[發(fā)明專利]肖特基二極管測試方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200910108301.5 | 申請日： | 2009-06-16 |
| 公開（公告）號： | CN101587163A | 公開（公告）日： | 2009-11-25 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 高燕輝;廖志強(qiáng);鄧詠梅 | 申請（專利權(quán)）人： | 深圳市晶導(dǎo)電子有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/26 | 分類號： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 | 代理人： | 何 平 |
| 地址： | 518101廣東省深圳市寶安區(qū)*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 肖特基 二極管 測試 方法 | ||
【權(quán)利要求書】：
1、一種肖特基二極管測試方法，包括：
向肖特基二極管施加大于40mA且小于250mA的電流；
向肖特基二極管施加反向電壓。
2、根據(jù)權(quán)利要求1所述的肖特基二極管測試方法，其特征在于：所述電流是90mA。
3、根據(jù)權(quán)利要求1所述的肖特基二極管測試方法，其特征在于：所述反向電壓是45V。
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