[發明專利]具有集成能量過濾器的帶電粒子源有效
| 申請號: | 200910145359.7 | 申請日: | 2009-05-26 |
| 公開(公告)號: | CN101593658A | 公開(公告)日: | 2009-12-02 |
| 發明(設計)人: | A·亨斯特拉 | 申請(專利權)人: | FEI公司 |
| 主分類號: | H01J37/04 | 分類號: | H01J37/04;H01J37/147 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 湯春龍;徐予紅 |
| 地址: | 美國俄*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 具有 集成 能量 過濾器 帶電 粒子 | ||
技術領域
本發明涉及用于產生帶電粒子束的帶電粒子源,包括: ·發射帶電粒子的帶電粒子發射表面; ·用于形成帶電粒子發射表面的圖像的透鏡,所述透鏡顯示有光 軸; ·用于限制束的限束光闌,其使用方式使得至少形成兩個束,穿 過透鏡中間的中央束和偏心地穿過透鏡的偏心束; ·用于將一個束偏轉向軸的偏轉器; ·能量選擇光闌,顯示有用于通過部分偏心束的能量選擇孔以及 用于通過中央束的中央孔,所述能量選擇光闌位于粒子發射表面和偏 轉器之間;以及 ·將偏心束對準能量選擇孔的第二偏轉器。 本發明還涉及配備這種帶電粒子源的粒子光學設備。
背景技術
從美國專利US?7,034,315中可了解到這種帶電粒子源。例 如,其中所述的帶電粒子束可用作電子顯微鏡如掃描電子顯微鏡 (SEM)或透射電子顯微鏡(TEM)中的電子源,或用作聚焦離子束(FIB) 設備中的離子源。
在使用帶電粒子源的設備中,束由粒子光學元件如透鏡和 偏轉器操縱。操縱該束以例如在樣本上形成焦點并在樣本上對其進行 掃描。
樣本上的這種焦點的大小至少部分由所謂的色差決定。粒 子光學儀器中的色差是由具有輕微不同的能量的束中的粒子導致的 那些像差。對于電子顯微鏡中使用的電子源,電子的能量分散通常約 在0.3至1eV之間,而對于FIB中使用的離子源,能量分散通常介 于1至10eV之間。特別在使用低束能量時,相對能量分散ΔE/E大 ,從而導致色差。
值得注意的是,色差可通過減小束直徑來減小,但這會導 致更低的束電流并且可增大所謂的衍射對點大小的影響。
還值得注意的是,已知在帶電粒子設備中樣本不是使用聚 焦束而是使用平行束照射。在這種情況中,色差也非常重要。
US?7034315中描述的帶電粒子源通過提供能量分散減少 的源為色差問題提供了一種解決方案。這通過過濾顯示有相對較小能 量分散的帶電粒子的部分并阻止其余粒子來實現。由于透鏡的能量色 散作用,偏心束將在能量選擇光闌上成像為能量色散線。其上對偏心 束成像的光闌中的能量選擇孔的寬度確定了穿過所述孔的能量選擇 束的能量分散。
已知的過濾器使用透鏡的離軸部分作為能量色散元件并 且在能量選擇光闌上形成粒子發射表面的圖像。透鏡的能量色散作用 以光闌中的狹縫的形式在小孔上形成色散線,讓部分能量色散圖像通 過并阻擋其余的。
這種能量過濾器的一個問題是至少兩個束離開槍模塊( gun?module):中央束和能量過濾束。通常這些中的一個集中在軸周 圍,而另一個偏離軸。這個偏離束可造成不需要的反射、污染等。
另一個問題是能量過濾束的帶電粒子與中央束中的粒子 交互作用。在此交互作用期間,能量過濾束的能量分散可能由于 Boersch效應和軌跡位移而增加。
發明內容
本發明旨在提供僅有一個束離開源模塊的帶電粒子源。
為此,根據本發明的粒子源的特征在于,當使用第二偏轉 器聚焦偏心束和并將其對準到能量選擇孔上時,第二偏轉器同時偏轉 中央束,偏轉程度使能量選擇光闌阻擋中央束。
在偏心束對準能量選擇孔上并穿過能量選擇光闌時,通過 稍微偏轉中央束使中央束被能量選擇光闌阻擋。中央束的偏轉優選由 第二偏轉器通過將偏心束對準能量選擇孔所需的相同偏轉動作來完 成。 這樣,中央束不會離開帶電粒子源。因此,中央束的粒子無法造 成不需要的反射、污染等。而且,由于兩個束不混合,消除了能量選 擇束和中央束的粒子之間的帶電粒子交互作用,如Boersch效應和軌 跡位移。
注意,優選是使得一次只有一個束離開帶電粒子束的方式 形成和使用帶電粒子源。
還要注意,限束光闌可置于透鏡和發射表面之間,由此形 成偏心束。然而,限束光闌可置于發射表面和第二偏轉器之間的任何 位置:即使在束置于透鏡和第二偏轉器之間時,偏心束由界定所述偏 心束的孔從照射透鏡的束中切除(excised),造成與進入透鏡前界 定偏心束時相似的作用。
還要注意,偏心束和中央束的偏轉可以是相同的,即在偏 心束偏轉時,中央束以相同角度偏轉,但也可能通過形成第二偏轉器 以使得中央束和偏心束的偏轉場在大小、范圍或方向上不同,而導致 兩個束的偏轉不同。
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