[發(fā)明專利]在半絕緣Ⅲ族氮化物中用于費(fèi)米能級(jí)控制的共摻雜有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200910138077.4 | 申請(qǐng)日: | 2004-09-28 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101556915A | 公開(公告)日: | 2009-10-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | A·W·薩克斯萊爾 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 克里公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/20 | 分類號(hào): | H01L21/20;H01L21/22 |
| 代理公司: | 中國(guó)專利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 王 岳;王小衡 |
| 地址: | 美國(guó)北卡*** | 國(guó)省代碼: | 美國(guó);US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 絕緣 氮化物 用于 費(fèi)米 能級(jí) 控制 摻雜 | ||
1.一種制造半絕緣III族氮化物半導(dǎo)體層的方法,包括:
利用具有濃度小于約1×1017cm-3的淺能級(jí)摻雜劑摻雜一III族氮化物層;和
利用深能級(jí)摻雜劑摻雜該III族氮化物層,其中深能級(jí)摻雜劑的濃度大于淺 能級(jí)摻雜劑的凈濃度,其中深能級(jí)摻雜劑包括深能級(jí)過渡金屬摻雜劑。
2.如權(quán)利要求1的方法,其中淺能級(jí)摻雜劑的濃度是凈濃度。
3.如權(quán)利要求1的方法,其中淺能級(jí)摻雜劑的濃度大于由在III族氮化物層 中的缺陷和不希望的雜質(zhì)引起的背景濃度。
4.如權(quán)利要求1的方法,其中淺能級(jí)摻雜劑包括n型摻雜劑。
5.如權(quán)利要求1的方法,其中深能級(jí)過渡金屬摻雜劑包括Fe、Co、Mn、 Cr、V和/或Ni。
6.如權(quán)利要求1的方法,其中深能級(jí)過渡金屬摻雜劑包括Fe。
7.如權(quán)利要求1的方法,進(jìn)一步包括選擇p型摻雜劑和n型摻雜劑的其中 一種作為淺能級(jí)摻雜劑,以分別使得深能級(jí)過渡金屬摻雜劑的類施主能級(jí)成為 深能級(jí)過渡金屬摻雜劑的主要能級(jí),或使得深能級(jí)過渡金屬摻雜劑的類受主能 級(jí)成為深能級(jí)過渡金屬摻雜劑的主要能級(jí)。
8.如權(quán)利要求1的方法,其中深能級(jí)過渡金屬摻雜劑的濃度至少是淺能級(jí) 摻雜劑濃度的大約三倍。
9.如權(quán)利要求1的方法,其中利用淺能級(jí)摻雜劑的摻雜和利用深能級(jí)過渡 金屬的摻雜在生長(zhǎng)工藝期間進(jìn)行。
10.如權(quán)利要求1的方法,進(jìn)一步包括利用化學(xué)氣相沉積生長(zhǎng)III族氮化物 層,其中在化學(xué)氣相沉積期間進(jìn)行利用淺能級(jí)摻雜劑的摻雜和利用深能級(jí)過渡 金屬的摻雜。
11.如權(quán)利要求1的方法,其中深能級(jí)過渡金屬摻雜劑的濃度大于2× 1017cm-3。
12.如權(quán)利要求1的方法,其中深能級(jí)過渡金屬摻雜劑的濃度是2× 1016cm-3。
13.一種半絕緣半導(dǎo)體材料層,包括包含一具有濃度小于1×1017cm-3的淺 能級(jí)摻雜劑和一深能級(jí)摻雜劑的III族氮化物層,其中深能級(jí)摻雜劑的濃度大于 淺能級(jí)摻雜劑的凈濃度,其中深能級(jí)摻雜劑包括深能級(jí)過渡金屬摻雜劑。
14.如權(quán)利要求13的半導(dǎo)體材料層,其中淺能級(jí)摻雜劑的濃度大于由在III 族氮化物層中的缺陷和不希望的雜質(zhì)引起的背景濃度。
15.如權(quán)利要求13的半導(dǎo)體材料層,其中淺能級(jí)摻雜劑包括n型摻雜劑。
16.如權(quán)利要求13的半導(dǎo)體材料層,其中淺能級(jí)摻雜劑的濃度是凈濃度。
17.如權(quán)利要求13的半導(dǎo)體材料層,其中深能級(jí)過渡金屬摻雜劑包括Fe、 Co、Mn、Cr、V和/或Ni。
18.如權(quán)利要求13的半導(dǎo)體材料層,其中深能級(jí)過渡金屬摻雜劑包括Fe。
19.如權(quán)利要求13的半導(dǎo)體材料層,其中淺能級(jí)摻雜劑包括n型摻雜劑, 且深能級(jí)過渡金屬摻雜劑的類受主能級(jí)是深能級(jí)過渡金屬摻雜劑的主要能級(jí)。
20.如權(quán)利要求13的半導(dǎo)體材料層,其中深能級(jí)過渡金屬摻雜劑的濃度至 少是淺能級(jí)摻雜劑濃度的大約三倍。
21.如權(quán)利要求13的半導(dǎo)體材料層,其中深能級(jí)過渡金屬摻雜劑的濃度大 于2×1017cm-3。
22.如權(quán)利要求13的半導(dǎo)體材料層,其中深能級(jí)過渡金屬摻雜劑的濃度是 2×1016cm-3。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





