[發明專利]信息處理裝置、存取裝置、記錄介質、信息處理方法及信息處理程序

無效

• 申請號: 200910147032.3
• 申請日: 2005-10-14
• 公開（公告）號: CN101697279A
• 公開（公告）日: 2010-04-21
• 發明（設計）人: 宮下晴旬;南野順一;中島鍵
• 申請（專利權）人: 松下電器產業株式會社
• 主分類號: G11B7/004
• 分類號: G11B7/004;G11B19/02;G11B7/00;G11B7/007;G11B7/005;G11B7/24;G11B7/26
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 汪惠民

本申請是申請日為2005年10月14日、申請號為200580037136.9、發明名稱為“信息處理裝置、存取裝置、記錄介質、信息處理方法及信息處理程序”的分案申請。

技術領域

本發明涉及對記錄介質的特性信息進行判別處理的信息處理裝置、具備該信息處理裝置的存取(access)裝置、利用該存取裝置進行存取的記錄介質、和其信息處理方法及信息處理程序。

背景技術

近年來，進行著大容量的信息通信。其結果，與大容量的光盤相關的開發正在不斷發展。光盤例如包括CD(Compact?Disc)、LD(Laser?Disc)、DVD(Digital?Versatile?Disc)。

光盤中，在形成了表示信息的凹凸圖案(例如凹坑(dot)、凹槽(groove))的透明基板上形成有由金屬薄膜(例如鋁)構成的反射膜，通過檢測出光的反射大小(level)來進行信息的再生。

在記錄型光盤中，通過記錄膜的相變化形成反射率不同的特性圖案。由于光盤裝置只要讀取非晶質-結晶質的反射率變化即可，所以，能夠簡單地得到光盤裝置的光學系統的結構。

光盤裝置通過檢測出多個記錄部和多個未記錄部之間的反射大小，來再生基于相變化而被記錄的信息。因此，光盤中存在著具有下述兩種特性的光盤，所述兩種特性是指：由多個記錄部反射的光的反射率比由多個未記錄部反射的光的反射率大的特性(LtoH特性)、和由多個記錄部反射的光的反射率比由多個未記錄部反射的光的反射率小的特性(HtoL特性)。

圖7表示形成于光盤的多個記錄標記與光盤反射的光的反射大小的關系。圖7A表示在具有HtoL特性的光盤中形成的多個記錄標記和由具有HtoL特性的光盤反射的光的反射大小的關系。圖7B表示在具有LtoH特性的光盤中形成的多個記錄標記和由具有LtoH特性的光盤反射的光的反射大小的關系。

在具有HtoL特性的光盤(HtoL型光盤)中，形成有光的反射率為1％左右的非晶質部(記錄部：例如記錄標記)。HtoL型光盤的結晶部(未記錄部：例如間隙(space))其光的反射率為15～25％。在具有LtoH特性的光盤(LtoH型光盤)中，形成有光的反射率為20～30％的非晶質部(記錄部：例如記錄標記)。LtoH型光盤的結晶部(未記錄部：例如間隙)其光的反射率為3～10％(參照圖7B)。

由于在HtoL型光盤中未記錄部的反射率大，所以，聚焦與追蹤容易，但由于光的平均反射率大，所以噪聲比LtoH型光盤大。

在LtoH型光盤中，由于光的平均反射率小，所以噪聲比HtoL型光盤小，但由于未記錄部的反射率小，所以聚焦與追蹤困難。

在專利文獻1中記載了HtoL型光盤和LtoH型光盤相關的內容。

專利文獻1：特開2003-323744號公報

但是，由于光盤裝置無法判別插入到光盤裝置的光盤是HtoL型光盤還是LtoH型光盤，所以，在將LtoH型光盤插入到對應于HtoL型光盤的光盤裝置時、和將HtoL型光盤插入到對應于LtoH型光盤的光盤裝置時，會產生以下(1)～(4)所示的問題。

(1)由于HtoL型光盤和LtoH型光盤，其由記錄標記反射的反射光的極性以及由間隙反射的反射光的極性相反，所以，在HtoL型光盤和LtoH型光盤中，邊緣檢測、不對稱檢測或β值檢測中的檢測值的極性(正負)相反。

(2)無法恰當地檢測出光盤的缺陷部分(例如因附著于光盤的垃圾、污垢等而幾乎不反射光的部分)。

(3)無法在HtoL型光盤對應的調制度測定方法中，以LtoH型光盤為對象，適當地測定調制度。

(4)在將LtoH型光盤插入到與HtoL型光盤對應的裝置時，有時會超過裝置的LSI的動態范圍的上限。這是因為LtoH型光盤中光的反射大小比HtoL型光盤中光的反射大小大。

發明內容

本發明鑒于上述問題而提出，其目的在于，提供一種與記錄介質的反射特性(是HtoL型還是LtoH型的特性)無關，能夠恰當地處理記錄于記錄介質的信息的信息處理裝置、具備該信息處理裝置的存取裝置、通過該存取裝置而進行存取的記錄介質、和其信息處理方法以及信息處理程序。

本發明的信息處理裝置對記錄于記錄介質的規定信息進行處理，具備特性判別機構和處理機構。特性判別機構判別記錄介質的反射特性。處理機構根據判別后的反射特性處理規定信息。這里，反射特性是指由記錄介質的記錄完畢區域反射的光的反射率(下面稱作第一反射率)比由記錄介質的未記錄區域反射的光的反射率(下面稱作第二反射率)大的第一特性、和第一反射率小于第二反射率的第二特性中的一方。