[發(fā)明專利]在氮?dú)庀氯诨嗑Ч柚苽鋼降T造單晶硅的方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200910099992.7 | 申請日: | 2009-06-24 |
| 公開(公告)號: | CN101597788A | 公開(公告)日: | 2009-12-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 余學(xué)功;楊德仁 | 申請(專利權(quán))人: | 浙江大學(xué) |
| 主分類號: | C30B11/00 | 分類號: | C30B11/00;C30B27/00;C30B29/06 |
| 代理公司: | 杭州天勤知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人: | 胡紅娟 |
| 地址: | 310027浙*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 氮?dú)?/a> 融化 多晶 制備 鑄造 單晶硅 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種在氮?dú)庀氯诨嗑Ч柚苽? 摻氮鑄造單晶硅的方法。
背景技術(shù)
能源和環(huán)境是當(dāng)今世界廣泛關(guān)注的兩大問題,太陽能作為一種可再生 的綠色能源自然成為人們開發(fā)和研究的焦點(diǎn)。自1954年美國貝爾實驗室 成功研制出第一塊單晶硅太陽能電池以來,經(jīng)過全球科技和產(chǎn)業(yè)界的不懈 努力,太陽能電池技術(shù)和產(chǎn)業(yè)得到了巨大發(fā)展。而太陽能電池的發(fā)展主要 是建立在半導(dǎo)體硅材料的基礎(chǔ)上的。
一般情況下,單晶硅的制備是利用直拉技術(shù)或區(qū)熔技術(shù)而獲得的,可 以用在電子工業(yè)和太陽能光伏工業(yè),它制備的太陽電池效率高,但是晶體 制備成本高、能耗高。
而利用定向鑄造技術(shù),可以制備鑄造多晶硅,能用在太陽能光伏行業(yè), 雖然成本相對比較低,但是由于它是多晶,不是單晶,所以其制備的太陽 能電池效率低,限制了其在太陽能電池的廣泛應(yīng)用。
此外,定向鑄造技術(shù)中制備得到的硅材料中位錯較多,因此機(jī)械強(qiáng)度 較低。而當(dāng)前影響太陽能電池廣泛使用的一個主要障礙是成本較高。太陽 能電池的成本主要在硅片,如減少每一片硅片的厚度,使得每一片硅片的 材料用量減少,可有效降低太陽能電池的成本。但是由于鑄造硅片的機(jī)械 強(qiáng)度低,一旦降低單一硅片的厚度,就會使硅片在加工、電池制備和電池 組裝成組件等過程中,容易發(fā)生損傷和破碎,硅片的破碎率增加,仍然導(dǎo) 致成本的增加。因此,現(xiàn)有的鑄造硅難以制成薄的硅片的缺陷,造成硅片 成本增加,也限制了其使用。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供了在氮?dú)庀氯诨嗑Ч柚苽鋼降T造單晶硅的方法,通過 通入氮?dú)馀c融硅反應(yīng)的方式摻入氮,制得氮濃度可控的摻氮鑄造單晶硅。
在氮?dú)庀氯诨嗑Ч柚苽鋼降T造單晶硅的方法,包括以下步驟:
(1)將無位錯的原料單晶硅塊鋪滿坩堝底部,再將多晶硅置于原料 單晶硅塊之上,并按目標(biāo)摻雜濃度計算的投料量加入電活性摻雜劑,裝爐;
其中,所述的電活性摻雜劑為硼、鎵或磷;所述的目標(biāo)摻雜濃度為本 發(fā)明要制備得到的目標(biāo)產(chǎn)物中電活性摻雜劑的濃度。本發(fā)明中,電活性摻 雜劑的目標(biāo)摻雜濃度為1×1015~1×1017/cm3。
所述的無位錯的原料單晶硅塊的厚度優(yōu)選為5~20mm。使用太薄的 原料單晶硅塊,對鑄造爐熱場的設(shè)計要求較高,同時鑄造單晶硅的實際生 長過程的控制要求太高;而使用太厚的原料單晶硅塊,將導(dǎo)致鑄造單晶硅 成本的增加。
(2)將爐室抽成真空后直接通入氮?dú)猓獨(dú)獾膲毫?~200Torr, 流量為1~200L/min;調(diào)整爐內(nèi)保溫罩的位置,使得電活性摻雜劑、多晶 硅和靠近多晶硅的部分原料單晶硅塊受熱;逐漸加熱到1400℃以上使得多 晶硅開始融化,并保持溫度在1400℃以上一段時間,使得電活性摻雜劑、 多晶硅和靠近多晶硅的部分原料單晶硅塊融化成液體以形成硅熔體,而坩 堝底部下部的部分原料單晶硅塊不融化。
由于要確保坩堝底部下部存在部分原料單晶硅塊不被融化以便作為 生長單晶硅的籽晶,優(yōu)選的技術(shù)方案中,未融化的部分原料單晶硅塊的厚 度至少為原料單晶硅塊總厚度的10%,即融化的部分原料單晶硅塊的厚度 不超過原料單晶硅塊總厚度的90%;同時,為了保證與原料單晶硅塊相接 觸的多晶硅全部完全融化,優(yōu)選的技術(shù)方案中,融化的部分原料單晶硅塊 的厚度至少為原料單晶硅塊總厚度的10%。因此,在優(yōu)選的技術(shù)方案中, 位于坩鍋底部的單晶硅原料中,置于上部的、靠近多晶硅的、厚度為原料 單晶硅塊總厚度的10%~90%的部分單晶硅原料融化。
本發(fā)明中優(yōu)選采用純度為99.999~99.9999%的氮?dú)猓杀WC不會因純 度過低引入雜質(zhì)影響產(chǎn)品質(zhì)量,又不至因使用過高純度的氮?dú)庠黾映杀尽?
本發(fā)明中,通過氮?dú)馀c融硅反應(yīng)的方式摻入氮,融硅中氮的濃度通過 控制氮?dú)馔ㄈ氲膲毫土髁縼碚{(diào)節(jié)。
(3)將氮?dú)鈸Q成高純氬氣,在高純氬氣下生長單晶硅:
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