[發明專利]分光測光用樹脂制池及其制造方法

無效

• 申請號: 200910146557.5
• 申請日: 2009-06-03
• 公開（公告）號: CN101598664A
• 公開（公告）日: 2009-12-09
• 發明（設計）人: 谷口伸一;高橋志宗;井上隆史;石澤宏明
• 申請（專利權）人: 株式會社日立高新技術
• 主分類號: G01N21/03
• 分類號: G01N21/03;G01N35/02;G01N33/50;G01N33/53
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司
• 代理人: 鐘 晶

1.一種分光測光用樹脂制池，其特征在于，該池的表面的至少一部分的區域由具有含氧官能團和、含仲氮官能團或含叔氮官能團的高分子鏈構成。

2.一種分光測光用樹脂制池，其特征在于，該池的表面的至少一部分的區域由具有含氧官能團且交聯了的高分子鏈構成。

3.根據權利要求2所述的分光測光用樹脂制池，其特征在于，所述高分子鏈通過含有仲氮或叔氮的交聯基團來交聯。

4.根據權利要求1所述的分光測光用樹脂制池，其特征在于，在由所述高分子鏈所構成的區域中，通過X射線光電分光光度法(XPS)測定所求得的氧/碳的原子數比和氮/碳的原子數比這兩個值都是0.01以上。

5.根據權利要求1所述的分光測光用樹脂制池，其特征在于，由所述高分子鏈構成的區域包括所述池的內側表面的分析光透過區域，并且，在該分析光透過區域中，通過X射線光電分光光度法(XPS)的測定所求得的氧/碳的原子數比和氮/碳的原子數比這兩個值，各自是比所述池的表面的分析光不透過區域的值大0.01以上的值。

6.根據權利要求1所述的分光測光用樹脂制池，其特征在于，所述含氧官能團包括從由羥基、醚基、羰基、羧基以及酯基組成的組中選擇的至少一種。

7.根據權利要求1所述的分光測光用樹脂制池，其特征在于，所述高分子鏈進一步具有含伯氮官能團。

8.根據權利要求1所述的分光測光用樹脂制池，其特征在于，所述池的母材是聚環烯烴。

9.根據權利要求1所述的分光測光用樹脂制池，其特征在于，由所述高分子鏈構成的區域相對于水的接觸角為85度以下。

10.一種分光測光用樹脂制池，其特征在于，其為具備底壁和從該底壁的周邊向上方豎立設置的側壁，且上端有開口的分光測光用樹脂制池，并且，

該側壁的相對的至少一對內側表面的從底壁側端至上端側的途中的區域和該底壁的內側表面由具有含氧官能團和、含仲氮官能團或含叔氮官能團的高分子鏈構成。

11.根據權利要求10所述的分光測光用樹脂制池，其特征在于，其是在利用自動分光測光裝置的測定中所使用的池。

12.根據權利要求10所述的分光測光用樹脂制池，其特征在于，在由所述高分子鏈所構成的區域中，通過X射線光電分光光度法(XPS)測定所求得的氧/碳的原子數比和氮/碳的原子數比這兩個值都是0.01以上。

13.根據權利要求10所述的分光測光用樹脂制池，其特征在于，所述高分子鏈中的含氧官能團包括從由羥基、醚基、羰基、羧基以及酯基組成的組中選擇的至少一種。

14.根據權利要求10所述的分光測光用樹脂制池，其特征在于，由所述高分子鏈構成的側壁內側表面的區域是分析光透過區域，并且，在該分析光透過區域中，通過X射線光電分光光度法(XPS)的測定所求得的氧/碳的原子數比和氮/碳的原子數比這兩個值，各自是比所述側壁的表面的分析光不透過區域的值大0.01以上的值。

15.根據權利要求10所述的分光測光用樹脂制池，其特征在于，由所述高分子鏈構成的區域相對于水的接觸角為85度以下。

16.根據權利要求10所述的分光測光用樹脂制池，其特征在于，所述池的母材是聚環烯烴。

17.一種多聯分光測光用樹脂制池，其特征在于，多個權利要求10～16中的任一項所述的分光測光用樹脂制池被連接。

18.一種分光測光用樹脂制池的制造方法，其為表面的至少一部分的區域被改性的分光測光用樹脂制池的制造方法，其具備：

1)分別在分光測光用樹脂制池的內部配置陽極，在外部配置陰極，使得該陽極和該陰極相對的工序；

2)用氮氣置換所述池的內部，使所述陽極和所述陰極之間產生電暈放電的工序；

3)所述電暈放電結束后，對所述池的內部供給含氧氣體，將所述池的內部暴露于含氧氣體的氛圍的工序。

19.根據權利要求18所述的方法，其特征在于，所述池是具備底壁和從該底壁的周邊向上方豎立設置的側壁，且上端有開口的分光測光用樹脂制池，并且，

所述工序(1)是如下工序：從該開口向該池的內部的位置插入所述陽極進行配置，同時，在介由該側壁的相對的至少一對的部分中的從底壁側端至上端側的途中的部分以及該底壁而與所述陽極相對的、所述池的外部的位置上配置所述陰極。