[發(fā)明專利]聚合物本體溫度的檢測方法

無效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200910098015.5
• 申請(qǐng)日: 2009-04-23
• 公開（公告）號(hào): CN101561325A
• 公開（公告）日: 2009-10-21
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王靖岱;陳杰勛;陽永榮;歷偉;黃正梁;蔣斌波
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 浙江大學(xué)
• 主分類號(hào): G01K13/02
• 分類號(hào): G01K13/02;G01N21/65
• 代理公司: 杭州求是專利事務(wù)所有限公司
• 代理人: 張法高

1.一種聚合物本體溫度的檢測方法，其特征在于包括如下步驟：

1)檢測多個(gè)已知溫度下聚合物樣品的拉曼光譜，經(jīng)光譜預(yù)處理后，通過偏最小二乘法計(jì)算得到標(biāo)準(zhǔn)偏最小二乘成分和轉(zhuǎn)換矩陣W；

2)選取一個(gè)或多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)偏最小二乘成分通過一元或多元線性回歸建立聚合物本體溫度預(yù)測模型T＝a₁*S₁+a₂*S₂+...+b，其中：a₁，a₂，...，b為常數(shù)，S₁和S₂分別是第一項(xiàng)和第二項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)偏最小二乘成分；

3)檢測待測聚合物的拉曼光譜，經(jīng)光譜預(yù)處理后，與轉(zhuǎn)換矩陣W相乘得到待測偏最小二乘成分；

4)將待測偏最小二乘成分代入步驟2)聚合物本體溫度預(yù)測模型，得到聚合物本體溫度。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種聚合物本體溫度的檢測方法，其特征在于：所述的聚合物為聚乙烯或聚丙烯。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種聚合物本體溫度的檢測方法，其特征在于：所測的聚合物為聚乙烯時(shí)，拉曼光譜的分析范圍為800～1550cm^-1；所述的聚合物為聚丙烯時(shí)，拉曼光譜的分析范圍為50～1550cm^-1。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種聚合物本體溫度的檢測方法，其特征在于：所述的步驟1)和步驟3)中的光譜預(yù)處理包括標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)變換、多元散射校正或分段多元散射校正。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種聚合物本體溫度的檢測方法，其特征在于：所述的標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)變換公式為：

Xi,SNV=Xi,k-X‾iΣk=1m(Xi,k-X‾i)2m-1]]>

式中，X_i，k為原始拉曼光譜，為第i樣品光譜的平均值；k＝1，2，...，m，m為波長點(diǎn)數(shù)；i＝1，2，...，n，n為校正集樣品數(shù)。

6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種聚合物本體溫度的檢測方法，其特征在于：所述的多元散射校正步驟為：

3)計(jì)算預(yù)處理后的光譜X_i，MSC＝(X_i-lA_i)/B_i；

其中，X_i為原始拉曼光譜，為校正集樣品的平均光譜，X_i，MSC為預(yù)處理后的拉曼光譜，A和B為線性回歸系數(shù)，i＝1，2，...，n，n為校正集樣品數(shù)，l為1×m的單位向量，m為波長點(diǎn)數(shù)。

7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種聚合物本體溫度的檢測方法，其特征在于：所述的分段多元散射校正步驟為：

1)將原始拉曼光譜分為多個(gè)區(qū)域；

4)計(jì)算預(yù)處理后的每個(gè)區(qū)域光譜X′_i，j＝(X_i，j-lA_i，j)/B_i，j；

5)將各區(qū)域預(yù)處理后的光譜X′_i，j合并X′_i＝[X′_i，1X′_i，2…X′_i，j]；

其中，X_i，j為第j個(gè)區(qū)域原始拉曼光譜，為校正集樣品第j個(gè)區(qū)域的平均光譜，X′_i，j為預(yù)處理后的第j個(gè)區(qū)域的拉曼光譜，X′_i為預(yù)處理后的拉曼光譜，A_j和B_j為第j個(gè)區(qū)域的線性回歸系數(shù)，i＝1，2，...，n，n為校正集樣品數(shù)，j＝1，2，...，k，k為所分區(qū)域個(gè)數(shù)。