息。

9.一種再生裝置，是用于再生權利要求7所述的記錄介質的再生裝置，包括：

讀出機構，從所述特性信息保持區域讀出所述記錄介質的特性信息；和

判別機構，基于所述特性信息，判別所述記錄介質是具有所述第一特性的記錄介質、或者是具有所述第二特性的記錄介質。

10.一種信息處理方法，對記錄于記錄介質的規定信息進行處理，具備：

判別所述記錄介質的反射特性的特性判別步驟；和

按照判別出的所述反射特性，處理所述規定信息的處理步驟，

所述反射特性，是指由所述記錄介質的記錄完畢區域反射的光的反射率即第一反射率大于由所述記錄介質的未記錄區域反射的光的反射率即第二反射率的第一特性、和所述第一反射率小于所述第二反射率的第二特性中的一方。

11.一種信息處理程序，用于在對記錄于記錄介質的規定信息進行處理的信息處理裝置中執行信息處理，具備：

判別所述記錄介質的反射特性的特性判別步驟；和

根據判別出的所述反射特性，處理所述規定信息的處理步驟，

所述反射特性，是指由所述記錄介質的記錄完畢區域反射的光的反射率即第一反射率大于由所述記錄介質的未記錄區域反射的光的反射率即第二反射率的第一特性、和所述第一反射率小于所述第二反射率的第二特性中的一方。

12.一種記錄介質的制造方法，是信息被光學地再生的記錄介質的制造方法，具有：

用于形成信息被光學地再生的記錄層的步驟；和

在所述記錄層上形成特性信息保持區域的步驟，所述特性信息保持區域用于記錄表示所述記錄介質的特性的特性信息，

所述特性信息，是表示所述記錄介質是具有第一特性的記錄介質、或者所述記錄介質是具有第二特性的記錄介質的信息，所述第一特性為由所述記錄介質的記錄完畢區域反射的光的反射率即第一反射率大于由所述記錄介質的未記錄區域反射的光的反射率即第二反射率，所述第二特性為所述第一反射率小于所述第二反射率。