[發明專利]集成電路的仿真測試方法有效
| 申請號： | 200910109891.3 | 申請日： | 2009-11-27 |
| 公開（公告）號： | CN101719170A | 公開（公告）日： | 2010-06-02 |
| 發明（設計）人： | 黎嘉勇;田浦延;李達 | 申請（專利權）人： | 深圳國微技術有限公司 |
| 主分類號： | G06F17/50 | 分類號： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 深圳市康弘知識產權代理有限公司 44247 | 代理人： | 胡朝陽;孫潔敏 |
| 地址： | 518057 廣東省深圳市南山*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 集成電路 仿真 測試 方法 | ||
1.一種集成電路仿真測試方法，其特征在于，包括步驟：
讀入集成電路的網表，根據寄存器、鎖存器、RAM、ROM各自的數據生成對應的列 表文件，由列表文件按verilog硬件描述語言生成保存現場數據任務和恢復現場數據任務；
在不同仿真時間點時調用保存現場數據任務，對所指定的不同仿真時間點的仿真現場 數據進行保存；
產生多個相互獨立的仿真線程，每個仿真線程均啟動仿真軟件，調用恢復現場數據任 務將每個仿真軟件所對應的仿真集成電路初始化為在不同仿真時間點時保存的仿真現場 數據，并啟動各個仿真線程進行仿真驗證；所述保存仿真現場數據的步驟包括：
先停止集成電路中所有的時鐘信號，并保存各時鐘信號的狀態；
然后分別保存各個寄存器、鎖存器、RAM和ROM的當前數據；
所述調用恢復現場數據任務將集成電路初始化的步驟包括：
停止集成電路中所有的時鐘信號；
以保存的仿真現場數據恢復各個寄存器、鎖存器、RAM和ROM的狀態值；
恢復集成電路中所有時鐘信號。
2.根據權利要求1所述集成電路仿真測試方法，其特征在于，寄存器、鎖存器、RAM 和ROM的仿真現場數據分別保存在不同的文件中。
3.根據權利要求1所述集成電路仿真測試方法，其特征在于，寄存器、鎖存器、RAM 和ROM的仿真現場數據均保存在一個文件中。
4.根據權利要求1所述集成電路仿真測試方法，其特征在于，寄存器、鎖存器、RAM 和ROM的仿真現場數據以二進制格式保存在文件中。
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