[發(fā)明專利]用于淺地層剖面儀的地層剖面聲探測方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200910097904.X
• 申請日: 2009-04-23
• 公開（公告）號: CN101545974A
• 公開（公告）日: 2009-09-30
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 施國全;王福林;韋俊霞;曹海林;鄭軍;范進(jìn)良;趙愛君;劉暢;李小英;劉強(qiáng)
• 申請（專利權(quán)）人: 杭州瑞聲海洋儀器有限公司
• 主分類號: G01S15/88
• 分類號: G01S15/88
• 代理公司: 杭州賽科專利代理事務(wù)所
• 代理人: 陳 輝

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種用于淺地層剖面儀等海洋儀器的地層剖面回波信號處理，特別是一種用于淺地層剖面儀的地層剖面聲探測方法

背景技術(shù)

在淺地層剖面儀的匹配濾波處理中，為了抑制旁瓣，對發(fā)射信號進(jìn)行加窗處理，常規(guī)的淺地層剖面儀通常采用Blackman-Harris窗或者Dolph-Chebyshev窗對發(fā)射信號進(jìn)行加窗處理。

上述方法具有如下缺點：

1、自相關(guān)輸出的旁瓣級較高，使地層分辨率降低；

2、加窗后造成發(fā)射信號的帶寬變窄；

3、在加窗的前、后，發(fā)射信號能量損失較大，在放大器輸出同樣功率的情況下，地層穿透深度有所降低。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的主要目的在于提供一種用于淺地層剖面儀的地層剖面聲探測方法，解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的發(fā)射信號能量損失較大，地層分辨相對模糊的缺點和不足。

本發(fā)明是通過以下技術(shù)方案實現(xiàn)。一種用于淺地層剖面儀的地層剖面聲探測方法，包括以下步驟：

一、淺地層剖面儀首先產(chǎn)生線性調(diào)頻發(fā)射信號

x(t)＝Re{exp[j2πt(f1+Kt/2)]}????????(1)

式中：x(t)為線性調(diào)頻發(fā)射信號；Re?Re{exp[j2πt(f1+Kt/2)]}為對其取實部；

f₁為調(diào)頻信號的起始頻率；則調(diào)頻斜率K為：K＝Δf/Δt

△f為調(diào)頻信號的頻帶寬度；

△t為調(diào)頻信號的時間長度；

在線性調(diào)頻發(fā)射信號x(t)中加入正弦平方1/8加窗函數(shù)w(t)，形成Chirp發(fā)射信號：

s(t)＝x(t)*w(t)；????(2)

正弦平方1/8加窗函數(shù)w(t)為：

w(t)=1N/8-1<t≤7N/8-1sin2(4tπ/N)0≤t≤N/8-1sin2(π/2-4(t-7N/8+1)π/N7N/8-1<t≤N-1---(3)]]>

式中，N為線性調(diào)頻發(fā)射信號的采樣點數(shù)；