[發明專利]邏輯測試機以及同時測量多個受測裝置的延遲時間的方法

有效

• 申請號: 200910134986.0
• 申請日: 2009-04-20
• 公開（公告）號: CN101865974A
• 公開（公告）日: 2010-10-20
• 發明（設計）人: 吳永裕;陳煌輝
• 申請（專利權）人: 普誠科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R31/3177
• 代理公司: 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277
• 代理人: 劉新宇;王璐

1.一種邏輯測試機，其特征在于，耦接至多個受測裝置，包括：

一函數產生器，產生一起始碼序列以輸入至所述受測裝置，以使所述受測裝置的多個輸出信號固定為一第一值，且產生一工作碼序列以輸入至所述受測裝置，以觸發所述受測裝置的所述輸出信號自該第一值轉變為一第二值；以及

一波形比較器，當該工作碼序列輸入完畢時轉換所述受測裝置的所述輸出信號為多個位流，分別計算所述位流中對應于該第一值的位數目，依據所述位數目分別估計所述受測裝置的延遲時間以及輸出所述受測裝置的所述延遲時間。

2.根據權利要求1所述的邏輯測試機，其特征在于，當該工作碼序列輸入完畢時，該函數產生器產生一觸發信號至該波形比較器以觸發該波形比較器對所述輸出信號至所述位流的轉換，以使該工作碼序列的結束時點與所述輸出信號的轉換的開始時點同步。

3.根據權利要求1所述的邏輯測試機，其特征在于，該波形比較器依據一時脈信號采樣所述受測裝置的所述輸出信號，而得到所述位流。

4.根據權利要求3所述的邏輯測試機，其特征在于，該波形比較器依據該時脈信號的周期及所述位數目計算所述受測裝置的延遲時間。

5.根據權利要求4所述的邏輯測試機，其特征在于，該波形比較器分別將所述位數目乘上該時脈信號的周期，以得到所述受測裝置的延遲時間。

6.根據權利要求1所述的邏輯測試機，其特征在于，該波形比較器比較所述受測裝置的所述輸出信號與一判斷電平值，并將比較的結果輸出為所述位流，其中該判斷電平值介于該第一值與該第二值之間。

7.根據權利要求3所述的邏輯測試機，其特征在于，該時脈信號的頻率是可調整的。

8.根據權利要求3所述的邏輯測試機，其特征在于，該時脈信號的方波占空比大于90％。

9.一種同時測量多個受測裝置的延遲時間的方法，其特征在于，包括下列步驟：

產生一起始碼序列以輸入至所述受測裝置，以使所述受測裝置的多個輸出信號固定為一第一值；

產生一工作碼序列以輸入至所述受測裝置，以觸發所述受測裝置的所述輸出信號自該第一值轉變為一第二值；

當該工作碼序列輸入完畢時，轉換所述受測裝置的所述輸出信號為多個位流；

分別計算所述位流中對應于該第一值的位數目；以及

依據所述位數目分別估計所述受測裝置的延遲時間。

10.根據權利要求9所述的同時測量多個受測裝置的延遲時間的方法，其特征在于，更包括當該工作碼序列輸入完畢時，產生一觸發信號以觸發所述輸出信號至所述位流的轉換，以使該工作碼序列的結束時點與所述輸出信號的轉換的開始時點同步。

11.根據權利要求9所述的同時測量多個受測裝置的延遲時間的方法，其特征在于，所述輸出信號至所述位流的轉換包括：依據一時脈信號采樣所述受測裝置的所述輸出信號，而得到所述位流。

12.根據權利要求11所述的同時測量多個受測裝置的延遲時間的方法，其特征在于，所述受測裝置的延遲時間的估計包括：將所述位數目乘上該時脈信號的周期，以得到所述受測裝置的延遲時間。

13.根據權利要求9所述的同時測量多個受測裝置的延遲時間的方法，其特征在于，所述輸出信號至所述位流的轉換包括：

比較所述受測裝置的所述輸出信號與一判斷電平值；以及

將比較的結果輸出為所述位流；

其中該判斷電平值介于該第一值與該第二值之間。

14.根據權利要求11所述的同時測量多個受測裝置的延遲時間的方法，其特征在于，該時脈信號的頻率是可調整的。

15.根據權利要求11所述的同時測量多個受測裝置的延遲時間的方法，其特征在于，該時脈信號的方波占空比大于90％。

16.一種邏輯測試機，其特征在于，耦接至多個受測裝置，依據一時脈信號采樣所述受測裝置的多個輸出信號以得到多個位流，分別計算所述位流中對應于一第一值的位數目，依據該時脈信號的周期及所述位數目估計所述受測裝置的延遲時間以及輸出所述受測裝置的所述延遲時間。