[發明專利]聚合物本體溫度的檢測方法

無效

• 申請號: 200910098015.5
• 申請日: 2009-04-23
• 公開（公告）號: CN101561325A
• 公開（公告）日: 2009-10-21
• 發明（設計）人: 王靖岱;陳杰勛;陽永榮;歷偉;黃正梁;蔣斌波
• 申請（專利權）人: 浙江大學
• 主分類號: G01K13/02
• 分類號: G01K13/02;G01N21/65
• 代理公司: 杭州求是專利事務所有限公司
• 代理人: 張法高

1.一種聚合物本體溫度的檢測方法，其特征在于包括如下步驟：

1)檢測多個已知溫度下聚合物樣品的拉曼光譜，經光譜預處理后，通過偏最小二乘法計算得到標準偏最小二乘成分和轉換矩陣W；

2)選取一個或多個標準偏最小二乘成分通過一元或多元線性回歸建立聚合物本體溫度預測模型T＝a₁*S₁+a₂*S₂+...+b，其中：a₁，a₂，...，b為常數，S₁和S₂分別是第一項和第二項標準偏最小二乘成分；

3)檢測待測聚合物的拉曼光譜，經光譜預處理后，與轉換矩陣W相乘得到待測偏最小二乘成分；

4)將待測偏最小二乘成分代入步驟2)聚合物本體溫度預測模型，得到聚合物本體溫度。

2.根據權利要求1所述的一種聚合物本體溫度的檢測方法，其特征在于：所述的聚合物為聚乙烯或聚丙烯。

3.根據權利要求2所述的一種聚合物本體溫度的檢測方法，其特征在于：所測的聚合物為聚乙烯時，拉曼光譜的分析范圍為800～1550cm^-1；所述的聚合物為聚丙烯時，拉曼光譜的分析范圍為50～1550cm^-1。

4.根據權利要求1所述的一種聚合物本體溫度的檢測方法，其特征在于：所述的步驟1)和步驟3)中的光譜預處理包括標準正態變換、多元散射校正或分段多元散射校正。

5.根據權利要求4所述的一種聚合物本體溫度的檢測方法，其特征在于：所述的標準正態變換公式為：

Xi,SNV=Xi,k-X‾iΣk=1m(Xi,k-X‾i)2m-1]]>

式中，X_i，k為原始拉曼光譜，為第i樣品光譜的平均值；k＝1，2，...，m，m為波長點數；i＝1，2，...，n，n為校正集樣品數。

6.根據權利要求4所述的一種聚合物本體溫度的檢測方法，其特征在于：所述的多元散射校正步驟為：

3)計算預處理后的光譜X_i，MSC＝(X_i-lA_i)/B_i；

其中，X_i為原始拉曼光譜，為校正集樣品的平均光譜，X_i，MSC為預處理后的拉曼光譜，A和B為線性回歸系數，i＝1，2，...，n，n為校正集樣品數，l為1×m的單位向量，m為波長點數。

7.根據權利要求4所述的一種聚合物本體溫度的檢測方法，其特征在于：所述的分段多元散射校正步驟為：

1)將原始拉曼光譜分為多個區域；

4)計算預處理后的每個區域光譜X′_i，j＝(X_i，j-lA_i，j)/B_i，j；

5)將各區域預處理后的光譜X′_i，j合并X′_i＝[X′_i，1X′_i，2…X′_i，j]；

其中，X_i，j為第j個區域原始拉曼光譜，為校正集樣品第j個區域的平均光譜，X′_i，j為預處理后的第j個區域的拉曼光譜，X′_i為預處理后的拉曼光譜，A_j和B_j為第j個區域的線性回歸系數，i＝1，2，...，n，n為校正集樣品數，j＝1，2，...，k，k為所分區域個數。