[發明專利]用于淺地層剖面儀的地層剖面聲探測方法

無效

• 申請號: 200910097904.X
• 申請日: 2009-04-23
• 公開（公告）號: CN101545974A
• 公開（公告）日: 2009-09-30
• 發明（設計）人: 施國全;王福林;韋俊霞;曹海林;鄭軍;范進良;趙愛君;劉暢;李小英;劉強
• 申請（專利權）人: 杭州瑞聲海洋儀器有限公司
• 主分類號: G01S15/88
• 分類號: G01S15/88
• 代理公司: 杭州賽科專利代理事務所
• 代理人: 陳 輝

1、一種用于淺地層剖面儀的地層剖面聲探測方法，其特征在于，包括以下步驟：

一、淺地層剖面儀首先產生線性調頻發射信號x(t)：

x(t)＝Re{exp[j2πt(f1+Kt/2)]}?????(1)

式中：

x(t)為線性調頻發射信號；Re{exp[j2πt(f1+Kt/2)]}為對其取實部；

f1為調頻信號的起始頻率；則調頻斜率K為：K＝Δf/Δt

Δf為調頻信號的頻帶寬度；

Δt為調頻信號的時間長度；

在線性調頻發射信號x(t)中加入正弦平方1/8加窗函數w(t)，形成線性調頻發射信號s(t)：

s(t)＝x(t)*w(t)；????????????????(2)

式中，w(t)為加窗函數的時間序列，t＝0～N-1；

正弦平方1/8加窗函數w(t)為：

w(t)=1N/8-1<t≤7N/8-1sin2(4tπ/N)0≤t≤N/8-1sin2(π/2-4(t-7N/8+1)π/N7N/8-1<t≤N-1---(3)]]>

式中，N為線性調頻發射信號的采樣點數；

二、線性調頻發射信號s(t)經發射換能器向水體發射，接收水聽器接收地層返回的回波信號，然后對回波信號做相關處理，相關處理的結果輸出被顯示到顯示屏上，給出一串濃淡不一的反映地層界面特征的像素點；

其中，對回波信號進行相關處理時，對淺地層剖面儀進行頻率響應補償，測得淺地層剖面儀的頻率響應曲線，利用測得的頻率響應曲線對回波信號進行頻域補償，去除淺地層剖面儀的頻響干擾，提高信號的相關性。