[發(fā)明專利]外觀檢查系統(tǒng)無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200910134040.4 | 申請(qǐng)日: | 2009-04-08 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101858873A | 公開(公告)日: | 2010-10-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 小田切章;戶田好實(shí);長(zhǎng)野勝一;增田良太 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 日商鷹野株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | G01N21/956 | 分類號(hào): | G01N21/956;B65G49/06 |
| 代理公司: | 中國(guó)國(guó)際貿(mào)易促進(jìn)委員會(huì)專利商標(biāo)事務(wù)所 11038 | 代理人: | 王永剛 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 外觀 檢查 系統(tǒng) | ||
1.一種外觀檢查系統(tǒng),利用攝像部拍攝被檢查物的外觀,并通過圖像處理檢查有無缺陷部位,其特征在于,具備:編碼器圖案顯示部,具有在上述被檢查物上顯示、并且至少顯示與上述被檢查物的搬送方向(Y坐標(biāo)方向)上的Y坐標(biāo)位置對(duì)應(yīng)的編碼器圖案的Y坐標(biāo)圖案部;以及檢查裝置,具有從在檢測(cè)缺陷部位時(shí)利用上述攝像部拍攝該編碼器圖案顯示部而得到的圖案信號(hào)中檢測(cè)與上述缺陷部位的位置對(duì)應(yīng)的至少上述Y坐標(biāo)位置的檢測(cè)處理部。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的外觀檢查系統(tǒng),其特征在于,在上述被檢查物中使用包括一個(gè)或兩個(gè)以上的顯示器用平板的面板基板,在該面板基板的空白部位顯示上述編碼器圖案顯示部。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的外觀檢查系統(tǒng),其特征在于,在上述編碼器圖案顯示部中,除了上述Y坐標(biāo)圖案部以外,還具有顯示與相對(duì)上述Y坐標(biāo)方向成為垂直的X坐標(biāo)方向上的X坐標(biāo)位置對(duì)應(yīng)的編碼器圖案的X坐標(biāo)圖案部。
4.根據(jù)權(quán)利要求1、2或3所述的外觀檢查系統(tǒng),其特征在于,上述編碼器圖案顯示部使用能夠通過遞增方式依次檢測(cè)的多個(gè)圖案要素。
5.根據(jù)權(quán)利要求1、2或3所述的外觀檢查系統(tǒng),其特征在于,上述編碼器圖案顯示部使用能夠通過絕對(duì)方式檢測(cè)、并且分別附加了絕對(duì)坐標(biāo)的多個(gè)圖案要素。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的外觀檢查系統(tǒng),其特征在于,在上述攝像部中,使用一個(gè)或兩個(gè)以上的線傳感器照相機(jī)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的外觀檢查系統(tǒng),其特征在于,通過在上述線傳感器照相機(jī)中使用線CCD而將上述攝像部的分辨率設(shè)定為5μm以上。
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- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





