[發明專利]LED封裝模塊及其制備方法無效
| 申請號: | 200910108735.5 | 申請日: | 2009-07-10 |
| 公開(公告)號: | CN101691910A | 公開(公告)日: | 2010-04-07 |
| 發明(設計)人: | 李金明 | 申請(專利權)人: | 東莞市萬豐納米材料有限公司 |
| 主分類號: | F21S2/00 | 分類號: | F21S2/00;F21V19/00;F21V7/22;F21V29/00;F21V9/10;H01L23/373;H01L25/075;H01L33/00;F21Y101/02 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 523000 廣*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | led 封裝 模塊 及其 制備 方法 | ||
1.一種LED封裝模塊,包括基板和LED芯片,其特征在于:該基板具有固晶面和布線面,所述固晶面與所述布線面平行設置,所述固晶面之高度底于所述布線面,所述固晶面與所述布線面之間設有反射過渡面;所述LED芯片設置于所述固晶面,所述固晶面與所述LED芯片之間還具有一熱沉層,所述熱沉層的材料為AuSn合金,其中Au的含量為1%-10%,Sn的含量為90%-99%,所述熱沉層的厚度為0.001mm-0.05mm。
2.根據權利要求1所述的LED封裝模塊,其特征在于:所述AuSn合金的組分為,Au含量為4%-9%,Sn的含量為91%-96%,所述熱沉層的厚度為0.005mm-0.02mm。
3.根據權利要求1所述的LED封裝模塊,其特征在于:以AgSn合金代替AuSn合金,且Ag的含量為1%-25%,Sn的含量為75%-99%?。
4.根據前述任意一項權利要求所述的LED封裝模塊,其特征在于:所述LED芯片表面還設置一熒光層。
5.根據權利要求1所述的LED封裝模塊,其特征在于:所述布線面設置于所述基板的頂面,所述反射過渡面有二個,二個反射過渡面分別設置在所述固晶面的二側,所述固晶面與所述反射過渡面組成一長條狀的溝槽。
6.根據權利要求5所述的LED封裝模塊,其特征在于:所述二個反射過渡面均為平面,對稱地設置于所述固晶面的二側。
7.根據權利要求1所述的LED封裝模塊,其特征在于:所述AuSn合金的組分為,Au含量為6%,Sn的含量為94%,所述熱沉層的厚度為0.01mm;所述LED芯片表面還設置一熒光層;所述布線面設置于所述基板的頂面,所述反射過渡面有二個,二個反射過渡面分別設置在所述固晶面的二側,所述固晶面與所述反射過渡面組成一長條狀的溝槽;所述二個反射過渡面均為平面,對稱地設置于所述固晶面的二側。
8.根據權利要求1所述的LED封裝模塊,其特征在于:以AgSn合金代替AuSn合金,且Ag的含量為9%,Sn的含量為91%;所述熱沉層的厚度為0.01mm;所述LED芯片表面還設置一熒光層;所述布線面設置于所述基板的頂面,所述反射過渡面有二個,二個反射過渡面分別設置在所述固晶面的二側,所述固晶面與所述反射過渡面組成一長條狀的溝槽;所述二個反射過渡面均為平面,對稱地設置于所述固晶面的二側。
9.一種LED封裝模塊的制備方法,用于權利要求1所述的LED封裝模塊的制作,該方法包括固晶工序,其特征在于,該固晶工序包括以下步驟:
(1)設置熱沉層,
(2)放置LED芯片,
(3)焊接,
(4)冷卻,
其中,
第(1)步所述的設置熱沉層采用真空濺射的方式;所述熱沉層的材料為AuSn合金,其中Au含量為4%-9%,Sn的含量為91%-96%,所述熱沉層的厚度為0.005mm-0.02mm;
第(2)步所述的放置LED芯片是將LED芯片置于熱沉層上;
第(3)步所述的焊接,是指將第(2)步制成的半成品過焊接爐,焊接爐的溫度為250°C-300°C;
第(4)步所述的冷卻是指常溫風冷卻。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于東莞市萬豐納米材料有限公司,未經東莞市萬豐納米材料有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200910108735.5/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:開關電源多頻率控制方法及其裝置
- 下一篇:電連接器端子及將錫球定位其上的方法





